[发明专利]电子器件及其制造方法无效
申请号: | 200880003380.7 | 申请日: | 2008-01-29 |
公开(公告)号: | CN101595566A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | T·I·卡明斯 | 申请(专利权)人: | 惠普开发有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;B82B3/00;B82B1/00;H01L21/336 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;李家麟 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种电子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、100”、1000), 包括:
第一导电类型的主纳米线(18);
从所述主纳米线(18)向外延伸的第二导电类型的次纳米线(24);
从所述次纳米线(24)延伸到所述主纳米线(18)的至少一部分中 的第二导电类型的掺杂区(26)。
2.如权利要求1所述的电子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、 100”、1000),其中第二导电类型的所述掺杂区(26)延伸通过所述主 纳米线(18)的电活性厚度的至少一部分。
3.如权利要求1和2中的任意一项所述的电子器件(10、10’、10”、 10”’、100、100’、100”、1000),其中所述电子器件(10、10’、10”、 10”’、100、100’、100”、1000)为结型场效应晶体管(10、10’、10”、 10”’)。
4.如权利要求2所述的电子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、 100”、1000),其中所述掺杂区延伸通过所述主纳米线(18)的整个电 活性厚度,并且其中所述电子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、 100”、1000)为双极结型晶体管(100、100’、100”)。
5.如权利要求4所述的电子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、 100”、1000),其中第二导电类型的所述掺杂区(26)将所述主纳米线 (18)分成发射极段(E)和集电极段(C)。
6.如权利要求1到5的任意一项所述的电子器件(10、10’、10”、 10”’、100、100’、100”、1000),其中所述第一导电类型为p型导电 性或n型导电性中的一种,并且其中所述第二导电类型为n型导电性或 p型导电性中的另一种。
7.如权利要求1或6的任意一项所述的电子器件(10、10’、10”、 10”’、100、100’、100”、1000),其中所述电子器件(10、10’、10”、 10”’、100、100’、100”、1000)为二极管(1000),并且其中所述电 子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、100”、1000)进一步包括:
操作地连接于所述主纳米线(18)的末端的电连接;以及
操作地连接于所述次纳米线(24)的末端的电连接。
8.一种制造电子器件(10、10’、10”、10”’、100、100’、100”、 1000)的方法,该方法包括:
生长具有第一导电类型的主纳米线(18);
从所述主纳米线(18)的表面生长具有第二导电类型的次纳米线 (24);以及
使第二导电类型的掺杂区(26)从所述次纳米线(24)扩散到所述 主纳米线(18)的至少一部分中。
9.如权利要求8所述的方法,其中通过以下步骤来实现生长所述 次纳米线(24):
在所述主纳米线(18)周围形成牺牲层(22),并将其形成到预定 高度,由此露出所述主纳米线(18)的一部分;
在邻近所述牺牲层(22)的所述主纳米线(18)的露出部分的区域 上形成催化剂纳米颗粒(20);以及
使所述催化剂纳米颗粒(20)暴露于启动所述次纳米线(24)的生 长的前驱气体。
10.如权利要求9所述的方法,其中通过沉积预先形成的催化剂纳 米颗粒(20)或通过沉积形成所述催化剂纳米颗粒(20)的材料来实现 形成所述催化剂纳米颗粒(20)。
11.如权利要求8到10中的任意一项所述的方法,其中通过使所 述主纳米线(18)和所述次纳米线(24)在预定时间内暴露于预定温度 下来实现扩散。
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