专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果3761534个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]具有近场产生层的薄膜磁头-CN200610167767.9无效
  • 岛沢幸司;田上胜通 - TDK株式会社
  • 2006-12-18 - 2007-06-20 - G11B11/105
  • 提供了一种具有这样一种结构的薄膜磁头,在该结构中,元件成形表面和面对介质的表面彼此垂直,光源足够远离介质表面。该磁头包括至少一个近场产生层,该至少一个近场产生层用于在写操作期间通过产生近场加热部分磁介质,具有向着面对介质的表面侧的头端表面逐渐变细的形状,并且包括一个具有接收表面和一个尖端的近场产生部分,该尖端触及面对介质的表面侧的头端表面,该接收表面相对于元件成形表面倾斜并被设置在使从与面对介质的表面相对的头端表面传播的入射光能够到达该接收表面的至少一部分的位置。
  • 具有近场产生薄膜磁头
  • [发明专利]热辅助磁头元件的检查装置及其方法-CN201610181780.3在审
  • 张开锋;广濑丈师;渡边正浩;杉山敏教;飞田明 - 株式会社日立高新技术高精细系统
  • 2016-03-28 - 2016-10-12 - G01Q60/06
  • 本发明提供一种热辅助磁头元件的检查装置及其方法。在热辅助磁头的检查中,即使悬臂的测定探针的直径对于每个悬臂具有偏差,也能够保证进行高精度的检查。热辅助磁头元件的检查装置具备:悬臂;位移检测系统,其检测悬臂的位移;检测器,其检测来自悬臂的散射;信号处理部,其接收来自位移检测部的输出信号和来自检测器的输出信号对信号进行处理;以及控制部,其对整体进行控制,还具备:载置部,其载置近场产生样本;激光源,其发射激光;激光照射光学系统,其将激光照射到近场产生样本而产生近场;以及工作台部,其载置载置部和激光照射光学系统来使近场产生样本在悬臂正下方与从悬臂离开的位置之间进行移动
  • 辅助磁头元件检查装置及其方法
  • [发明专利]近场产生元件近场光头以及信息记录再现装置-CN200780042853.X有效
  • 平田雅一;大海学;朴马中 - 精工电子有限公司
  • 2007-11-09 - 2009-09-16 - G11B5/02
  • 本发明提供近场产生元件近场光头以及信息记录再现装置。近场产生元件(22)具有:多面体状的芯体(40),其具有反射面(40a)、光束会聚部(40b)和近场生成部(40c),上述反射面(40a)使光束(L)向不同于导入方向的方向反射,上述光束会聚部(40b)以与从一端侧朝向另一端侧的长度方向正交的截面面积逐渐减小的方式收缩成形,并用于使反射后的光束在会聚的同时向另一端侧传播,上述近场生成部(40c)从上述光束会聚部的端部朝向另一端侧进一步收缩成形,而且用于自会聚起来的光束生成近场(R)并从另一端侧向外部发出该近场;以及包层(41),其与芯体的侧面紧密接触地将芯体封闭在该包层的内部,端面(40d)形成为在的波长以下的尺寸,近场生成部的侧面被遮光膜(42)遮挡。
  • 近场产生元件光头以及信息记录再现装置
  • [发明专利]抑制跳模的影响的热辅助磁记录头-CN201510040982.1有效
  • 宫本治一 - HGST荷兰有限公司
  • 2015-01-27 - 2018-01-02 - G11B5/127
  • 在一个实施例中,一种器件包括激光单元,所述激光单元被配置为产生激光,所述激光单元在平行于激光发射的方向中具有长度的激光谐振器;以及,滑块,所述滑块在垂直于滑块的面向介质的表面的方向中具有长度,所述滑块包括主磁极,所述主磁极被配置为向磁介质写入数据;近场生成元件,所述近场生成元件被配置为当向其提供激光时产生近场,以在通过加热磁介质的局部区域而向磁介质写入数据中辅助主磁极;以及,波导,所述波导被配置为将激光引导到元件,波导包括围绕芯的包层,其中,激光谐振器的纵模的间隔等于波导的干涉周期的整数倍的大约5%内。
  • 抑制影响辅助记录
  • [发明专利]磁记录头以及具备其的磁盘装置-CN201410051683.3在审
  • 山田裕一 - 株式会社东芝
  • 2014-02-14 - 2015-04-29 - G11B5/31
  • 根据实施方式,磁记录头具备:与盘状的记录介质(16)的记录层相对的介质相对面;近场发生元件(65),其设置成一部分相对于介质相对面露出并产生将记录介质加热的近场;和磁极(60),其具有相对于介质相对面露出的顶端面(60a)和与近场发生元件相对的磁极端面(60b),并向记录介质的记录层施加记录磁场。在介质相对面上,磁极端面(60b)形成为相对于在近场发生元件的中心通过并在介质相对面的长度方向上延伸的中心轴线不对称。
  • 记录以及具备磁盘装置
  • [发明专利]基于径向偏振光束的双加工头激光加工装置-CN201610017166.3有效
  • 詹秋芳;高秀敏;张荣福 - 上海理工大学
  • 2016-01-12 - 2017-05-31 - B23K26/064
  • 本发明涉及一种基于径向偏振光束的双加工头激光加工装置,固态增益介质元件外侧设置有圆形型泵浦源,圆形型泵浦源出射的泵浦光照射在固态增益介质元件内;固态增益介质元件的内侧路上依次设有第一反射镜和高反射腔镜,固态增益介质元件外侧路上依次设有第二反射镜和圆锥面光场调节元件;高反射腔镜的相对于第一反射镜的另一侧路上设置有光束会聚部件,圆锥面光场调节元件实现腔内径向偏振矢量光束产生,平行光轴场在圆锥面光场调节元件的顶端平面发生反射,在圆锥面光场调节元件的顶端平面外侧形成近场激光加工场。本发明可实现超衍射尺寸近场加工、可实现纵向偏振激光加工、便于构建、可靠性高、灵活性强、应用范围广等特点。
  • 基于径向偏振光束工头激光加工装置
  • [发明专利]半导体发光元件-CN201510029040.3有效
  • 邱新智;陈世益;吕志强 - 晶元光电股份有限公司
  • 2015-01-21 - 2019-09-03 - H01L33/26
  • 本发明公开一种半导体发光元件,包含一外延叠层具有一第一半导体层、一第二半导体层以及一有源层位于该第一半导体层以及该第二半导体层之间用以产生一光波;以及一主要出光面位于该第一半导体层之上,该光波穿透过该主要出光面;其中,该主要出光面包含一第一出区域、一第二出区域以及一最大近场发光强度,该第一出区域内的近场发光强度分布介于该最大近场发光强度的70%到100%之间,该第二出区域内的近场发光强度分布介于该最大近场发光强度的
  • 半导体发光元件

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top