[发明专利]利用金属过渡层转移GaN衬底的激光剥离方法无效
| 申请号: | 200710009396.6 | 申请日: | 2007-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN101118850A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
| 发明(设计)人: | 陈松岩;张小英;汪建元;赖虹凯 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
| 主分类号: | H01L21/18 | 分类号: | H01L21/18;H01L21/20 |
| 代理公司: | 厦门南强之路专利事务所 | 代理人: | 马应森 |
| 地址: | 361005福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 利用 金属 过渡 转移 gan 衬底 激光 剥离 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种利用金属过渡层键合硅(Si)和氮化镓(GaN),结合激光剥离技术将蓝宝石衬底上的GaN转移到Si衬底上的方法。
背景技术
GaN基材料由于其连续可变的直接带隙,优良的光、电性质,优异的物理、化学稳定性,使其在短波长半导体光电子器件以及高温、高压、高频微电子器件制备领域中有着广泛的应用。由于自然界中缺乏天然GaN单晶,目前GaN通常长在异质的衬底上,如蓝宝石和SiC。因为蓝宝石的晶格结构与GaN类似,并且价格比SiC便宜,因此成为首选的衬底(段猛,郝跃.GaN基蓝色LED的研究进展[J].西安电子科技大学学报,2003,30:60-65)。但蓝宝石与GaN有16%的晶格失配,造成外延晶片结构中存在高密度的线位错,从而限制了GaN外延层的质量和厚度(1、Plano W E,MajorJ S,Welch D F.X-ray studies ofhigh quality GaN grown on 0001sapphire[J].Electronics Letters,1994,30:2079-2081;2、Shen X Q,Matsuhata H,Okumura H.Reduction of the threading dislocation density in GaN films grown on vicinal sapphire(0001)substrates[J].Appl.Phys.Lett.,2005,86:021912-021914);另外,Al2O3导热性较差,热导率约为0.5W/cm·K,这使得GaN基器件的散热问题突出,在大功率器件和LD中尤其严重;同时Al2O3的导电性能也不好,常温下电阻率大于1011Ω·cm,这使得普通LED采用的上下电极垂直结构在GaN基LED中也不再适用,必须采用p、n电极同侧的台面电极结构,器件制备工艺复杂,影响了器件的电流扩散和输出光功率等特性(王婷,郭霞,方圆等.激光剥离技术制备GaN/metal/Si的结构和光学特性研究[J].功能材料,2007,38(1):88-90.)。
键合技术和激光剥离技术相结合实现GaN外延层衬底转移是制备基于激光剥离技术的垂直结构GaN基LED的关键(1、Z.S.Luo,Y.Cho,V.Loryuenyong,T.Sands,et al.Enhancementof(In,Ga)N Light-Emitting Diode Performance by Laser Liftoff and Transfer From Sapphire toSilicon[J].IEEE Photonics Technology,2002,14(12):1400-1402;2、J.Arokiaraj,_,C.B.Soh,X.C.Wang,et al.Integration of GaN thin films to SiO2-Si(100)substrates by laser lift-off and waferfusion method[J].Superlattices and Microstructures,2006,40:219-224;3、Chung-Pui Chan,Jie Gao,Tai-Man Yue,et al.Study of Laser-Debonded GaN LEDs[J].IEEE Transactions on electrondevices,2006,53(9):2266-2272;4、S.C.Hsu and C.Y.Liu.Fabrication ofThin-GaN LED StructuresbyAu-Si Wafer Bonding[J].Electrochemical and Solid-State Letters,2006,9(5):G171-G173.)。
发明内容
本发明的目的是提供一种利用金属过渡层转移GaN衬底的激光剥离方法。利用金属过渡层的低温键合和激光剥离将GaN从蓝宝石衬底上转移到Si衬底上,实现GaN基材料和器件在Si基上的集成。
本发明的技术解决方案是:采用两步法用键合机将GaN和Si键合在一起,在空气中直接用合适波长的紫外激光透过蓝宝石衬底辐照氮化镓(GaN)/金属(metal)/硅(Si)样品,界面处的GaN被分解后,蓝宝石可以很容易地被去掉,即可得到Si衬底上的GaN。
本发明包括以下步骤:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





