[发明专利]用以避免NMOS组件承受过高电压的保护电路有效

专利信息
申请号: 200710166739.X 申请日: 2007-11-02
公开(公告)号: CN101425799A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 叶俊文 申请(专利权)人: 晨星半导体股份有限公司
主分类号: H03K17/081 分类号: H03K17/081;H03K17/0812;H03K17/687
代理公司: 上海虹桥正瀚律师事务所 代理人: 李佳铭
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用以 避免 nmos 组件 承受 过高 电压 保护 电路
【权利要求书】:

1.一种用以避免一NMOS组件承受过高电压的保护电路,其特征在于,包含:

一串联NMOS晶体管,串接于所述NMOS组件与一外部电压源之间;以及

一调整电路,耦接至所述外部电压源、一第一内部电压源,以及所述串联NMOS晶体管的一栅极,用以根据所述外部电压源和所述第一内部电压源的电压,调整所述串联NMOS晶体管的所述栅极的电压,借此保护所述NMOS组件免于承受因所述外部电压源造成的一过高电压,其中所述调整电路包含一分压器,所述分压器耦接于所述外部电压源和一第二内部电压源之间,当所述外部电压源的电压高于所述第一内部电压源的电压,所述分压器将一分压提供给所述串联NMOS晶体管的所述栅极。

2.如权利要求1所述的保护电路,其特征在于:所述调整电路进一步包含一第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的一栅极耦接至所述第一内部电压源,所述第一PMOS晶体管的一源极耦接至所述外部电压源,并且所述第一PMOS晶体管的一漏极耦接至所述分压器。

3.一种用以避免一NMOS组件承受过高电压的保护电路,其特征在于,包含:

一串联NMOS晶体管,串接于所述NMOS组件与一外部电压源之间;以及

一调整电路,耦接至所述外部电压源、一第一内部电压源,以及所述串联NMOS晶体管的一栅极,用以根据所述外部电压源和所述第一内部电压源的电压,调整所述串联NMOS晶体管的所述栅极的电压,借此保护所述NMOS组件免于承受因所述外部电压源造成的一过高电压,其中所述调整电路包含一分压器,所述分压器耦接于所述外部电压源和所述第一内部电压源之间,当所述外部电压源的电压高于所述第一内部电压源的电压,所述分压器将一分压提供给所述串联NMOS晶体管的所述栅极。

4.如权利要求3所述的保护电路,其特征在于:所述调整电路进一步包含一第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的一栅极耦接至所述第一内部电压源,所述第一PMOS晶体管的一源极耦接至所述外部电压源,并且所述第一PMOS晶体管的一漏极耦接至所述分压器。

5.一种用以避免一NMOS组件承受过高电压的保护电路,其特征在于,包含:

一串联NMOS晶体管,串接于所述NMOS组件与一外部电压源之间;以及

一调整电路,耦接至所述外部电压源、一第一内部电压源,以及所述串联NMOS晶体管的一栅极,用以根据所述外部电压源和所述第一内部电压源的电压,调整所述串联NMOS晶体管的所述栅极的电压,借此保护所述NMOS组件免于承受因所述外部电压源造成的一过高电压,其中所述调整电路包含一开关与一第二PMOS晶体管,所述开关耦接于所述外部电压源和所述第二PMOS晶体管的一栅极之间,第二PMOS晶体管的一源极耦接至所述第一内部电压源,第二PMOS晶体管的一漏极耦接至所述串联NMOS晶体管的所述栅极,当所述外部电压源的电压低于所述第一内部电压源的电压,所述开关令所述第二PMOS晶体管导通。

6.如权利要求5所述的保护电路,其特征在于:所述开关包含耦接为一传输门形式的一第三PMOS晶体管和一第一NMOS晶体管,所述第三PMOS晶体管的一栅极和所述第一NMOS晶体管的一栅极皆耦接至所述第一内部电压源。

7.如权利要求5所述的保护电路,其特征在于:所述调整电路进一步包含一第二NMOS晶体管和一第三NMOS晶体管,所述第二NMOS晶体管的一栅极耦接至所述串联NMOS晶体管的所述栅极,所述第二NMOS晶体管的一漏极耦接至所述第二PMOS晶体管的一栅极,所述第二NMOS晶体管的一源极耦接至所述第三NMOS晶体管的一漏极,并且所述第三NMOS晶体管的一源极和一栅极皆耦接至一第二内部电压源。

8.如权利要求1、3、5中任一项所述的保护电路,其特征在于:所述外部电压源与所述调整电路之间耦接有一静电防护电阻。

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