[发明专利]一种利用GPS RTK实现不可到达点二维定位技术

说明书

一、技术领域

本发明涉及一种利用GPS RTK实现不可到达点的二维定位技术。

二、技术背景

到目前为止，在不可到达区域或点的测定时，主要是全站仪无棱镜测法，根据经验估测 法等方法，但在外业实际测量操作过程中，以上的各种方法均存在着其缺点：

①全站仪无棱镜测法，对于测量点于全站仪之间的距离有要求，对于测量点的表面及质 地有要求，受外界条件干扰很大；

②根据经验估测时，往往误差较大且没法校正，给我们科学决策带来极大不利；

因此，采用全站仪无棱镜测法，根据经验估测法等方法进行不可到达点测定时，不可避 免地带来很多麻烦且效率低下。因此，怎样在不影响测定精度的情况下，减少工作量，缩短 外业工作时间，提高工作自动化水平成为本领域科技人员急待解决的问题。

三、发明的内容

为了克服现有方法不可到达区域或点的测定中不可避免的很多麻烦，提高工作效率，本 发明的目的是提供一种利用线方程交会判定不可到达区域或点的二维坐标，它克服了现有方 法存在的上述缺点。

本发明的目的是这样实现的：以GPS RTK为工具采集和记录点的三维空间坐标，具体步 骤如下：

首先，在不可到达目标点O点周围可到达的区域内布设控制点A点，B点，C点， D点，E点，F点，分别使得控制点A点，B点与目标点O点三点在一直线上，控 制点C点，D点与目标点O点三点在一直线上。控制点E点，F点与目标点O点三 点在一直线上，然后分别用GPS，RTK采集和记录控制点A(X_A，Y_A)、B(X_B，Y_B)，C (X_c，Y_c)、D(X_d，Y_d)，E(X_E，Y_E)、F(X_F，Y_F)点的二维坐标；

其次分别根据控制点A(X_A，Y_A)、B(X_B，Y_B)建立直线AB的线性方程①y₁＝a₁x₁+b₁， 根据控制点C(X_c，Y_c)、D(X_d，Y_d)建立直线CD的线性方程②y₂＝a₂x₂+b₂，

再次，由数学模型①y₁＝a₁x₁+b₁和数学模型②y₂＝a₂x₂+b₂联立求解得直线 AB和直线CD的交点O点的坐标O(X_O，Y_O)

最后，根据控制点E(X_E，Y_E)、F(X_F，Y_F)建立直线EF的线性方程③y₃＝a₃x₃+b₃， 检验直线AB和直线CD的交点就是不可到达点O点。

本项发明与现有方法相比具有以下优点：

(1)通过在可到达区域内布设控制点，安置仪器测量就可实现不可到达点的二维坐标 表达，

(2)GPS RTK进行不可到达点二维定位的方法不受地形地物形状，质地，以及相距的 距离长短的限制，并且快捷、方便；

(3)GPS RTK携带方便，且在各种复杂地形条件下都可以使用，节约时间，减少了工 作量，提高了工作效率；

四、附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1不可到达点二维坐标测定示意图。

五、具体实施方式：