[发明专利]贯通电极的形成方法与半导体基板有效

专利信息
申请号: 201010128069.4 申请日: 2010-03-05
公开(公告)号: CN101826473A 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: 曾我部智浩;土门孝彰;井之口大辅;高木干夫;远池健一 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/485
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 贯通 电极 形成 方法 半导体
【权利要求书】:

1.一种贯通电极的形成方法,该方法包括:

非贯通孔形成工序,其中,在半导体基板的规定位置,形成 在上述半导体基板的外面具有开口的第1非贯通孔、在上述第1 非贯通孔的底部具有小于上述第1非贯通孔的开口的第2非贯通 孔,由此形成2节状的非贯通孔;

种子层形成工序,其中,在上述2节状的非贯通孔的内面上 形成绝缘层,并且在上述绝缘层上形成提高与固体金属的紧密粘 接性的种子层;

固体金属设置工序,其中,呈没有进入上述第2非贯通孔中 的形状的固体金属设置于上述第1非贯通孔上;

固体金属软化工序,其中,在减压气氛中对上述固体金属加 热,将上述固体金属软化或熔融,通过上述已软化或熔融的金属, 充满上述第1非贯通孔内的至少一部分,将上述第2非贯通孔的 开口封闭;

金属填充工序,其中,通过使上述半导体基板为加压气氛, 将上述已软化或熔融的金属填充于上述第2非贯通孔中;

去除工序,其中,去除上述半导体基板中的针对厚度方向, 上述第1和第2非贯通孔不存在的部分。

2.根据权利要求1所述的贯通电极的形成方法,其中,在上述 去除工序,上述半导体基板中的针对厚度方向,上述第1非贯通 孔存在的部分也针对上述厚度方向在规定长度的范围实现去除。

3.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述绝缘层为SiO2,上述种子层为Cu、Al或Sn,或 者为含有这些金属的合金。

4.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述固体金属为铝。

5.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述固体金属为铜或焊锡合金。

6.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述固体金属为直径小于上述第1非贯通孔,大于上 述第2非贯通孔的呈球体的金属颗粒。

7.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述第1非贯通孔呈朝向上述半导体基板的开口侧直 径增加的圆锥状。

8.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述非贯通孔形成工序为在晶圆状态的上述半导体基 板上形成多个2节状的非贯通孔的工序;

上述固体金属设置工序包括散布工序,其中,在晶圆状态的 上述半导体基板上,散布多个上述固体金属,将其放置于上述第1 非贯通孔的底部;回收工序,其中,回收未放置于上述第1非贯 通孔的底部的上述固体金属。

9.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成方 法,其中,上述非贯通孔形成工序为在晶圆状态的上述半导体基 板上形成多个上述2节状的非贯通孔的工序;

上述固体金属设置工序将固体金属连接体按照各固体金属位 于上述2节状的非贯通孔中的方式设置于晶圆状态的上述半导体 基板上,上述固体金属连接体为按照多个上述2节状的非贯通孔 的形成间隔以相同的间隔隔开的多个上述固体金属连接而成。

10.根据权利要求1或2中的任何一项所述的贯通电极的形成 方法,其中,上述非贯通孔形成工序为在晶圆状态的上述半导体 基板上形成多个上述2节状的非贯通孔的工序;

上述固体金属设置工序采用具有多个固体金属设置孔的盘, 该多个固体金属设置孔以与多个上述2节状的非贯通孔的形成间 隔相同的间隔隔开的方式形成,在各固体金属设置孔中保持上述 固体金属,将上述盘重合于晶圆状态的上述半导体基板上,将多 个上述固体金属分别转移到上述2节状的非贯通孔中。

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