[发明专利]用于配置半导体电路的装置和方法

权利要求书

1.一种用于配置具有至少两个相同或相同类型的功能单元的半导体电路的方法，其特征在于，在相同或相同类型的功能单元的至少一个功能单元中出现错误时识别并停用有错的单元。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，半导体电路的所述配置作为制造过程、测试过程、诊断过程或维护过程的过程步骤进行。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，半导体电路分别有至少两个相同或相同类型的功能单元可以切换到这样一个运行模式下，在该运行模式中这些功能单元执行相同的函数、指令、程序段或程序，并且可以将这些功能单元的输出信号相比较。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述识别有错的功能单元是这样来进行的，将该功能单元的输出信号与参考值相比较。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述切换的启动和/或至少两个功能单元的输出信号的交替比较和/或输出信号与参考值的比较可以用外部的制造装置、测试装置或诊断装置执行，该外部的制造装置、测试装置或诊断装置不是半导体电路的部件。

6.根据上述权利要求之一所述的方法，其特征在于，至少为半导体电路的识别为有错的功能单元建立配置状态和/或错误状态。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，功能单元的停用这样进行，将关于该功能单元的配置状态或错误状态的信息存储在存储装置中，使得该信息可以在半导体系统初始化和/或运行时被读取出，并且处理所存储的信息，使得不能在运行时使用标记为有错的单元。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，半导体电路的至少一个功能单元的配置状态或错误状态的获得和/或该信息在存储装置中的存储可以通过外部的制造装置、测试装置或诊断装置执行，该外部的制造装置、测试装置或诊断装置不是半导体电路的部件。

9.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，不可逆地停用被识别为有错的单元。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，中断与半导体电路的功能单元的电连接或者半导体电路的功能单元之间的电连接。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，中断半导体电路上的电连接通过机械作用于半导体电路来实现。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，中断半导体电路上的电连接通过化学作用于半导体电路来实现。

13.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，中断在半导体电路上的电连接通过光学作用于半导体电路来实现。

14.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，中断半导体电路上的电连接通过电作用于半导体电路来实现。

15.根据权利要求9至14中任一项所述的方法，其特征在于，功能单元的停用由外部的制造装置、测试装置或诊断装置执行。

16.一种用于配置具有至少两个相同或相同类型的功能单元的半导体电路的装置，其特征在于，具有用于在相同或相同类型的功能单元的至少一个功能单元中识别错误并停用有错的单元的装置。

17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，具有切换装置，利用该切换装置可以将至少两个相同或相同类型的功能单元切换到这样一个运行模式下，在该运行模式中这些功能单元执行相同的函数、指令、程序段或程序。

18.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，具有比较装置，利用该比较装置将至少两个功能单元的输出信号相比较。

19.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，具有比较装置，利用该比较装置将至少一个功能单元的输出信号与参考值相比较。

20.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，具有存储装置，用于存储识别有错的功能单元的参考值。

21.根据权利要求18至20中任一项所述的装置，其特征在于，所述比较装置和/或存储装置至少部分位于半导体电路上。

22.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，在半导体电路上具有接收装置，该接收装置用于接收制造装置、测试装置、诊断装置和维护装置的信号。