[发明专利]半导体器件的制造方法有效
申请号: | 01124761.4 | 申请日: | 2001-08-03 |
公开(公告)号: | CN1337737A | 公开(公告)日: | 2002-02-27 |
发明(设计)人: | 池谷浩司 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘宗杰,叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 制造 方法 | ||
1.一种半导体器件的制造方法,该半导体器件在具有多个搭载部分的基板的该搭载部分的每一个上固定半导体芯片,用共同的树脂层把固定在上述各搭载部分的上述半导体芯片的每一个覆盖以后,使上述基板与上述树脂层搭接粘贴在粘合片上,在粘贴在上述粘合片上的状态下进行切割以及测定,进而把粘贴在上述粘合片上的半导体元件直接收容在承载带上,其特征在于:
上述半导体元件在测定以后,把各个位置和特性进行数据管理,上述半导体元件按照不同特性收容在承载带上。
2.如权利要求1中所述的半导体器件的制造方法,其特征在于:
上述半导体元件至少以一条承载线按照不同特性把上述半导体元件收容在承载带上。
3.如权利要求1中所述的半导体器件的制造方法,其特征在于:
固定上述粘合片的周边的金属框具有各个条形码,用该条形码进行数据管理。
4.如权利要求1中所述的半导体器件的制造方法,其特征在于:
在上述粘合片上粘贴多个上述基板,管理上述半导体元件的多个数据。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造