[发明专利]光拾取装置和光分割体无效

专利信息
申请号: 200810087205.2 申请日: 2008-03-19
公开(公告)号: CN101271700A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 村上晋三 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G11B7/13 分类号: G11B7/13;G11B7/135;G02B27/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 葛青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 拾取 装置 分割
【权利要求书】:

1、一种光拾取装置,用于向形成有多层记录层的光盘照射光而向光盘的记录层记录信息或从光盘的记录层再生信息,其特征在于,包括:

光源,其射出光;

光学系统,其把来自光源的射出光向光盘的记录层聚光,且把来自光盘记录层的反射光进行聚光;

受光部,其把来自光盘记录层的反射光经由光学系统受光,具有第一受光部和第二受光部,该第一受光部配置在把来自汇聚光源射出光的聚光记录层的反射光进行聚光的位置,接受来自聚光记录层的反射光;该第二受光部配置成从聚光记录层的反射光聚光的位置离开,与第一受光部邻接,接受来自与聚光记录层不同的非聚光记录层的反射光;

校正部,其根据第二受光部的受光结果来校正第一受光部的受光结果。

2、如权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

所述光学系统把光源的射出光分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光,

所述第一受光部包括:主光束受光元件,其被配置在把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置,接受来自聚光记录层的主光束的反射光;一对副光束受光元件,其被分别配置在把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置,分别接受来自聚光记录层的各副光束的反射光,

所述第二受光部,具有用于将各副光束受光元件中、来自非聚光记录层的主光束反射光所到达的副光束受光元件的受光结果进行补正的副光束校正用受光部分,该副光束校正用受光部分配置为从把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置、和把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开,与所述副光束受光元件邻接,接受来自非聚光记录层的主光束反射光,

所述校正部根据副光束校正用受光部分的受光结果来校正所述副光束受光元件的受光结果。

3、如权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,

所述副光束校正用受光部分具有:介于所述副光束受光元件与主光束受光元件之间的中介受光元件,和相对所述副光束受光元件而配置在与中介受光元件相反侧的相反侧受光元件。

4、如权利要求3所述的光拾取装置,其特征在于,

所述中介受光元件和所述相反侧受光元件形成为一体。

5、如权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

所述光学系统把光源的射出光分离成主光束和一对副光束并向光盘的记录层聚光,

所述第一受光部包括:主光束受光元件,其被配置在把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置,接受来自聚光记录层的主光束的反射光;一对副光束受光元件,其被分别配置在把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置,分别接受来自聚光记录层的各副光束的反射光,

所述第二受光部,具有用于校正主光束受光元件的受光结果的主光束校正用受光部分,该主光束校正用受光部分配置为从把来自聚光记录层的主光束反射光进行聚光的位置、和把来自聚光记录层的各副光束反射光进行聚光的位置这两者离开,与主光束受光元件邻接,接受来自非聚光记录层的主光束反射光,

所述校正部根据主光束校正用受光部分的受光结果来校正主光束受光元件的受光结果。

6、如权利要求5所述的光拾取装置,其特征在于,

所述主光束校正用受光部分具有:介于一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间的一侧受光元件,和介于另一侧副光束受光元件与主光束受光元件之间的另一侧受光元件。

7、如权利要求6所述的光拾取装置,其特征在于,

所述一侧受光元件和所述另一侧受光元件形成为一体。

8、如权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

所述校正部根据来自非聚光记录层反射光向第一受光部的入射光量与向第二受光部的入射光量的比,预先设定第二受光部受光结果相对于第一受光部受光结果的放大度,

在校正第一受光部的受光结果时,把第二受光部的受光结果按所述放大度放大,并把该放大结果从第一受光部的受光结果中减去。

9、如权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,

所述受光部具有用于生成跟踪误差信号的、包括所述第一受光部和所述第二受光部的一对跟踪用受光部,

为了生成跟踪误差信号,所述光学系统把来自聚光记录层的反射光分割,并分别向各跟踪用受光部反射。

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