[发明专利]光学跟踪设备中的抓起高度调整有效
申请号: | 200980135830.2 | 申请日: | 2009-09-03 |
公开(公告)号: | CN102144204A | 公开(公告)日: | 2011-08-03 |
发明(设计)人: | M·T·德普;D·M·莱恩;S·E·克莱恩;B·L·黑斯廷斯;D·D·伯恩 | 申请(专利权)人: | 微软公司 |
主分类号: | G06F3/033 | 分类号: | G06F3/033 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈斌 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 跟踪 设备 中的 抓起 高度 调整 | ||
1.一种抓起高度调整系统(100),包括:
用于将入射光发射在跟踪表面上的光源组件(102)和用于接收来自所述跟踪表面的光以跟踪设备相对于所述跟踪表面的移动的感光组件;以及
用于响应于所述设备被抓离所述跟踪表面而减少所述感光组件所感测到的光的量的模糊元件(112)。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,响应于所述设备被抓起,所述模糊元件被置于所述入射光的路径中,以减少到达所述跟踪表面的入射光的量。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述模糊元件包括底座光圈、底座部件、衍射光学照明透镜、或具有全内反射几何结构的照明透镜中的至少一个。
4.如权利要求1所述的系统,其特征在于,响应于所述设备被抓起,所述模糊元件被置于反射光的路径中,以减少反射到达感光组件的反射光的量。
5.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述模糊元件包括光圈,穿过该光圈将所述入射光施加到所述跟踪表面并且穿过该光圈从所述跟踪表面接收所述反射光,该光圈被机械地构造成遮挡反射到所述感光组件的反射光。
6.如权利要求5所述的系统,其特征在于,所述光圈包括随着距所述跟踪表面的距离的增大而越来越多地遮挡所述感光组件的图像传感器上的反射光的边缘。
7.如权利要求5所述的系统,其特征在于,所述光圈可调整来改变对所述感光组件的图像传感器上的反射光的遮挡。
8.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述模糊元件随着所述设备距所述跟踪表面的距离增大而越来越多地遮挡反射光,并且在所述距离达到抓起高度阈值时所述感光组件禁用跟踪模式。
9.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括用于调整被用来计算抓起高度阈值的相关参数并且展示可经由软件界面定制的抓起高度参数的固件。
10.一种管理抓起高度的方法,包括:
在跟踪模式期间基于进入图像传感器的反射光来跟踪设备相对于跟踪表面的移动(900);以及
将被自动地解释为禁用所述跟踪模式的抓起高度的阴影施加到图像传感器(902)。
11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,还包括使用在所述设备的底部形成的光圈来遮挡反射光的一部分以创建所述阴影,入射光和反射光都穿过所述光圈,所述光圈包括在所述设备被抬离所述跟踪表面并达到所述抓起高度时遮挡反射光的所述一部分的阻挡构件。
12.如权利要求10所述的方法,其特征在于,还包括使用在所述设备的底部形成的可调整光圈来遮挡反射光的一部分以创建所述阴影,入射光和反射光都穿过所述光圈,所述可调整光圈与一组阻挡构件相关联,每一阻挡构件具有不同的阻挡大小,以使在所述设备被抬离所述跟踪表面时在该构件被切入到所述光圈中的情况下以相应不同的量来部分地遮挡反射光。
13.如权利要求10所述的方法,其特征在于,还包括:
将跟踪表面图像的变化与所述阴影进行相关;以及
在所述相关失败时禁用所述设备的跟踪模式。
14.如权利要求10所述的方法,其特征在于,还包括经由便于操纵影响所述抓起高度的算法参数的用户界面展示所述设备的算法设置。
15.如权利要求10所述的方法,其特征在于,还包括机械地容许所述设备当在所述跟踪表面上时保持跟踪并且当离开所述跟踪表面预定距离时禁用所述跟踪,所述设备是光学鼠标。
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