[发明专利]制备非晶氢硅薄膜的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200710069121.1 申请日: 2007-06-05
公开(公告)号: CN101066842A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: 张溪文;李敏伟 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C03C17/22 分类号: C03C17/22;C23C16/515;C23C16/42;C23C16/54
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 韩介梅
地址: 310027浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 制备 非晶氢硅 薄膜 方法 装置
【权利要求书】:

1.制备非晶氢硅薄膜的方法,其特征是步骤如下:

将清冼后的基板置于反应室中,反应室抽真空到至少10-3Pa,以纯氮气为载气,通入氢气稀释的体积浓度为20~50%的硅烷反应气体,反应室压强为100~1000Pa,基板在室温或加热至50~100℃,开启高压脉冲电源,调整电压5~20KV,频率5~20KHz,脉冲上升沿20kV/μS,脉冲宽度2μS,气体放电沉积薄膜。

2.根据权利要求1所述的制备非晶氢硅薄膜的方法,其特征是所说的基板为玻璃、硅片、塑料或铝材。

3.用于实现权利要求1所述的制备非晶氢硅薄膜方法的装置,其特征是包括绝缘陶瓷制的反应窒(5),反应室的相对两壁设有对称的平面狭缝式进气通道(6-1)和出气通道(6-2),反应室内有两块上下平行的电极,上电极(1)与高压脉冲电源(7)相连,其下表面覆盖厚度2mm以下的陶瓷板(4),下电极(2)固定在加热器(9)上并接地,加热器(9)与反应室外的加热温控装置(8)相连。

4.根据权利要求3所述的制备非晶氢硅薄膜的装置,其特征是高压脉冲电源的电压为5~20kV、频率5~20kHz、脉冲上升沿20kV/μS、脉冲宽度2μS。

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