[发明专利]液晶显示器件电光特性与平均倾斜角对应关系的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶显示器件的电光特性与液晶分子平均倾斜角(Average tilt angle)对应关系的检测方法。

背景技术

液晶显示器件的电光效应是指液晶在外加电场的作用下，分子的排列状态改变引起液晶显示器件的光学特性随之改变的一种电的光调制现象。电光特性是液晶显示器件光学显示特性与外加电场的对应关系，相关图谱主要包括电光特性曲线、对比度曲线、等对比度图等。

液晶分子倾斜角是描述液晶分子排列状态的重要参量，其大小、分布直接关系到液晶显示器件显示的均匀性和电光性能，在外加电场的作用下，倾斜角随外加电场的改变而改变，从而使液晶显示器件的光学特性发生变化。平均倾斜角是综合实际液晶显示器件厚度方向预倾角的分布情况、用来衡量整个液晶显示器件中液晶分子的倾斜程度的一个折合数值。

目前的测试手段可满足电光特性和原生态平均倾斜角(不施加任何外加电场)的测试，但在日常的生产和研究中，需要透彻了解在施加外加电场时电光特性与平均倾斜角的对应关系，以便对液晶显示器件的制备工艺、材料、结构做出适当调整，使液晶显示器件获得最佳的液晶显示器件显示性能。现有的检测电光特性与平均倾斜角的对应关系的方法，主要依赖于设计软件进行模拟间接实现，而进行模拟需要提供详细和精确的参数，如图1的液晶显示器件要获得较为准确的结果，就需要提供偏光片8、9的角度和光学补偿量，透明基板1、2的厚度和折射率，取向层6、7的厚度和折射率，电极4、5的厚度和折射率，液晶层3的厚度，液晶对寻常光和非常光的折射率，以及液晶的展曲系数、扭曲系数、弯曲系数等，这就要求购置相关的软件并进行附加测试，不但增加了整个检测过程的成本和复杂程度，还降低了工作效率，同时由于模拟软件模型一般需要经过简化，因此检测结果和实际产品存在不同程度的差异。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种液晶显示器件电光特性与平均倾斜角对应关系的检测方法，这种检测方法操作简单、工作效率高，而且能够确切获得电光特性与平均倾斜角的对应关系。采用的技术方案如下：

一种液晶显示器件电光特性与平均倾斜角对应关系的检测方法，

包括以下步骤：

(1)液晶显示器件像素的电气导通，具体做法为：选定需要检测的像素，利用导电材料将液晶显示器件上选定像素对应的电极用导线连接出来(注意保持良好的电气连接性和连接结构的稳定性)，使选定像素对应的电极与外置电源连接；

(2)测试液晶显示器件的电光特性，即测试液晶显示器件选定像素在不同的外加电压作用下的光学显示特性，具体做法为：在选定像素对应的电极间施加外加电压，改变选定像素上外加电压的大小，同时检测选定像素的光学显示特性，得到选定像素在不同的外加电压作用下对应的光学显示特性；

(3)测量液晶显示器件选定像素在不同外加电压作用下的平均倾斜角，具体做法为：在与步骤(2)相同的环境下(即环境温度、磁场强度等与步骤(2)相一致)，在选定像素对应的电极间施加外加电压，改变选定像素上外加电压的大小，选定像素上的各个外加电压的取值与步骤(2)中的各个外加电压一致，并用平均倾斜角测试仪器同步检测平均倾斜角，得到选定像素在不同外加电压作用下对应的平均倾斜角；

(4)结合步骤(2)得到的在不同的外加电压作用下的光学显示特性和步骤(3)得到的不同外加电压下对应的平均倾斜角，得到不同外加电压条件下液晶显示器件选定像素光学显示特性与平均倾斜角的对应关系(同一外加电压下得到的光学显示特性和平均倾斜角是相对应的)，即电光特性与平均倾斜角的对应关系。

测试液晶显示器件(如图1的液晶显示器件)的电光特性时，需要根据具体产品的要求，设定检测条件(如驱动路数、偏压比、驱动波形、驱动频率等，液晶显示器件测试过程中，这些参数都必须是固定的)，得到电光特性图谱，主要包括透过率曲线、对比度曲线图、等对比度图等。其中透过率曲线是透过率(通过对阈值、饱和值进行检测得到)随电压的变化曲线；对比度曲线图包含3条曲线，即选态波形驱动的透过率与电压变化的关系曲线、非选态波形驱动的透过率与电压变化的关系曲线、对比度与电压变化的关系曲线；等对比度图包含选态电压的透过率随视看方向变化的分布图、非选态电压的透过率随视看方向变化的分布图、对比度随视看方向变化的分布图。目前液晶显示器件相关性能的测试仪器都可以实现上述电光特性曲线的测量，如autronic-MELCHERS的DMS系列、BONA的EO-100等。