[发明专利]Cu膜的成膜方法及存储介质无效
申请号: | 201080011548.6 | 申请日: | 2010-02-04 |
公开(公告)号: | CN102348831A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 小岛康彦;桧皮贤治 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/18 | 分类号: | C23C16/18;H01L21/285 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cu 方法 存储 介质 | ||
1.一种Cu膜的成膜方法,其包含以下工序:
在处理容器内收纳基板的工序;
以气相状态将含1价脒基铜的成膜原料和含羧酸的还原剂导入至所述处理容器内的工序;
使所述成膜原料与所述还原剂在基板上反应而使Cu膜沉积在基板上的工序。
2.根据权利要求1所述的Cu膜的成膜方法,其中,所述成膜原料所含的1价脒基铜为N,N′-二仲丁基乙脒基Cu(I)。
3.根据权利要求1所述的Cu膜的成膜方法,其中,构成所述还原剂的羧酸为甲酸。
4.根据权利要求1所述的Cu膜的成膜方法,其中,构成所述还原剂的羧酸为乙酸。
5.根据权利要求1所述的Cu膜的成膜方法,使成膜时的基板温度为200℃以下。
6.根据权利要求1所述的Cu膜的成膜方法,其将含1价脒基铜的成膜原料和含羧酸的还原剂同时供至所述处理容器内。
7.根据权利要求1所述的Cu膜的成膜方法,隔着吹扫气体的供给,交替地向所述处理容器内供给含1价脒基铜的成膜原料和含羧酸的还原剂。
8.一种存储介质,其为在计算机上运行、存储有用于控制成膜装置的程序的存储介质,所述程序在执行时进行包含以下工序的Cu膜的成膜方法:在处理容器内收纳基板的工序;以气相状态将含1价脒基铜的成膜原料和含羧酸的还原剂导入至所述处理容器内的工序;使所述成膜原料与所述还原剂在基板上反应而使Cu膜沉积在基板上的工序。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的