[发明专利]工艺过程加工能力的估计方法及装置有效
申请号: | 200710048189.1 | 申请日: | 2007-11-14 |
公开(公告)号: | CN101436036A | 公开(公告)日: | 2009-05-20 |
发明(设计)人: | 王邕保 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G05B17/02 | 分类号: | G05B17/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陆 嘉 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 工艺 过程 加工 能力 估计 方法 装置 | ||
1.一种工艺过程加工能力的估计方法,包括:
根据预定标准,确定工艺过程的预定标准上限USL和预定标准下限LSL;
根据工艺过程的实际应用,确定工艺过程偏差σ和工艺过程目标值T;
检测并获取工艺过程的实际平均值μ;
根据控制要求,从第一模型和第二模型中选择一个作为估计加工能力的估计模型,其中,在关注每百万单位中落到工作过程预定标准之外的缺陷部分的值DPPM的应用中,选择第二模型,而在其它应用中选择第一模型;该第一模型和该第二模型中,对于不处于LSL和USL中间位置的T,所得到的加工能力估计值在T的两侧成比例地对称,即根据第一模型或者第二模型估计得到的实际加工能力率Cpk符合:Cpk(μ=T-a)=Cpk(μ=T+γ*a),其中a表示从目标值T的偏移;
根据所选择的模型,使用参数USL、LSL、σ、T和μ计算理论加工能力率Cp和实际加工能力率Cpk;
根据所获得的Cp和Cpk对工艺过程进行控制或者调整;其中,
所述第一模型定义为:
Cpk4=Cp(1-k)
所述第二模型定义为:
Cpk5=Cp(1-k)
。
2.一种工艺过程加工能力的估计装置,包括:
预定参数获取组件,用于根据预定标准获取预定的参数,包括根据预定标准确定的上限USL、下限LSL,以及根据工艺过程的实际应用确定的工艺过程偏差σ和工艺过程目标值T;
运行参数获取组件,用于获取工艺过程运行过程中的参数,包括实际平均值μ;
加工能力估计模型,包括第一模型和第二模型,加工能力估计模型根据具体的控制要求选择其中的一个模型,其中,在关注每百万单位中落到工作过程预定标准之外的缺陷部分的值DPPM的应用中,选择第二模型,而在其它应用中选择第一模型;该第一模型和该第二模型中对于不处于LSL和USL中间位置的T,所得到的加工能力估计值在T的两侧成比例地对称,即根据第一模型或者第二模型估计得到的实际加工能力率Cpk符合:Cpk(μ=T-a)=Cpk(μ=T+γ*a),其中a表示从目标值T的偏移;
加工能力估计装置,根据加工能力估计模型提供的模型,在预定参数获取组件获取的参数USL、LSL、σ、T以及运行参数获取组件获取的参数μ的基础上对理论加工能力率Cp和实际加工能力率Cpk进行估计;
工艺过程控制装置,根据加工能力估计装置估计的Cp和Cpk对工艺过程进行调整和控制;其中,
所述第一模型定义为:
Cpk4=Cp(1-k)
所述第二模型定义为:
Cpk5=Cp(1-k)
。
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