[发明专利]一种带有成角度侧壁的静电卡盘无效
| 申请号: | 201080053942.6 | 申请日: | 2010-11-22 |
| 公开(公告)号: | CN102666917A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
| 发明(设计)人: | 拉金德尔·德辛德萨;普拉蒂克·曼克迪;克里斯·金柏 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
| 主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;C23C16/458;H01L21/48;C23F4/04 |
| 代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 有成 角度 侧壁 静电 卡盘 | ||
1.一种基板支承组件,其用来在等离子体处理室内支承基板,该等离子体处理室被配置用来蚀刻基板,所述基板支承组件包括:
上部基板支承组件表面,其被设置成在等离子体处理过程中用来支承基板,使得所述基板向上部基板支承组件表面的外部边缘之外延伸,和
成角度侧壁,其从所述上部基板支承组件表面的所述外部边缘向外和向下延伸,所述成角度侧壁被配置成具有与围绕所述基板支承组件的边缘环的上表面基本共面的外部边缘,所述边缘环的上表面面对所述基板的边缘部分的下表面,
其中,所述成角度的侧壁在等离子体处理过程中积聚副产物沉积物。
2.根据权利要求1所述的基板支承组件,其中在所述成角度侧壁和所述上部基板支承组件表面之间的锐角是在35度到75度之间。
3.根据权利要求1所述的基板支承组件,其中在所述成角度侧壁与所述上部基板支承组件表面之间的锐角是在45度到60度之间。
4.根据权利要求1所述的基板支承组件,其中所述成角度侧壁的宽度在0.005至0.04英寸之间。
5.根据权利要求1所述的基板支承组件,其中所述成角度侧壁的宽度在0.01至0.03英寸之间。
6.根据权利要求1所述的基板支承组件,进一步包括:
嵌入电极,其被配置成通过静电夹持所述基板;
在上部基板支承组件表面的至少一个沟槽、台面、孔或者凹形区域,该沟槽、台面、孔或者凹形区域与氦气源流体联通,并且被配置成在等离子体处理过程中影响所述上部基板支承组件表面与所述基板之间的热传递。
7.根据权利要求1所述的基板支承组件,其中所述基板支承组件被配置成使得悬挂于所述基板支承组件上的所述基板的边缘部分的宽度为1mm至3mm。
8.在等离子体处理室内的下部电极装置,其被配置为在等离子体处理过程中支承基板,所述下部电极装置包括如权利要求1所述的基板支承组件和围绕所述基板支承组件的边缘环,其中:
所述基板的边缘部分悬挂于所述基板支承组件的上面,并位于所述边缘环的上表面的上面;
所述边缘环的所述上表面与所述基板支承组件的所述成角度侧壁的外部边缘基本上共面。
9.一种移除如权利要求1所述的基板支承组件的成角度侧壁上的副产物沉积物的方法,该方法包括:
在所述基板支承组件上没有基板时,在所述基板支承组件上产生等离子体;
用所述等离子体撞击所述副产物沉积物。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





