[发明专利]旋转涡电流探伤探头有效
| 申请号： | 201010192557.1 | 申请日： | 2010-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN101893602A | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 日比野俊;藤本贵司;行方重树;小松庆亮;中尾喜之;高田真;阪本诚 | 申请（专利权）人： | 码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 黄依文 |
| 地址： | 日本国东京都太*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 旋转 电流 探伤 探头 | ||
1.一种旋转涡电流探伤探头，其对被检查体的瑕疵进行探伤，其特征在于，
包括：
旋转圆盘(111)；以及
4个Θ型的涡电流探伤探头(P11、P21、P12、P22)，在所述旋转圆盘(111)的圆周方向上以大约相等的间隔安装在所述旋转圆盘(111)的旋转中心(Ds1)的周围，
以夹着旋转中心(Ds1)位于两侧的2个涡电流探伤探头作为1组涡电流探伤探头，所述4个涡电流探伤探头(P11、P21、P12、P22)由2组这样的涡电流探伤探头构成，
所述4个涡电流探伤探头(P11、P21、P12、P22)包括：
对所述被检查体激发电流的励磁线圈(Ec11、Ec21、Ec12、Ec22)；
以及对所述被检查体被激发的电流进行检测的检测线圈(Dc11、Dc21、Dc12、Dc22)，
所述励磁线圈(Ec11、Ec21、Ec12、Ec22)的线圈面与所述旋转圆盘的旋转面平行，
所述检测线圈(Dc11、Dc21、Dc12、Dc22)的线圈面与所述旋转圆盘的旋转面垂直，
所述检测线圈(Dc11、Dc21、Dc12、Dc22)的线圈面互相平行，并且相对于通过所述2组涡电流探伤探头中的一组的2个涡电流探伤探头的各自的中心的直线(Y1)倾斜规定的角度(θ)，
所述一组的涡电流探伤探头的2个检测线圈(Dc11、Dc12)和动连接，另一组的涡电流探伤探头的2个检测线圈(Dc21、Dc22)差动连接。
2.如权利要求1所述的旋转涡电流探伤探头，其特征在于，
所述规定的角度(θ)是15～60度。
3.如权利要求1或者2所述的旋转涡电流探伤探头，其特征在于，
所述一组的涡电流探伤探头的各自的中心(Ps11、Ps12)至所述旋转圆盘的旋转中心(Ds1)的距离(W1)与所述另一组的涡电流探伤探头的各自的中心(Ps21、Ps22)至所述旋转圆盘的旋转中心(Ds1)的距离(W2)的比值(W1∶W2)为1∶1～1∶3。
4.如权利要求3所述的旋转涡电流探伤探头，其特征在于，
在所述被检查体的检查面具有曲率的情况下，所述比值(W1∶W2)是1∶1.75。
5.如权利要求1至4中的任意一项所述的旋转涡电流探伤探头，其特征在于，
所述规定的角度(θ)是45度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社，未经码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010192557.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：图像形成装置以及转印辊偏压系统
- 下一篇：面发光装置
