[发明专利]用于随机存取存储器的可编程自检测

权利要求书

1.一种用于检测集成电路的存储器的系统，包括：

一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即，一个检测可 以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；

一个有限状态机，用于从所述寄存器组接收多个检测指令，其中所述有限 状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；

一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及

一个比较器模块，用于将从所述存储器接收的响应与所存储的、已知的响 应相比较。

2.如权利要求1所述的系统，其中所述寄存器组包括用于定义所述多个检 测要素的多个检测要素控制寄存器。

3.如权利要求2所述的系统，其中所述多个检测要素控制寄存器包括：

用于控制写功能的至少一个可编程位以及用于控制读功能的至少一个可 编程位。

4.如权利要求2所述的系统，其中所述多个检测要素控制寄存器包括： 用于启动重复功能的至少一个可编程位。

5.如权利要求2所述的系统，其中所述多个检测要素控制寄存器包括： 用于启动刷新功能的至少一个可编程位。

6.如权利要求2所述的系统，其中所述寄存器组包括一个检测要素重复 计数寄存器，其指定了对于定义了一个检测要素的至少一个检测要素控制寄存 器，该检测要素被重复的次数；或者包括用于为多个检测要素控制寄存器定义 检测设置的至少一个检测模式寄存器。

7.如权利要求6所述的系统，其中所述至少一个检测模式寄存器包括：

通过列地址用于控制数据模式触发的至少一个可编程位。

8.如权利要求6所述的系统，其中所述至少一个检测模式寄存器包括： 通过行地址用于控制数据模式触发的至少一个可编程位以及用于控制数据模 式触发来生成字线图案的至少一个可编程位。

9.如权利要求6所述的系统，其中所述至少一个检测模式寄存器包括： 用于启动错误触发模式的至少一个可编程位。

10.如权利要求1所述的系统，其中所述寄存器组包括一个刷新时间寄存 器，其定义了用于插入一个刷新的至少一个时间。

11.如权利要求1所述的系统，其中所述寄存器组包括一个组开始寄存器 和一个组终止寄存器，其中所述组开始寄存器定义了用于一个检测的存储器的 一个开始组，且组终止寄存器定义了用于一个检测的存储器的一个终止组。

12.如权利要求11所述的系统，其中所述组开始寄存器和所述组终止寄 存器提供了检测分立存储器组和/或存储器组的不同组群的能力。

13.如权利要求1所述的系统，其中所述寄存器组包括一个检测循环寄存 器，其选择重复一个检测直至接收到终止命令。

14.如权利要求1所述的系统，其中所述多个检测包括零-一、棋盘、MATS、 MATS+、MATS++、进程X、进程C、进程C-、进程Y、MOVI和干扰。

15.如权利要求14所述的系统，其中所述多个检测的至少一个包括暂停 检测要素。

16.一种用于检测集成电路的存储器的方法，其中所述存储器包括多个存 储器组，所述方法包括：

编程包括了编程多个检测要素的寄存器组，其中编程多个检测要素的各种 组合表示多个检测；

生成符合所述编程的寄存器组的多个检测指令；

在状态机处接收来自所述寄存器组的多个检测指令；

执行所述多个检测指令以检测存储器；

存储所执行的所述多个检测指令生成的结果；以及

通过将所述存储的结果与已知的响应相比较来确定存储器的质量。