[发明专利]光信息记录介质用记录层、光信息记录介质及溅射靶

权利要求书

1.一种光信息记录介质用记录层，其特征在于，是通过激光的照射进行记录的光信息记录介质用记录层，其中，

含有氧化物相对于1mol氧的标准生成自由能的绝对值比Pd及Ag大的X金属的氧化物、氧化Pd及氧化Ag，相对于记录层中所含的X金属原子、Pd原子及Ag原子的合计量，Pd原子的比率为10～60原子％，Ag原子的比率为5～45原子％，且Pd原子和Ag原子的合计量的比率为75原子％以下。

2.根据权利要求1所述的光信息记录介质用记录层，其特征在于，

所述X金属是从由In、Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、Cu及Al构成的群中选择的1种以上的元素。

3.根据权利要求2所述的光信息记录介质用记录层，其特征在于，

所述X金属是In。

4.根据权利要求1所述的光信息记录介质用记录层，其特征在于，

在照射激光的部分生成气泡，发生体积变化而进行记录。

5.一种光信息记录介质，其特征在于，

具备权利要求1～4中任一项所述的记录层。

6.根据权利要求5所述的光信息记录介质，其特征在于，

具备与所述记录层邻接而形成的电介质层。

7.一种溅射靶，其特征在于，是权利要求1～4中任一项所述的光信息记录介质用记录层形成用的溅射靶，其中，

相对于溅射靶中所含的X金属原子、Pd原子及Ag原子的合计量，Pd原子的比率为10～60原子％，Ag原子的比率为5～45原子％，且Pd原子和Ag原子的合计量的比率为75原子％以下。

8.根据权利要求7所述的溅射靶，其特征在于，

所述X金属是从由In、Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、Cu及Al构成的群中选择的1种以上的元素。

9.根据权利要求8所述的溅射靶，其特征在于，

所述X金属是In。