[实用新型]一种用于模拟训练虚像显示系统的视距及离散角的检测装置无效
申请号: | 200920092982.6 | 申请日: | 2009-02-11 |
公开(公告)号: | CN201359493Y | 公开(公告)日: | 2009-12-09 |
发明(设计)人: | 倪政国;李晓强;林以军;宋慧营 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军空军航空大学 |
主分类号: | G01C3/04 | 分类号: | G01C3/04;G01C3/06;G01B11/26 |
代理公司: | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 | 代理人: | 陈宏伟 |
地址: | 130022吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 模拟 训练 虚像 显示 系统 视距 离散 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型公开一种模拟训练虚像显示系统视距和离散角的检测装置,是针对飞行模拟训练虚像显示系统需要按照人眼观察物体方法进行显示系统视距和离散角检测,属于光学测试设备领域。
背景技术
根据目前飞行模拟训练视景虚像显示设备研制的需要,要求发明一种模仿人眼观察物体进行视距判断原理的虚像显示系统测试装置。这是因为飞行模拟训练虚像显示设备不能采用常规的实体尺检测,激光测距也无法完成虚像距离检测,由于采用小光束离轴成像方式,必须按照人眼观察图像的方式进行显示系统视距和离散角检测才能满足飞行模拟训练视景虚像显示的检测需要。目前国内无该类型的产品。
发明内容
本实用新型公开一种模拟训练虚像显示系统视距和离散角检测的装置,解决了虚像显示系统检测的问题,该设备体积小,使用方便,检测准确。
本实用新型的具体解决方案如下:
由激光器、光学组合机构、A/D转换及数据处理单片机组成,光学组合机构包括望远物镜组、棱镜组、分光镜、二维硅光电位移传感器和目镜组依次放置并由机械结构形成整体,实际光学主轴连接成为一条直线,并与半导体激光器轴线平行设置;激光器发射检测和指向激光线射向虚像显示系统需要检测的方位,光学组合机构的望远物镜组接收激光器的反射光线,将该反射光线成像在像面上,通过棱镜组的多次反射后,光线再经过分光镜分成二束光线;一束光线通过目镜组成像在观察区;另一束光线进入二维硅光电位移传感器,二维硅光电位移传感器将电位变化信号经A/D转换输给单片机处理并显示数据。
上述的光学组合机构中的棱镜组由两块一次反射直角棱镜和一块多次反射棱镜组合而成;分光镜由一块半透半反析光的直角棱镜与同尺寸的另一块直角棱镜胶合构成。
半导体激光器发射的激光光束经过虚像显示系统形成散射反射光线,光学组合机构的望远物镜组接收激光射线的反射光线,将该反射光线成像在像面上,通过棱镜组的多次反射后,减小光程和体积,光线再经过分光镜分成二束光线。一束光线通过目镜组成像在观察区;另一束光线进入二维硅光电位移传感器。二维光电位移传感器是一种检测光点位置的传感器芯片,当光点落入传感器界面上时,形成与光学中心位置的偏移距离,引起硅半导体空穴迁移速度的变化,造成两端电位变化,而完成光点位移置检测;为了提高检测精度,二维硅光电位移传感器连接A/D转换及单片机及电源系统,将二维光电位移传感器两端电位变化通过计算转变成数值在数据显示装置上显示出来,数值代表传感器界面上光点与光学中心位置的偏移距离,计算这个距离可以推算出该点的视距和离散角。在检测过程中,由于外界光线干扰造成的歧义点和显示系统光路造成光点的畸变(如尖型和椭圆型信号畸变),需要删除和修正,外界干扰造成的歧义点通过多个光点信息的比较(如大小、强度)排除;尖型和椭圆型畸变通过数据比较排除尖型突起,椭圆型畸变通过计算二维的数据轮廓找到中心点解决。通过棱镜和目镜实现目标照准和校验。
人眼观察物体进行视距判断的原理:当双目观察物点A时,两眼的视轴对准物点A,两视轴之间的夹角称为视差角,两眼节点的连线称为视觉基线。物体远近不同,视差角不同。若两物点和观察者的距离不同,它们在两眼中所形成的像与黄斑中心有不同的距离,即不同距离的物体对应不同的视差角。
本实用新型的积极性所在:公开了一种模仿人眼观察物体进行视距判断的原理进行模拟训练虚像显示系统视距和离散角检测的装置,能够进行大视场虚像显示系统的视距和离散角的量化测量,检测准确。采用棱型镜组等结构,使设备体积小,使用方便,便于携带。解决了模拟训练虚像显示系统检测的问题,模仿人眼观察物体进行视距判断的原理,能够完成大视场虚像显示系统的视距和离散角的量化测量。
附图说明
图1为本实用新型装置结构原理图;
1、半导体激光器;2、望远物镜组;3、棱镜组;4、分光镜;5、二维硅光电位移传感器;6、目镜组;7、观察区;8——A/D转换;9、单片机;
图2为本实用新型检测光路原理图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军空军航空大学,未经中国人民解放军空军航空大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920092982.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于连续采煤机的采高仪
- 下一篇:室内恒温系统
- 同类专利
- 专利分类