[发明专利]一种发光二极管器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810026797.7 申请日: 2008-03-13
公开(公告)号: CN101257075A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 樊邦弘;翁新川 申请(专利权)人: 鹤山丽得电子实业有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 529728广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1、一种发光二极管器件,包括:

基板;

设置在基板上的n型半导体层;

设置于部分的n型半导体层上的发光层;

设置于发光层上的p型半导体层;

设置于p型半导体层上的透明电极层;

设置于透明电极层上的阳极;以及

设置于部分的n型半导体层上的阴极;

其中该透明电极层的上表面具有多个凹凸形的微结构。

2、根据权利要求1所述的发光二极管器件,其中该透明电极的下表面具有多个凹凸形的微结构。

3、根据权利要求1所述的发光二极管器件,其中该透明电极的厚度为0.2微米至0.8微米。

4、一种发光二极管器件,包括:

基板;

设置在基板上的n型半导体层;

设置于部分的n型半导体层上的发光层;

设置于发光层上的p型半导体层;

设置于p型半导体层上的透明电极层;

设置于透明电极层上的阳极;以及

设置于部分的n型半导体层上的阴极;

其中形成有多个自该透明电极层贯穿至n形半导体层的孔。

5、根据权利要求4所述的发光二极管器件,其中所述孔的间距为2至8微米,孔的深度为1至2微米,且孔的直径为0.2至4微米。

6、一种发光二极管器件的制造方法,包括:

在基板上依次沉积n型半导体层、发光层、p型半导体层;

在p型半导体层形成透明电极层;

采用光刻暨蚀刻工艺构图透明电极层、p型半导体层、发光层和n型半导体层,使得透明电极层、p型半导体层、发光层形成于部分的n型半导体层上;

采用粗化蚀刻剂,通过湿法蚀刻在透明电极层上形成多个凹凸形的微结构。

7、根据权利要求6所述的方法,其中所述粗化蚀刻剂为包括硫酸、抑制剂、表面活性剂和去离子水的混合酸性溶液。

8、根据权利要求6所述的方法,其中在p型半导体层上形成透明电极层之前,可以采用干法或湿法蚀刻工艺粗糙化p型半导体层的上表面,从而在p型半导体层的上表面形成多个凹凸的微结构。

9、根据权利要求6所述的方法,其中该透明电极的厚度为0.2微米至0.8微米。

10、一种发光二极管器件的制造方法,包括:

在基板上依次沉积n型半导体层、发光层、p型半导体层;

在p型半导体层上形成透明电极层;

在透明电极层上涂布光刻胶,采用光刻工艺构图光刻胶,以在部分的透明电极层上形成具有多个孔的光刻胶图案;

利用该光刻胶图案作为蚀刻掩模,利用干法蚀刻来蚀刻透明电极层、p型半导体层、发光层和n型半导体层,从而使得透明电极层、p型半导体层、发光层形成于部分的n型半导体层上,并形成多个自透明电极层贯穿至n型半导体层的孔;以及

去除光刻胶掩模。

11、根据权利要求10的方法,其中该干法蚀刻工艺为电感耦合式反应离子蚀刻。

12、根据权利要求10的方法,其中所述孔的间距为2至8微米,孔的深度为1至2微米,且孔的直径为0.2至4微米。

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