[发明专利]半导体装置及电子设备有效
申请号: | 201010286279.6 | 申请日: | 2010-09-06 |
公开(公告)号: | CN102024410A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 小山润;梅崎敦司 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 电子设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种半导体装置及其驱动方法。本发明尤其涉及一种具有形成在与像素部同一衬底上的驱动电路的半导体装置、显示装置、液晶显示装置、发光装置或其驱动方法。或者,本发明涉及一种具有该半导体装置、该显示装置、该液晶显示装置或该发光装置的电子设备。
背景技术
近年来,对液晶电视等的大型显示装置积极地进行开发。尤其是由于使用具有非单晶半导体的晶体管在与像素部同一衬底上形成栅极驱动电路等的驱动电路的技术极有助于制造成本的降低、可靠性的提高等,所以对该技术积极地进行开发(例如,专利文献1)。
[专利文献1]日本专利申请公开2004-78172号公报
然而,如专利文献1所记载那样,对移位寄存电路输入的时钟信号的振幅电压在将移位寄存电路用于扫描线驱动电路时以与被输出到扫描线的栅极信号(也称为扫描信号、选择信号)相同的振幅工作。在实现驱动电路的低功耗化的观点来看,被要求使时钟信号的振幅电压抑制得低。
发明内容
鉴于上述问题,本发明的一个方式的目的是降低驱动电路的驱动电压且实现驱动电路的低功耗化。
本发明的一个方式是一种半导体装置,包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管。第一晶体管的第一端子电连接于第一布线,第一晶体管的第二端子电连接于第二布线。第二晶体管的第一端子电连接于第三布线,第二晶体管的第二端子电连接于第二布线。第三晶体管的第一端子电连接于第一布线,第三晶体管的第二端子电连接于第一晶体管的栅极,第三晶体管的栅极电连接于第四布线。第四晶体管的第一端子电连接于第三布线,第四晶体管的第二端子电连接于第一晶体管的栅极,第四晶体管的栅极电连接于第二晶体管的栅极。第五晶体管的第一端子电连接于第五布线,第五晶体管的第二端子电连接于第二晶体管的栅极,第五晶体管的栅极电连接于第六布线。第六晶体管的第一端子电连接于第三布线,第六晶体管的第二端子电连接于第二晶体管的栅极,第六晶体管的栅极电连接于第四布线。
本发明的一个方式也可以是一种半导体装置,其中对第四布线输入第一信号,从第二布线输出第二信号,第二信号的振幅电压大于第一信号的振幅电压。
本发明的一个方式也可以是一种半导体装置,其中第一信号是数字信号,第二信号是数字信号,在第一信号是H电平时,第二信号是H电平,而在第一信号是L电平时,第二信号是L电平。
本发明的一个方式也可以是一种半导体装置,其中第四布线与移位寄存电路电连接。
另外,在附图中,为便于清楚地说明有时对大小、层的厚度或区域进行夸张的描述。因此,不一定局限于这些尺度。
另外,在附图中,示意性地示出理想例子,形状或数值等并不局限于附图所示。例如,可以包括制造技术所引起的形状不均匀、误差所引起的形状不均匀、杂波所引起的信号、电压或电流的不均匀或者定时(timing)偏差所引起的信号、电压或电流的不均匀等。
另外,在很多情况下,术语用来描述特定的实施方式等,但是本发明的一个方式不应被解释为受限于术语的解释。
另外,没有被定义的术语(包括专门用语或学术用语等科技术语)可以表示与普通的本领域技术人员所理解的一般意思相同的意思。由词典等定义的词句优选被解释为不与有关技术的背景产生矛盾的意思。
本发明的一个方式可以降低驱动电路的驱动电压且实现低功耗化。
附图说明
图1是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图2是说明实施方式1中的半导体装置的工作的图的一个例子;
图3A和3B是说明实施方式1中的半导体装置的工作的示意图的一个例子;
图4A和4B是说明实施方式1中的半导体装置的工作的示意图的一个例子;
图5A和5B是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图6A和6B是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图7A和7B是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图8A和8B是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图9A和9B是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图10A和10B是实施方式1中的半导体装置的电路图的一个例子;
图11是实施方式2中的半导体装置的电路图的一个例子;
图12是说明实施方式2中的半导体装置的工作的时序图的一个例子;
图13A至13C是说明实施方式2中的半导体装置的工作的时序图的一个例子;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010286279.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。