[发明专利]标定双能CT系统的方法和图像重建方法无效
| 申请号： | 200710064391.3 | 申请日： | 2007-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101266216A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 张丽;陈志强;张国伟;程建平;李元景;刘以农;邢宇翔;赵自然;肖永顺 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 标定 ct 系统 方法 图像 重建 | ||
1. 一种标定双能CT系统的方法，包括步骤：
选定至少两种不同的材料；
探测双能射线对所述至少两种不同的材料在不同厚度组合下的透射射线，以获得投影值；
按照所述不同厚度组合和相应的投影值相互对应的方式创建查找表。
2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述双能射线包括低能射线和高能射线。
3. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述低能射线和所述高能射线是X射线。
4. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少两种不同的材料包括碳和铝。
5. 一种图像重建方法，包括步骤：
利用双能射线扫描被检物体，以获取双能投影值；
根据预先创建的查找表计算与所述双能投影值相对应的基材料系数投影值；以及
基于所述基材料系数投影值重建基材料系数分布图像。
6. 如权利要求5所述的图像重建方法，还包括步骤：
基于基材料系数分布图像计算被检物体的原子序数图像。
7. 如权利要求5所述的图像重建方法，还包括步骤：
基于基材料系数分布图像计算被检物体的特征密度图像。
8. 如权利要求5所述的图像重建方法，还包括步骤：
基于基材料系数分布图像计算被检物体的衰减系数图像。
9. 如权利要求5～8之一所述的图像重建方法，如下创建所述查找表：
选定至少两种不同的材料；
探测双能射线对所述至少两种不同的材料在不同厚度组合下的透射射线，以获得投影值；
按照所述不同厚度组合和相应的投影值相互对应的方式创建所述查找表。
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