[发明专利]用于物体的热检测的系统及方法无效
| 申请号： | 200910145398.7 | 申请日： | 2009-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN101592523A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | J·R·艾伦;N·V·尼尔马兰;M·萨卡米 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/60 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 陈江雄;杨松龄 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 物体 检测 系统 方法 | ||
1.一种用于物体(10)的热测量系统，包括：
构造成用以接收多个波长范围内的辐射的二维检测器(56)阵列，所述检测器(56)具有表示空间维度的第一轴线(124)和表示波长维度的第二轴线(126)；以及
构造成用以将由所述物体发出的辐射聚集到所述检测器阵列上的光学系统(50)。
2.根据权利要求1所述的热测量系统，其特征在于，所述检测器(56)构造成用以接收大约0.6微米和更长的波长范围内的辐射。
3.根据权利要求1所述的热测量系统，其特征在于，所述检测器(56)包括三个或多个检测器。
4.根据权利要求1所述的热测量系统，其特征在于，所述物体(10)为静止物体或旋转物体。
5.根据权利要求4所述的热测量系统，其特征在于，所述旋转物体包括燃气涡轮叶片。
6.一种用于物体(10)的热测量系统，包括：
构造成用以接收多个波长范围内的辐射的二维检测器(56)阵列，所述检测器(56)阵列具有表示空间维度的第一轴线(124)和表示波长维度的第二轴线(126)；
构造成用以将来自于所述物体(10)的辐射聚集到所述检测器阵列的各个检测器上的光学系统(50)；以及
包括马达的偏航和横移系统，所述马达构造用以使所述光学系统(50)围绕轴线旋转，以便获得期望的视场，在所述检测器(56)阵列内产生二维图(122)。
7.根据权利要求6所述的热测量系统，其特征在于，所述检测器(56)选自由铟镓砷化物基检测器、硅基检测器、扩展的铟镓砷化物基检测器以及铅锑基检测器所组成的组。
8.根据权利要求6所述的热测量系统，其特征在于，所述热测量系统还包括构造用以对由所述检测器(56)接收到的辐射进行有选择地滤波的多个滤波器。
9.根据权利要求6所述的热测量系统，其特征在于，所述热测量系统还包括处理器(68)，所述处理器构造成用以接收来自于各所述检测器(56)的强度数据，以及基于所述强度数据来确定所述物体(10)的温度分布。
10.一种用于制造用于物体的热测量系统的方法(180)，包括：
提供(182)构造成用以接收多个波长范围内的辐射的二维检测器阵列，所述检测器阵列具有表示空间维度的第一轴线和表示波长维度的第二轴线；以及
提供(184)构造成用以将由所述物体发出的辐射聚集到所述检测器阵列上的光学系统。
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