[实用新型]电子元件的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别涉及一种电子元件的测试装置。

背景技术

大家都知道，半导体产业技术进步迅速，晶片的制造过程不断提高，已经由0.18微米进步到现在的0.13微米，晶粒是愈做愈小，所以使电子产品愈渐小型化，降低了生产成本，提高了经济效益。同样，电阻、电容和电压器甚至直流电阻阻抗(DCR)等元件也是朝此趋势发展。

但是，小型化的产品在制作、品保过程中，因体积小、脚距窄使操作人员在检验或测试时不易测量，还会因人为疏忽而产生误差，导致最终组装成品的不合格率提高。例如：以往使用电感电容电阻测试器(LCR-meter)测量参数数据时通常是利用手持探测棒的方法来测量，由此很可能会因手指颤动而造成误差值过大或误判断，并且在测量时还需考验操作人员的稳定度以及耐心，除了造成品质不稳定延误出货外，还会产生操作人员由于赶工加班而心情浮躁、情绪不佳的负面效果。

发明内容

为克服现有技术的缺点，本实用新型的目的是提供一种可精确、快速地对电子元件进行测试的装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种电子元件的测试装置，它包括：座体，其可向测试物提供一适当的测试位置；后垣壁，其垂直设置在所述座体上；测试座，其设置在后垣壁上，该测试座上设有动作臂，该动作臂垂直于所述座体并由驱动机构驱动；测具，其设置在后垣壁上，并与所述动作臂的下方连接；在测具下前方设有与所述测试位置相对的测针座，该测针座上设有测试探针；测具上还设有与所述测针座相连的调整装置，该调整装置用来调整测具的可测范围；测试座的动作臂受压后可下压测具，使测具的测试探针与测试物接触，从而进行测试。

上述测具包括一滑轨，所述测针座由左、右两个测针座组成并套设在所述滑轨的中央，每个测针座上均包括一测试探针；在测针座的两侧各设有一调整装置，该调整装置设在所述滑轨内，每个调整装置都包括弹簧、穿过弹簧中心的螺杆、旋钮和设在弹簧和旋钮之间的顶块。

上述测试探针为子母式探针，允许大电流测试，且可利用中心的子探针做感应，以实现四端测试。

上述动作臂的下压动作可由压杆驱动，也可由气缸驱动。

本实用新型的电子元件的测试装置具有下列优点：

1)本实用新型的装置在测试时使用了机械装置，提高了测量的稳定性，减少了人为误差的发生概率，具有很高的精确率。

2)本实用新型的装置具有测距调整机构，测试物换线时仅需调整该调整机构的左右旋钮，以适应具有不同脚位距离的测试物，由此扩大了测试面积，极具实用性和经济价值。

3)本实用新型的装置大大缩短了测试时间，可迅速测量元件特性的优劣，生产效率高。

4)本实用新型的装置具有小型化的优点，可适合空间狭小的场地使用，不受空间的限制，在任何地方都可以方便地操作。

附图说明

图1为本实用新型电子元件的测试装置的立体图；

图2为本实用新型电子元件的测试装置的部分主视图；

图3为本实用新型电子元件的测试装置的动作示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型的电子元件的测试装置包括座体10、后垣壁41、测试座40和测具30。

其中，所述座体10可向测试物20提供一适当的测试位置11，所述后垣壁41垂直设置在所述座体10上。所述测试座40设置在后垣壁41上，该测试座上设有动作臂42，该动作臂垂直于所述座体10并可由设在其上方的压杆43驱动。所述测具30设置在后垣壁41上，并与所述动作臂42的下方连接。所述测具30包括一滑轨33，在测具下前方设有与所述测试位置11相对的测针座31，该测针座上设有测试探针311，测针座31套设在所述滑轨的中央。测具30上还设有与所述测针座相连的调整装置32，该调整装置用来调整测具30的可测范围。

所述调整装置32通常需视测试探针311的数量而定，如图2所示，所述测针座31可以由左、右两个测针座组成并套设在所述滑轨33的中央，每个测针座上都包括一个测试探针。在测针座31的两侧各设有一调整装置32，该调整装置设在所述滑轨内，每个调整装置都包括弹簧324、穿过弹簧中心的螺杆323、旋钮321和设在弹簧和旋钮之间的顶块325。