[发明专利]一种制备高迁移率Mo掺杂In2O3透明导电薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 200910068968.7 申请日: 2009-05-22
公开(公告)号: CN101560642A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 陈新亮;耿新华;张建军;赵颖 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: C23C14/30 分类号: C23C14/30;C23C14/06;H01L31/0224
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 侯 力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 制备 迁移率 mo 掺杂 in sub 透明 导电 薄膜 方法
【说明书】:

【技术领域】:本发明属于透明导电氧化物薄膜技术领域,特别是适合薄膜太阳电池应用的透明导电薄膜的制备方法。

【背景技术】:氢化非晶硅(a-Si:H)的光学带宽为1.7eV左右,其吸收系数在短波方向较高,而氢化微晶硅(μc-Si:H)的光学带宽约为1.1eV,其吸收系数在长波方向较高,并能吸收到近红外长波区域,吸收波长可扩展至1100nm,这就使太阳光谱能得到更好利用。图1给出了a-Si:H、μc-Si:H材料的光学波长和吸收强度以及吸收系数之间的关系(图1a是光子能量和吸收强度的关系图,图1b是吸收系数和光子波长的关系图)。此外,相比于非晶硅薄膜材料,微晶硅薄膜材料结构有序性程度高,因此,微晶硅薄膜电池具有很好的器件稳定性,无明显衰退现象。由此可见,微晶硅薄膜太阳电池可较好地利用太阳光谱的近红外光区域,而新型a-Si:H/μc-Si:H叠层薄膜太阳电池将扩展太阳光谱应用范围,整体提高电池稳定性和效率[1-2]

根据Drude理论,近红外区的光学特性和材料的载流子浓度密切相关,其等离子体频率和自由载流子浓度的平方根成比例[3]

ωp=4πnee2/m*·]]>

其中,ωp-等离子体频率,ne-电子浓度,e-基本电荷,m*-有效电子质量。若载流子浓度较高则增强了对近红外光的吸收。因此,基于μc-Si:H和a-Si:H/μc-Si:H叠层薄膜电池应用,希望p-i-n型电池结构中的前电极TCO在可见光范围和近红外区域高透过率并维持高电导率,有效的途径是制备出较低载流子浓度而较高迁移率的TCO薄膜。利用高价态差(Mo6+和In3+的价态差为3)掺杂的In2O3:Mo(Mo掺杂In2O3,即IMO)薄膜适应了此方面的应用发展。

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