[发明专利]使用一组硅纳米颗粒流体以原位控制一组掺杂剂扩散分布的方法无效
申请号: | 201080052640.7 | 申请日: | 2010-11-23 |
公开(公告)号: | CN102668101A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | E·罗戈吉纳;D·泊普拉维斯基;M·克尔曼;D·克赖;G·斯卡尔德拉;M·伯罗斯 | 申请(专利权)人: | 英诺瓦莱特公司 |
主分类号: | H01L31/00 | 分类号: | H01L31/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 朱黎明 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 一组 纳米 颗粒 流体 原位 控制 掺杂 扩散 分布 方法 | ||
1.形成多掺杂结的方法,包括:
(A)提供第一基板和第二基板;
(B)将第一油墨沉积在所述第一基板和所述第二基板中的每一个的第一表面上,所述第一油墨包含第一组纳米颗粒和第一组溶剂,所述第一组纳米颗粒包含第一浓度的第一掺杂剂;
(C)将第二油墨沉积在所述第一基板和所述第二基板中的每一个的第二表面上,所述第二油墨包含第二组纳米颗粒和第二组溶剂,所述第二组纳米颗粒包含第二浓度的第二掺杂剂;
(D)将所述第一基板和所述第二基板以背对背构型放置;
(E)在第一驱入环境中将所述第一基板和所述第二基板加热至第一温度并持续第一时间段;
(F)将所述背对背构型的第一基板和第二基板暴露于沉积环境并持续第二时间段,所述沉积环境包含POCl3、N2载气、主要N2气体和反应性O2气体;以及
(G)在第二驱入环境中将所述第一基板和所述第二基板加热至第三温度并持续第三时间段。
2.权利要求1的方法,其中所述第一温度介于约900℃和约1050℃之间,并且所述第一时间段介于约1分钟至约60分钟之间;
3.权利要求1的方法,其中在介于约700℃和约1000℃之间的第二温度下,所述N2载气与所述反应性O2气体的比率介于约1:1至约1.5:1之间,并且所述第二时间段为约5分钟至约35分钟。
4.权利要求1的方法,其中所述第三温度介于约800℃和约1100℃之间。
5.权利要求1的方法,其中如果所述第一掺杂剂为硼,则所述第一浓度介于约5原子%和约15原子%之间,并且如果所述第一掺杂剂为磷,则所述第一浓度介于约1.4原子%和约5.6原子%之间。
6.权利要求1的方法,其中如果所述第二掺杂剂为硼,则所述第二浓度介于约5原子%和约15原子%之间,并且如果所述第二掺杂剂为磷,则所述第二浓度介于约1.4原子%和约5.6原子%之间。
7.权利要求1的方法,还包括以下步骤:
在将所述第一油墨沉积在所述第一表面上之后,在第一烘培环境中将所述第一基板和所述第二基板加热至介于约200℃和约800℃之间的第四温度并持续介于约3分钟和约20分钟之间的第四时间段,其中所述第一烘焙环境为惰性环境和氧化环境中的一者。
8.权利要求1的方法,还包括以下步骤:
在将所述第二油墨沉积在所述第二表面上之后,在第二烘培环境中将所述第一基板和所述第二基板加热至介于约200℃和约800℃之间的第五温度并持续介于约3分钟和约20分钟之间的第五时间段,其中所述第二烘焙环境为惰性环境和氧化环境中的一者。
9.权利要求1的方法,还包括以下步骤:在将所述第一基板和所述第二基板以背对背构型放置之前,在湿化学浴中清洗所述第一基板和所述第二基板。
10.权利要求9的方法,其中所述湿化学浴包括氢氟酸(HF),缓冲氧化物蚀刻液(BOE),过氧化氢与硫酸的混合物,过氧化氢、氢氧化铵与水的混合物中的至少一者。
11.权利要求1的方法,其中所述第一温度介于约975℃和约1025℃之间,并且所述第一时间段介于约1分钟和约40分钟之间。
12.权利要求1的方法,其中所述第一温度为约1000℃,并且所述第一时间段为约30分钟。
13.权利要求1的方法,其中所述第二温度介于约725℃和约825℃之间,并且所述第二时间段介于约10分钟和约35分钟之间。
14.权利要求1的方法,其中所述第二温度介于约750℃和约850℃之间,并且所述第二时间段介于约10分钟和约30分钟之间。
15.权利要求1的方法,其中所述第二温度为约800℃,并且所述第二时间段为约20分钟。
16.权利要求1的方法,其中所述第三温度介于约875℃和约1000℃之间。
17.权利要求1的方法,其中所述第三温度介于约850℃和约1050℃之间。
18.权利要求1的方法,其中所述第三温度为约900℃。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英诺瓦莱特公司,未经英诺瓦莱特公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080052640.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的