[发明专利]一种外延结构的GaN基材料发光二极管及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201010622204.0 申请日: 2010-12-27
公开(公告)号: CN102544288A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 王立彬;李志翔 申请(专利权)人: 同方光电科技有限公司
主分类号: H01L33/20 分类号: H01L33/20;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 外延 结构 gan 基材 发光二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种外延结构的GaN基材料发光二极管,它包括蓝宝石衬底(1)以及依次置于蓝宝石衬底(1)上方的N-GaN层(5)、多量子阱层(6)、P-GaN层(7)和ITO薄膜(8),ITO薄膜(8)和N-GaN层(5)上分别置有金属电极Cr/Pt/Au层(15),其特征在于,所述蓝宝石衬底(1)的上表面边沿露出一圈衬底平面(16)。

2.根据权利要求1所述的GaN基材料的发光二极管,其特征在于,所述衬底平面(16)为图形化衬底或者平衬底。

3.一种外延结构的GaN基材料发光二极管的制备方法,它包括如下步骤:

1)在蓝宝石衬底(1)上沉积一层SiO2薄膜(2);

2)在SiO2薄膜(2)上面的两侧涂光刻胶并显影形成掩蔽层一(3);

3)腐蚀掉露出的SiO2,露出蓝宝石衬底(1)中间部分的顶面(4),去除光刻胶;

4)放入金属有机物气相沉积MOCVD设备中,在顶面(4)上外延出LED结构,其中从下至上依次为N-GaN层(5)、多量子阱层(6)和P-GaN层(7),并退火;

5)湿法腐蚀掉SiO2,用电子束蒸发E-beam方法蒸发形成ITO薄膜(8);

6)在ITO薄膜(8)顶面涂光刻胶并显影形成掩蔽层二(9);

7)湿法腐蚀出ITO图形,露出P-6aN层(7)的表面(10);

8)用ICP设备刻蚀出N-GaN层(5)一侧的台面(11),去除光刻胶;

9)重新涂光刻胶并显影形成掩蔽层三(12);

10)湿法腐蚀ITO薄膜(8),去除光刻胶,并在N2气氛中进行退火;

11)在表面生长SiO2薄膜(13),在SiO2薄膜(13)上涂光刻胶显影形成掩蔽层四(14);

12)湿法腐蚀掉露出的SiO2薄膜(13);

13)去除光刻胶,电子束蒸发方法分步蒸发金属电极Cr/Pt/Au层(15),并剥离出金属电极Cr/Pt/Au层(15);在N2气氛中进行退火的合金化处理,形成发光二极管。

4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述生长SiO2薄膜(13)可以是SiOx,SiNx或其他介质。

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