[发明专利]一种有机电致发光器件及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种有机电致发光器件(Organic Light EmittingDevice，以下称OLED)及其测试方法，尤其涉及OLED的引线设计。 

背景技术

OLED是一种利用载流子在电场作用下由阳极、阴极进入有机功能层复合而发光的现象而制成的平板显示器件。OLED具有全固态、自发光、高对比度、超薄、可实现柔软显示等特点。 

目前的电子器件在出厂前都要经过测试、老炼的环节，对器件性能进行测试。对应不同的芯片邦定技术，在测试老炼阶段会出现不同的问题。采用COG(Chip on glass)方式进行屏体与芯片邦定，参照图1-1及图1-2，OLED包括基板103、发光区102，其中发光区102由位于基板103上的阳极1002、有机功能层1003、阴极1004形成。发光区102的左右两侧及下部边缘设置了引线区101、引线区101的下部边缘设置邦定区104。奇数行引线101[1]由发光区102左侧引出；偶数行引线101[2]由发光区102右侧引出；左列引线101[3]和右列引线101[4]由发光区102下方引出。行引线及列引线分别引出后，彼此绝缘地会聚于邦定区104，在基板的一侧进行邦定，即单边邦定。 

为了图示清晰，并未画出所有的行、列引线。因COG产品屏体 引线间隙太小，过窄的空间只能用更窄的导电胶条，以至于导电胶条与引线压接时：(1)导电胶条容易偏位而导致屏体短路；(2)导电胶条的寿命缩短；(3)引线折断。当引线间的间隙小于测试、老炼工装能做到的最小对位精度时，无法用全屏点亮(short bar)方式点亮屏体，无法做屏体的测试与老炼，产品的不良只有在与驱动芯片绑定后才能被发现。目前无法对此类产品做屏体测试与老炼，很难保证高成品率。 

OLED的引线是采用光刻工艺制备的，重要的工艺条件有刻蚀温度、速度、时间和刻蚀液浓度等，任何工艺参数掌握不好，都可能会造成过刻蚀。如果没有引线延长区，则引线的末端与驱动芯片进行邦定。过刻蚀的引线短于邦定所需的长度，这些过刻蚀的引线就无法与相应的芯片管脚接触或接触不良，从而导致发光区相应的行或列无法点亮。如图2-1所示，左列引线201、右列引线202出现了过刻蚀，其长度短于邦定所需长度，无法与芯片管脚接触。如果将邦定位置上移，如图2-2所示，使左列引线201、右列引线202能正常邦定，但这样一来，芯片管脚就会到达左列引线203、右列引线204的弯曲位置，左列引线203、右列引线204无法与相应的芯片管脚正常连接。 

发明内容

本发明提供一种能进行测试并保证测试效果的OLED的引线设计。 

本发明的目的是通过以下技术方案实现的： 

有机电致发光器件包括发光区、引线区、邦定区，发光区包括阳 极、有机功能层、阴极；引线区由使阳极和阴极与驱动芯片或电路板连接的引线构成；邦定区为引线与驱动芯片或电路板连接的区域；还包括引线延长区，引线的末端位于引线延长区，引线延长区的引线与引线区的引线形成的角度大于0°且小于90°。 

引线延长区的引线与引线区的引线形成的角度大于20°且小于80°，优选为30°、45°、60°或75°。 

引线采用单边邦定时，分为奇数行引线、偶数行引线、左列引线和右列引线，列引线位于中部，奇数行引线及偶数行引线分居列引线的两侧。左列引线和右列引线朝相互背离的方向延伸时，奇数行引线和偶数行引线可以朝相对的方向延伸，也可以朝相互背离的方向延伸，且所有行、列引线都不相交。同样，左列引线和右列引线朝相对的方向延伸时，奇数行引线和偶数行引线也可以朝相对或相互背离的方向延伸，且所有行、列引线都不相交。并且，这些奇数行引线、偶数行引线、左列引线和右列引线的延长部分的角度可以不相同。 

引线延长区的引线可以少于引线区的引线。即：引线延长区的引线与竖直方向呈一定角度延伸时，为了保证所有的行、列引线都不相交，可以有部分引线的末端位于邦定区，而不延伸至引线延长区。 

引线延长区的引线长度优选为0.1mm～0.5mm。 

本发明的另一目的是提供一种OLED的测试方法。 

本发明的目的是通过以下技术方案实现的： 

一种对上述有机电致发光显示器件进行测试的方法，测试步骤包括：(1)将待点亮行引线短路，将待点亮列引线短路；(2)使步骤(1) 短路的行或列引线得到点亮电压；(3)根据测试情况给出测试结果。