[发明专利]电子器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200880003380.7 申请日: 2008-01-29
公开(公告)号: CN101595566A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: T·I·卡明斯 申请(专利权)人: 惠普开发有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;B82B3/00;B82B1/00;H01L21/336
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;李家麟
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 电子器件 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明一般涉及一种或多种电子器件及其制造方法。

背景技术

自半导体技术出现以来,一致的趋势都是朝着更小的器件尺寸和更 高的器件密度的方向发展。因此,纳米技术已呈爆炸式增长并引起了极 大的关注。纳米技术注重于纳米尺度结构的制造和应用,或者具有往往 是常规半导体结构的5到100倍那么小的尺寸的结构的制造和应用。纳 米线包括在这类纳米尺度结构中。

纳米线是具有至少一个范围从约3nm到约200nm的线性尺寸(例 如,直径)的线状结构。纳米线适合于各种应用,包括用作用于互连应 用的常规线或用作半导体器件。纳米线还是很多潜在纳米尺度器件,诸 如,仅举出几个例子,纳米尺度的场效应晶体管(FET)、p-n二极管、 发光二极管(LED)以及基于纳米线的传感器的构建单元。一种常规的 纳米尺度构造技术包括光刻,其可能是复杂且高成本的。

附图说明

通过参照以下的详细说明和附图,本公开的实施例的特征和优点将 是显而易见的,在其中,相同的附图标记对应于相似的而不必完全相同 的元件。为了简短起见,对于其中出现了具有先前述及的功能的附图标 记或特征的其它附图,不一定描述这些附图标记或特征。

图1是示出制造电子器件的实施例的方法的实施例的流程图;

图2A到2F示意性地示出了制造结型场效应晶体管的实施例的方法 的实施例;

图2A到2E和2G示意性地示出了制造双极结型晶体管的实施例的 方法的实施例;

图3A和3B分别示意性地示出了结型场效应晶体管和双极结型晶体 管的另外的实施例;

图4A到4E示意性地示出了制造结型场效应晶体管的另一实施例的 方法的另一实施例;

图4A到4D和4F示意性地示出了制造双极结型晶体管的另一实施 例的方法的另一实施例;

图5A和5B分别示意性地示出了操作地连接于结型场效应晶体管和 双极结型晶体管的实施例的电连接;

图6A和6B分别示意性地示出了操作地连接于结型场效应晶体管和 双极结型晶体管的另外的实施例的电连接;

图7示意性地示出了结型场效应晶体管的另一实施例;以及

图8示意性地示出了二极管的一个实施例。

具体实施方式

文中公开的电子器件的一些实施例有利地能够使一条或多条次纳 米线或分支纳米线的掺杂区延伸到主纳米线中,该一条或多条次纳米线 或分支纳米线从该主纳米线生长出来。在一实施例中,器件包括延伸完 全通过主纳米线的掺杂区,并且在另一实施例中,器件包括延伸部分通 过主纳米线的掺杂区。电子器件的另外的实施例是不具有延伸到主纳米 线中的掺杂区的三端电子器件。可以对所述器件的选择的实施例进行偏 置,使得最小的电流流经两条纳米线之间的结,这在某些情况下可以是 有利的。一般来说,主纳米线和次纳米线的导电类型是不同的。本方法 的实施例实现了生产诸如,例如,二极管、双极结型晶体管或结型场效 应晶体管的不同器件的灵活性。

现在参照图1,示出了用于形成电子器件的方法的一实施例。该方 法包括:生长具有第一导电类型的主纳米线;从主纳米线的表面生长具 有第二导电类型的次纳米线;以及使第二导电类型的掺杂区从次纳米线 扩散到主纳米线的至少一部分中。应当理解的是,下文将参照其它附图 来进一步详细描述该方法的该实施例和另外的实施例。

图2A到2F示出了用于形成结型场效应晶体管10(图2F中示出) 的实施例的方法的实施例。图2A示出了在其上形成有催化剂纳米颗粒 14的衬底12。图2B示出了从衬底表面16生长的主纳米线18。

从其生长一条或多条主纳米线18的衬底12可以形成为表面平面是 (111)晶格面。该衬底12被称为(111)取向硅衬底或层。在该实施 例中,认为(111)平面是关于笛卡尔坐标系水平取向的。如文中所使 用的,术语“水平的”一般指的是与图2A中所示的平面P平行的方向 或平面,而术语“垂直的”一般指的是基本或大致垂直于图2A中所示 的平面P的方向或平面。

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