[发明专利]具有高可靠性的非易失存储器有效

专利信息
申请号: 200880021735.5 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN101689397A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: A·P·科斯敏;S·S·乔治斯卡;G·斯马然多尤;A·M·塔切 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: G11C11/34 分类号: G11C11/34
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 申发振
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 具有 可靠性 非易失 存储器
【权利要求书】:

1.一种非易失存储器系统,包括:

一组位线;

一组非易失存储器单元,每个非易失存储器单元耦接到公共源, 并且每个非易失存储器单元包括:

具有控制栅极的非易失存储器晶体管;

具有栅极的存取晶体管,其中所述存取晶体管耦接在所述非 易失存储器晶体管和相应的一条位线之间;和

具有栅极的源极选择晶体管,其中所述源极选择晶体管耦接 在所述非易失存储器晶体管和所述公共源之间;

耦接到所述一组非易失存储器单元内的每个存取晶体管的栅极 的字线;

耦接到所述一组非易失存储器单元内的每个非易失存储器晶体 管的控制栅极的控制栅极线;和

耦接到所述一组非易失存储器单元内的每个源极选择晶体管的 栅极的源极选择线;以及

用于对所述一组非易失存储器单元执行两阶段写操作的装置,其 中所述两阶段写操作包括擦除阶段和编程阶段,其中用于执行所述两 阶段写操作的装置包括用于在擦除阶段和编程阶段两者期间将第一 位线电压施加到所述一组位线中的第一子集的装置,以及用于在擦除 阶段和编程阶段两者期间将不同于第一位线电压的第二位线电压施 加到所述一组位线中的第二子集的装置。

2.如权利要求1的非易失存储器系统,其中用于执行所述两阶段 写操作的装置还包括在擦除阶段期间将第一控制电压施加到所述控 制栅极线、并且在编程阶段期间将第二控制电压施加到所述控制栅极 线的装置,其中第一控制电压与第二控制电压不同。

3.如权利要求2的非易失存储器系统,其中用于执行所述两阶段 写操作的装置还包括在擦除阶段和编程阶段两者期间将公共字线电 压施加到所述字线的装置。

4.如权利要求3的非易失存储器系统,其中用于执行所述两阶段 写操作的装置还包括在擦除阶段和编程阶段两者期间将公共源选择 电压施加到所述源极选择线的装置。

5.如权利要求1的非易失存储器系统,其中存取晶体管、非易失 存储器晶体管和源极选择晶体管均是n沟道器件。

6.一种非易失存储器系统,包括:

一组位线;

一组非易失存储器单元,每个非易失存储器单元耦接到公共源, 并且每个非易失存储器单元包括:

具有控制栅极的非易失存储器晶体管;

具有栅极的存取晶体管,其中所述存取晶体管耦接在所述非 易失存储器晶体管和相应的一条位线之间;和

具有栅极的源极选择晶体管,其中所述源极选择晶体管耦接 在所述非易失存储器晶体管和所述公共源之间;

耦接到所述一组非易失存储器单元内的每个存取晶体管的栅极 的字线;

耦接到所述一组非易失存储器单元内的每个非易失存储器晶体 管的控制栅极的控制栅极线;和

耦接到所述一组非易失存储器单元内的每个源极选择晶体管的 栅极的源极选择线;以及

用于对所述一组非易失存储器单元执行两阶段写操作的装置,其 中所述两阶段写操作包括擦除阶段和编程阶段,其中用于执行所述两 阶段写操作的装置包括用于在擦除阶段期间在所述一组非易失存储 器单元的第一子集中引发Fowler-Nordheim隧穿的装置,和用于在相 应的编程阶段期间,在所述一组非易失存储器单元的第二子集中引发 Fowler-Nordheim隧穿的装置,其中所述第一子集和所述第二子集互 斥。

7.如权利要求6的非易失存储器系统,其中用于执行所述两阶段 写操作的装置在擦除阶段和相应的编程阶段两者期间禁止所述一组 非易失存储器单元的第三子集中的Fowler-Nordheim隧穿。

8.如权利要求7的非易失存储器系统,其中所述第一子集、第二 子集和第三子集互斥,并且包括所述一组非易失存储器单元中的所有 非易失存储器单元。

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