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- [发明专利]电子部件试验装置-CN200480012837.2无效
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伊藤明彦;山下和之
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株式会社爱德万测试
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2004-05-28
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2006-06-14
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G01R31/26
- 一种电子部件试验装置,将IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)推压到测试头的接触部进行试验;其中:至少具有IC移动装置(410)、第一摄像机(415)、第二摄像机(420)、图像处理装置;该IC移动装置(410)由把持部(414)把持着IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)导出的前面使其移动;该第一摄像机(415)对把持之前的上述IC芯片(IC)的前面进行摄像;该第二摄像机(420)对把持着的IC芯片(IC)的背面进行摄像;该图像处理装置从由第一摄像机(415)和第二摄像机(420)摄像获得的图像信息,计算出已由IC移动装置(410)把持的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)的位置,根据该计算结果,确定已由IC移动装置(410)把持的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)相对接触部的相对位置;IC移动装置(410)根据由图像处理装置确定的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)相对接触部的相对位置
- 电子部件试验装置
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