[实用新型]测试烤箱的组合结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试烤箱，特别是涉及一种适用于装载多种尺寸或是长尺寸载板的测试烤箱的组合结构。

背景技术

晶片封装构造于制造完成后，通常需要进行预烧(burn-in)测试，以筛选出品质不良的产品。预烧测试是指一种对晶片封装构造寿命的测试方法。在测试期间，多个晶片封装构造会被置于载板上，并将多个已装载有晶片封装构造的载板置入测试烤箱中，再利用高温、高压或高湿度等方式将出厂后可靠度不佳的晶片封装构造预先侦测出且予以淘汰，以保证产品输出的品质。已知测试烤箱受限于内容置空间，导致共用性甚差，一旦载板的尺寸改变或拉长，则必须重新添购另一规格的测试烤箱。

如图1及图2所示，已知的测试烤箱100主要包含一箱体110以及多个装设于该箱体110的门板120。如图2所示，该箱体110具有一加热腔室111，用以加热多个载板(图中未绘出)，该箱体110的内壁形成有一载板容置空间101以供容置该些载板。其中该加热腔室111内设有预烧板横置架112，其是用以放置该些载板。由于该些门板120直接接合在该箱体110，无法扩展该测试烤箱100的可用深度D1(如图2所示)，因此该测试烤箱100的可用空间有限，所能装载的载板的尺寸非常有限。如图2所示，当载板的尺寸变更导致其长度大于该测试烤箱100的可用深度D1时，该些门板120的内壁会压迫载板或无法关闭该门板120，甚至会造成载板及/或置于载板上的晶片封装构造损伤。因此，该测试烤箱100无法适用于装载各种不同尺寸规格的载板，故实用上效果并不佳。

由此可见，上述现有的测试烤箱在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决测试烤箱存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。

有鉴于上述现有的测试烤箱存在的缺陷，本设计人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的测试烤箱的组合结构，能够改进一般现有的测试烤箱，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本实用新型。

发明内容

本实用新型的目的在于，克服现有的测试烤箱存在的缺陷，而提供一种新型结构的测试烤箱的组合结构，所要解决的技术问题是使其利用一组合式延伸结构以形成深度增加的载板容置空间，增加测试烤箱的组合结构的可用空间，以供适用于多种尺寸的载板进而增进工作效率，另可避免门板的内壁压迫载板，从而更加适于实用。

本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本实用新型提出的一种测试烤箱的组合结构，包含一箱体、一组合式延伸壁件以及至少一门板。该箱体具有一加热腔室，用以容置并加热多个载板，该加热腔室的前端形成为一箱门开口。该组合式延伸壁件可模组化装设于该箱门开口并具有一延伸开口。该门板可开关地装设于该延伸开口。其中，由该加热腔室、该组合式延伸壁件的内壁与该门板的内壁形成为一深度增加的载板容置空间。

本实用新型的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

在前述的测试烤箱的组合结构中，该延伸开口的尺寸与组合方式可实质与该箱门开口相同。

在前述的测试烤箱的组合结构中，该组合式延伸壁件的该延伸开口可设有一卡栓装置，用以固定关闭该门板。

在前述的测试烤箱的组合结构中，该箱体可为一预烧测试炉，且该加热腔室内设有预烧板横置架。

借由上述技术方案，本实用新型测试烤箱的组合结构至少具有下列优点：

本实用新型测试烤箱借由该组合式延伸壁件的设计与结合，增加了该测试烤箱的组合结构的可用深度，以增加载板容置空间，使该测试烤箱的组合结构可适用于多种尺寸的载板。即使载板的长度大于该箱体的该加热腔室，亦不会有该门板压触至该些载板的问题产生。

综上所述，本实用新型特殊结构的测试烤箱的组合结构，其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在产品结构或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的测试烤箱具有增进的多项功效，从而更加适于实用。