[发明专利]测量装置特性变化的可扫描虚拟轨道方法与环形振荡器电路有效
| 申请号: | 200810003900.6 | 申请日: | 2008-02-03 |
| 公开(公告)号: | CN101241166A | 公开(公告)日: | 2008-08-13 |
| 发明(设计)人: | K·B·阿加瓦尔;S·R·纳西夫 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/26;G01R23/02 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静;杨晓光 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量 装置 特性 变化 扫描 虚拟 轨道 方法 环形 振荡器 电路 | ||
1.一种环形振荡器测试电路,其包含:
多个级联的环形振荡器级,其构成具有频率测试输出的环形振荡器;
第一多个可编程元件,其用于存储多个控制值;以及
第一多个晶体管,其具有共同地连接到第一电源轨道的沟道连接、共同地连接到向/从所述多个级联环形振荡器级传导工作电源电流的第一虚拟电源轨道的第二沟道连接、连接到所述第一多个可编程元件中的对应一个的栅极连接,由此,所述多个晶体管可按照所述控制值被有选择地启用,使得所述多个晶体管的装置特性变化的影响能通过改变所述控制值在所述环形振荡器的所述频率测试输出上被测量。
2.根据权利要求1的环形振荡器测试电路,其中,所述多个可编程元件为扫描锁存器。
3.根据权利要求2的环形振荡器测试电路,其中,所述扫描锁存器包含反馈路径,该路径被有选择地启用,以便响应于时钟信号地顺次启用所述多个晶体管中的每一个。
4.根据权利要求1的环形振荡器测试电路,其还包含第二多个晶体管,所述第二多个晶体管的掺杂类型不同于所述第一多个晶体管的掺杂类型,并具有共同地连接到第二电源轨道的沟道连接、共同地连接到从/向所述多个级联环形振荡器级传导工作电源电流的第二虚拟电源轨道的第二沟道连接、连接到所述第一多个可编程元件中对应一个的栅极连接,由此,当所述第一多个晶体管中的每一个被独立地启用时,所述第二多个晶体管中除一个以外的全部也被启用。
5.根据权利要求1的环形振荡器测试电路,其还包含:
第二多个可编程元件,其用于存储第二多个控制值;以及
第二多个晶体管,其具有共同地连接到第二电源轨道的沟道连接、共同地连接到从/向所述多个级联环形振荡器级传导工作电源电流的第二虚拟电源轨道的第二沟道连接、被连接到所述第二多个可编程元件中的对应一个的栅极连接,由此,当所述第一多个晶体管中的每一个被独立启用时,任意数量的所述第二多个晶体管也能被启用。
6.根据权利要求5的环形振荡器测试电路,其中,所述环形振荡器测试电路以同心布局被装在晶片上,使得所述多个级联环形振荡器级构成所述布局的中心区域周围的环,其中,所述中心区域分布所述第一电源轨道,其中,所述第一多个晶体管被分布在所述中心区域与所述第一多个晶体管之间,其中,所述第二电源轨道被分布在所述布局的外缘周围,且其中,所述第二多个晶体管被分布在所述多个所述级联环形振荡器级与所述布局的所述外缘之间。
7.根据权利要求1的环形振荡器测试电路,其中,所述环形振荡器测试电路以同心布局被装在晶片上,使得所述多个级联环形振荡器级构成所述布局的中心区域周围的环,其中,所述中心区域分布所述第一电源轨道,且其中,所述第一多个晶体管被分布在所述中心区域与所述第一多个晶体管之间。
8.根据权利要求1的环形振荡器测试电路,其中,所述级联环形振荡器级为反相器。
9.一种环形振荡器测试电路,其包含:
环形振荡器,其具有频率测试输出;
用于控制向/从所述环形振荡器的至少一个电源轨道供给的电流的装置,其中,用于控制电流的所述装置沿着所述环形振荡器的物理布局分布,其中,用于控制电流的所述装置中的装置变化改变所述频率测试输出的频率,由此,可通过所述频率中的变化评估所述装置变化。
10.根据权利要求9的环形振荡器测试电路,其中,用于控制电流的所述装置包含这样的装置:其用于指引电流通过多个装置中的被选择装置,且还包含用于对所述被选择装置进行选择的可编程装置。
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