[发明专利]具有冗余电路的存储器以及为存储器提供冗余电路的方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体设计领域，具体地说，本发明涉及一种具有冗余电路的存储器。

背景技术

现如今，半导体存储器件不断地朝着高集成度和高容量存储单元的方向发展。在存储器设计中，通常采用各种替换有故障的存储单元的方法来改善作为高集成度存储器件最重要指标之一的芯片成品率。

作为一种故障单元替换技术的冗余技术由备用存储单元和正常存储单元组成存储单元，以便当正常存储单元发现有故障时可用备用存储单元来替换有故障的存储单元。

也就是说，半导体存储器具有用于提高产品成品率的冗余电路。在存储单元阵列内存在缺陷存储单元的情况下，冗余电路具有将该缺陷存储单元替换为备用存储单元阵列内的冗余存储单元的功能。

现有技术中，一般的冗余电路采用以特定替换单位(例如一个扇区)将缺陷存储单元替换为冗余存储单元的方式。如图1所示，图1示出了现有技术的具有冗余电路的存储器的结构示意图。其中，存储器包括n+1个扇区SECTOR0至SECTORn、以及与这些扇区相对应的冗余电路，该冗余电路包括m+1个冗余单元RDN0至RDNm；这些扇区SECTOR0至SECTORn共用存储单元选择线路SL；这些冗余单元RDN0至RDNm共用冗余单元选择线路SL_RDN；并且，这些扇区SECTOR0至SECTORn以及这些冗余单元RDN0至RDNm共用位线BL。

这样，当某个扇区(例如扇区SECTOR0)中的某个存储单元存在缺陷时，该扇区将被冗余电路中的一个冗余单元整体替换，这就要求每个扇区的大小与每个冗余电路的大小是相等的。而实际上，往往一些没有缺陷的存储单元也被替换；因此，存储器现有技术中的冗余技术存在严重的浪费。

所以，希望能够提出一种能够消除所述浪费并提高冗余电路的利用率的有效的冗余技术。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种能够有效地减小冗余电路面积(进而减小整个存储器面积)并提高冗余电路的利用率的具有冗余电路的存储器、以及相应的为存储器提供冗余电路的方法。

根据本发明的第一方面，提供了一种具有冗余电路的存储器包括：多个扇区以及冗余电路，其中每个扇区包括第一数量的存储行阵列，其中所述冗余电路包括多个冗余单元，其中每个冗余单元包括第二数量的存储行阵列，并且所述第二数量小于所述第一数量。

通过提供尺寸小于扇区的冗余单元，有效地减小了冗余电路的面积以及存储器的面积，并提高了冗余电路的利用率。

在上述具有冗余电路的存储器中，所述第二数量等于2。

在上述具有冗余电路的存储器中，每个扇区被以第二数量的列数的存储阵列为单元划分成多个划分单元，当某个划分单元中存在缺陷时，则利用一个冗余单元替换该存在缺陷的划分单元。

在上述具有冗余电路的存储器中，存储器中的所有扇区和所有冗余单元共用位线。所述多个扇区共用扇区选择线路，所述多个冗余单元共用冗余单元选择线路。

根据本发明的第二方面，提供了一种为存储器提供冗余电路的方法，所述存储器包括多个扇区，其中每个扇区包括第一数量的存储行阵列，其中所述为存储器提供冗余电路的方法包括步骤：提供冗余电路，其中所述冗余电路包括多个冗余单元，其中每个冗余单元包括第二数量的存储行阵列，并且所述第二数量小于所述第一数量。

在上述为存储器提供冗余电路的方法中，所述第二数量等于2。

在上述为存储器提供冗余电路的方法中，所述为存储器提供冗余电路的方法包括步骤：以第二数量的列数的存储阵列为单元来每个扇区划分成多个划分单元，当某个划分单元中存在缺陷时，则利用一个冗余单元替换该存在缺陷的划分单元。

在上述为存储器提供冗余电路的方法中，存储器中的所有扇区和所有冗余单元共用位线。所述多个扇区共用扇区选择线路，所述多个冗余单元共用冗余单元选择线路。

附图说明

结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本发明有更完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：

图1示出了现有技术的具有冗余电路的存储器的结构示意图。

图2示出了本发明实施例的具有冗余电路的存储器的结构示意图。

图3示出了本发明实施例的具有冗余电路的存储器的芯片布局示图。

需要说明的是，附图用于说明本发明，而非限制本发明。

具体实施方式

为了使本发明的内容更加清楚和易懂，下面结合具体实施例和附图对本发明的内容进行详细描述。