[发明专利]用于随机存取存储器的可编程自检测

说明书

技术领域

本发明所公开的内容大体涉及集成电路领域，更具体地，涉及一种用于检 测集成电路的一个存储器或多个存储器的可编程内建自检测结构和相应的检 测方法。

背景技术

集成电路(IC)技术得到了不断的改进，包括按比例缩小器件的几何形状 以实现较低的制造成本、较高的器件集成密度、较高的速度和更好的性能。这 些改进为IC提供了最佳质量。典型地，在制造之后检测IC，以确保IC展现 出所需质量。检测通常包括为被检测的IC施加一个激励源，获得并分析IC器 件的响应，且将器件的响应与已知的、所需的响应作对比。在IC的存储器的 检测中，一种方法包括可编程内建自检测(BIST)电路。常规的可编程BIST 制造在IC上且采用单独的从属嵌入式存储器(例如，只读存储器)，用于编程 一套检测指令。但是，当检测复杂的存储器器件时，从属嵌入式存储器需要大 的指令集，其导致比所期望的更大的面积开销。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种面积有效的可编程BIST结构，以提供多 重复杂的自检测程序。根据本发明，提供了一种系统，该系统有效地提供适于 复杂嵌入式存储器的大的检测指令集，同时提供减小的面积开销。在一个实施 例中，一种用于检测集成电路的存储器的系统包括一组寄存器，该组寄存器提 供基于用于多个检测的可编程要素，其中各个检测包括多个检测要素；一个用 于从所述寄存器组接收多个检测指令的有限状态机，其中该有限状态机分配信 号来指示一个检测模式发生器以产生一个检测模式；一个存储器控制模块，用 于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从存储器 接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。

在一些实施例中，寄存器组包括用于定义多个检测要素的多个检测要素控 制寄存器。在一些实施例中，多个检测要素控制寄存器包括用于控制写功能的 至少一位以及用于控制读功能的至少一位。在一些实施例中，多个检测要素控 制寄存器包括用于启动重复功能的至少一个可编程位。在一些实施例中，多个 检测要素控制寄存器包括用于启动刷新功能的至少一个可编程位。

在一些实施例中，寄存器组包括一个检测要素重复计数寄存器，其对定义 了一个检测要素的至少一个检测要素控制寄存器指定了该检测要素被重复的 次数。在一些实施例中，寄存器组包括用于为多个检测要素控制寄存器定义检 测设置的至少一个检测模式寄存器。在一些实施例中，至少一个检测模式寄存 器包括通过列地址来控制数据模式触发的至少一位、通过行地址来控制数据模 式触发的至少一位以及用于控制数据模式触发来生成字线图案的至少一位。在 一些实施例中，至少一个检测模式寄存器包括用于启动错误触发模式的至少一 个可编程位。

在一些实施例中，寄存器组包括一个刷新时间寄存器，其定义了用于插入 一个刷新的至少一个时间。在一些实施例中，寄存器组包括一个组开始寄存器 和一个组终止寄存器，其中组开始寄存器定义了用于一个检测的存储器的一个 开始组，且组终止寄存器定义了用于一个检测的存储器的一个终止组。在一些 实施例中，组开始寄存器和组终止寄存器提供了检测分立存储器组和存储器组 的不同组群的能力。在一些实施例中，寄存器组包括一个检测循环寄存器，其 选择重复一个检测直至接收一个终止命令。

在一些实施例中，多个检测包括零-一、棋盘、MATS、MATS+、MATS++、 进程X、进程C、进程C-、进程Y、MOVI和干扰。在一些实施例中，多个检 测的至少一个包括一个暂停检测要素。

在一个实施例中，提供一种用于检测集成电路的存储器的方法，其中该存 储器包括多个存储器组，包括编程包括了编程多个检测要素的一个寄存器组， 其中编程多个检测要素的不同组合表示多个检测；生成符合编程的寄存器组的 多个检测指令；执行多个检测指令来检测存储器；存储所执行的多个检测指令 生成的结果；以及通过将所存储的结果与已知的响应相比较来确定存储器的质 量。