专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]集成电路设备-CN201710290116.7有效
  • J·A·塞尔瑟多;D·J·克拉克 - 亚德诺半导体集团
  • 2017-04-28 - 2021-01-26 - H01L27/06
  • 公开了一种用于保护电路免受瞬态电事件的集成电路设备集成电路设备包括:半导体衬底,其中形成有双极半导体整流器(SCR),其具有电连接到第一端子的阴极/阳极和与第二端子电连接的阳极/阴极。集成电路设备还包括形成在半导体衬底之上的多个金属化层。集成电路设备还包括在第一侧上形成在半导体衬底中并且与双向SCR相邻的触发设备。触发设备包括一个或多个双极结型晶体管(BJT)或雪崩PN二极管,其中触发设备的第一设备端子与K/A共同连接到T1,并且其中触发设备的第二设备端子通过一个或多个金属化电平电连接到双向SCR的中心区域。
  • 集成电路设备
  • [实用新型]一种集成电路芯片聚合装置-CN202220489342.4有效
  • 孙坤佳;郭建伟 - 华电(烟台)功率半导体技术研究院有限公司
  • 2022-03-03 - 2022-08-09 - H01L21/677
  • 本实用新型公开一种集成电路芯片聚合装置。本实用新型提供一种集成电路芯片聚合装置,包括第一集成电路芯片传输带、第二集成电路芯片传输带、集成电路芯片测试台、第一聚合气缸、第二聚合气缸、集成电路芯片输出设备集成电路芯片测试设备,可通过第一集成电路芯片传输带、第二集成电路芯片传输带将集成电路芯片测试设备输出的需要测试的两个集成电路芯片分别传输到集成电路芯片测试台上,并通过第一聚合气缸、第二聚合气缸分别将两个集成电路芯片聚合到集成电路芯片测试台上的测试位置,从而便于后续利用集成电路芯片测试设备对两个集成电路芯片进行测试,显著提升对一组成对的集成电路芯片进行互连测试的效率。
  • 一种集成电路芯片聚合装置
  • [发明专利]一种集成电路的测试校准方法-CN202111263426.2在审
  • 王涛;曹振 - 成绎半导体(苏州)有限公司
  • 2021-10-28 - 2022-03-18 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种集成电路的测试校准方法,其步骤为:1)首先,得到待测集成电路的实际时钟频率;2)按实际时钟频率,测试设备发送命令至待测集成电路的指定引脚;3)通过移位寄存器接收命令;4)解析接收到的命令,对待测集成电路中的相应功能模块进行测试或参数配置;5)待测集成电路将执行命令的情况发回至测试设备,测试设备对接收到的数据进行分析,如果数据完整,则接收完成,如果还要继续对待测集成电路进行测试或参数配置,则重置待测集成电路,并转至步骤2);6)如果测试和参数配置全部完成,测试设备将锁定待测集成电路的命令发至待测集成电路,待测集成电路执行锁定操作。该测试校准方法可广泛应用于各种集成电路的设计中。
  • 一种集成电路测试校准方法
  • [实用新型]一种集成电路烧录电路设备-CN202223063147.4有效
  • 杨崇樟 - 深圳市华力宇电子科技有限公司
  • 2022-11-18 - 2023-05-05 - G05B19/042
  • 本实用新型公开了一种集成电路烧录电路设备,涉及集成电路测试技术领域,集成电路烧录电路包括集成电路自动测试设备电路、隔离调压电路,隔离调压电路集成电路自动测试设备电路的连接,用于从集成电路自动测试设备电路获取设定电压电源,并根据烧录指令施加到待烧录的集成电路引脚上。将隔离调压电路与测试仪电路结合,形成新的结构的测试仪。本实用新型电路简单,成本低,能够调整施加到待测试芯片VPP电压的作用,扩展了测试仪的功能,实现对不同测试烧录电压要求的效果。
  • 一种集成电路电路设备
  • [实用新型]一种集成电路引脚折弯设备-CN202022804761.6有效
  • 薛宇霆;叶海林;朱维忠;王韩冰 - 苏州市佰琍轩自动化科技有限公司
  • 2020-11-29 - 2021-10-01 - B21F1/00
  • 本实用新型公开了一种集成电路引脚折弯设备,包括设备底座、脚垫、载放台、集成电路引脚、设备支架、连杆、手柄、折弯块,所述脚垫位于设备底座底部,通过集成电路引脚位于载放台上,设备支架安装在设备底座右侧,连杆安装在设备支架上,连杆顶部安装手柄,连杆底部连接折弯块,手柄向下移动带动折弯块向下压将集成电路引脚折弯,折弯块可以快速对集成电路引脚进行折弯,而且可以同时进行两个集成电路引脚的折弯,折弯的效率较人工使用钳子用力拉进行折弯大大提升,而且折弯精度较高,保证集成电路引脚的正常使用。
  • 一种集成电路引脚折弯设备
  • [发明专利]随管芯级可追溯性的过程变化-CN201910793092.6在审
  • J·L·A·勒顿斯;W·多贝拉里;B·A·N·德里尔斯尼德;T·范沃索 - 半导体元件工业有限责任公司
  • 2019-08-27 - 2020-03-24 - H01L21/66
  • 本发明提供了用于唯一地标识集成电路设备、系统和方法。对于至少一个实施方案,一种用于从多个集成电路中标记出给定集成电路的方法包括以下操作:将多个标识符设备制造到多个集成电路的每个集成电路上;测试多个标识符设备中的每个标识符设备以获得针对每个标识符设备的测试结果;将针对制造到每个给定集成电路上的每个标识符设备获得的每个测试结果相关联在一起以形成该给定集成电路的模拟标识符;以及将针对多个集成电路中的每个集成电路的每个模拟标识符存储在数据库中。对于至少一个实施方案,提供了一种用于标识先前根据本公开标记的集成电路的方法。还描述了使用本公开的实施方案标记的商业制品。
  • 管芯追溯过程变化
  • [实用新型]一种集成电路通电测试设备-CN202122370659.4有效
  • 程传承 - 程传承
  • 2021-09-29 - 2022-04-12 - G01R31/28
  • 本实用新型提供了一种集成电路通电测试设备,涉及集成电路技术领域,包括底座、固定板、放置块和集成电路板以及夹持组件,底座顶部固定连接有倒“U”字形结构的固定板,底座顶部固定连接有放置块,放置块顶部开设有放置槽,放置槽内部设置有集成电路板,集成电路板顶部设置有导电杆,集成电路板与放置块之间设置有夹持组件,用于夹持固定集成电路板。该种设备通过放置槽、夹持块和压力弹簧配合使用,能够夹持固定集成电路板,防止集成电路板在测试时出现松动,通过滑杆、调节块、固定板和滑孔的配合使用,能够调节导电杆的位置来应对不同尺寸的集成电路板。
  • 一种集成电路通电测试设备
  • [实用新型]嵌入式系统、调试接口模块以及集成电路模块-CN201922220392.3有效
  • 张吉红;周俊霖 - 珠海艾派克微电子有限公司
  • 2019-12-11 - 2020-10-23 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种嵌入式系统,包括:集成电路单元和通过调试接口开关与其耦合的调试接口,调试接口与调试设备相适配;调试接口能与调试设备耦合从而对集成电路单元进行调试;调试接口开关控制调试接口连接状态。还提供一种调试接口模块,包括上述调试接口和与其耦合的调试接口开关;调试接口开关能将调试接口与集成电路单元接通或断开。还提供一种集成电路模块,包括集成电路单元和与其耦合的调试接口开关;调试接口开关能将集成电路单元与上述调试接口接通或断开。还提供一种嵌入式系统,包括:至少两个测试接口分别与至少两个集成电路单元或非集成电路单元耦合,测试接口能与测试设备耦合,以使测试设备独立地对集成电路单元进行测试。
  • 嵌入式系统调试接口模块以及集成电路

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