[发明专利]液晶显示面板及其制造方法无效
申请号: | 200910080558.4 | 申请日: | 2009-03-20 |
公开(公告)号: | CN101840118A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 李于华;柳奉烈;朴相镇 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/84;H01L27/12 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶显示 面板 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示技术,尤其是一种液晶显示面板及其制造方法。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display;以下简称TFT-LCD)基于其性能优良、大规模生产特性好、自动化程度高等优点,应用领域不断拓宽,越来越多的LCD产品涌现到电子产品市场上。而各种LCD产品的质量也受到极大的考验,在影响LCD显示效果的诸多因素中,液晶显示面板中数据扫描线为影响画面品质的因素之一。
现有技术中液晶显示面板的制作工艺可以概括为:首先在基板上形成一层栅极层,其次在基板上分别形成栅极绝缘层和半导体层,然后在基板上形成一层源极层,最后再沉积一层绝缘层。采取以上工艺制作的液晶显示面板中的数据扫描线的宽度比较窄,一般为微米量级,在曝光和刻蚀过程中很容易造成数据扫描线的局部断裂,从而引起短路现象的发生。
现有技术中存在两种对数据扫描线的断裂进行修复的方法,其中一种方法在数据扫描线发生断裂时,通过从像素区边缘增加额外的电极线来代替断裂的数据扫描线,另一种方法为通过在断裂处设置数据修复线来修复断裂的数据扫描线。如图1所示为现有技术中液晶显示面板的第一像素结构示意图,如图2为图1中数据扫描线的第一修复示意图,如图3为图1中数据扫描线的第二修复示意图,图2和图3分别为利用额外的电极线对断裂的数据扫描线进行修复的两种不同形式。如图4所示为现有技术中液晶显示面板的第二像素结构示意图,如图5所示为图4中数据扫描线的修复示意图,即采用第二种方法对数据扫描线进行修复后的液晶显示面板的结构示意图。该方法在发现数据扫描线3断裂时,通过在数据扫描线3的断裂处单独设置第一数据修复线4进行修复,一般采用在数据扫描线3上方的位于断裂处两侧的绝缘层中设置过孔,然后在绝缘层上方沉积一层导电薄膜,并经过构图工艺形成第一数据修复线4,以连接数据扫描线的断裂处。采用上述两种方法尽管可以修复断裂的数据扫描线,但会导致生产成本的增加,维修所耗费的时间也使得生产效率降低,即使修复之后也至少存在一个坏点,直接影响LCD产品的显示效果。
发明内容
本发明的目的是提供一种液晶显示面板及其制造方法,在保证开口率和显示亮度的前提下,有效解决漏光缺陷。
为了实现上述目的,本发明提供了一种液晶显示面板,包括形成在基板上的栅线和数据扫描线,在所述栅线和数据扫描线限定的像素区域内形成像素电极和薄膜晶体管,还包括形成在所述数据扫描线上方的与所述数据扫描线电连接的数据修复线。
本发明提供了一种液晶显示面板的制造方法,包括:
步骤1、在基板上沉积栅金属薄膜,通过构图工艺形成包括栅线和栅电极的图形;
步骤2、在完成步骤1的所述基板上沉积栅绝缘薄膜,形成栅绝缘层;
步骤3、在完成步骤2的所述基板上沉积源漏极金属薄膜,通过构图工艺形成包括源极、漏极和数据扫描线的图形;
步骤4、在完成步骤3的所述基板上沉积数据绝缘层,通过构图工艺形成包括过孔的图形;
步骤5、在完成步骤4的所述基板上沉积纳米铟锡金属氧化物金属薄膜,通过构图工艺形成包括数据修复线的图形。
本发明提供了另一种液晶显示面板的制造方法,包括:
步骤1’、在基板上沉积栅金属薄膜,通过构图工艺形成包括栅线和栅电极的图形;
步骤2’、在完成步骤1’的所述基板上沉积栅绝缘薄膜,形成栅绝缘层;
步骤3’、在完成步骤2’的所述基板上沉积半导体层、源漏极金属薄膜,通过构图工艺形成包括源极、漏极和数据扫描线的图形;
步骤4’、在完成步骤3’的所述基板上沉积数据绝缘层,通过构图工艺形成包括过孔的图形;
步骤5’、在完成步骤4’的所述基板上沉积纳米铟锡金属氧化物金属薄膜,通过构图工艺形成包括数据修复线的图形。
本实施例通过提供一种液晶显示面板及其制造方法,在数据扫描线上方设置与数据扫描线电连接的数据修复线,使得数据扫描线不会发生断路,减少了由于对数据扫描线进行维修所花费人力成本和维修时间,大大降低了生产成本,改善了液晶显示面板的画面品质和显示质量,提高了产品的良品率。
附图说明
图1为现有技术中液晶显示面板的第一像素结构示意图;
图2为图1中数据扫描线的第一修复示意图;
图3为图1中数据扫描线的第二修复示意图;
图4为现有技术中液晶显示面板的第二像素结构示意图;
图5为图4中数据扫描线的修复示意图;
图6为本发明液晶显示面板的像素结构示意图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910080558.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于RS纠删码的数据存储方法
- 下一篇:检测金属材料损伤的无损检测方法