专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]嵌入式晶片级光学传感器封装-CN202110685459.X在审
  • 栾竟恩 - 意法半导体有限公司
  • 2021-06-21 - 2022-01-07 - H01L27/146
  • 本公开涉及具有嵌入式光传感器和嵌入式光发射器的传感器及其制造方法。传感器片中的光发射器被树脂围绕。传感器被并入到半导体装置封装件及其制造方法中。半导体装置封装件包括传感器的光传感器的第一透光结构、以及传感器的光发射器的第二透光结构。第一透光结构和第二透光结构分别覆盖和保护光传感器和光发射器。模制化合物在传感器的表面上并且覆盖传感器的第一透光结构的侧壁和第二透光结构的侧壁。
  • 嵌入式晶片光学传感器封装
  • [实用新型]半导体装置-CN202121377712.7有效
  • 栾竟恩 - 意法半导体有限公司
  • 2021-06-21 - 2022-01-28 - H01L23/31
  • 本公开涉及具有嵌入式光传感器和嵌入式光发射器的传感器。传感器片中的光发射器被树脂围绕。传感器被并入到半导体装置封装件中。半导体装置封装件包括传感器的光传感器的第一透光结构、以及传感器的光发射器的第二透光结构。第一透光结构和第二透光结构分别覆盖和保护光传感器和光发射器。模制化合物在传感器的表面上并且覆盖传感器的第一透光结构的侧壁和第二透光结构的侧壁。通过该半导体装置,可以减小半导体装置封装件的轮廓、厚度和大小。
  • 半导体装置
  • [发明专利]边缘带凹口衬底封装以及相关联的系统和方法-CN202111072006.6在审
  • O·R·费伊;M·E·瓦勒;J·L·沃尔茨;D·W·萨瑟恩 - 美光科技公司
  • 2021-09-14 - 2022-04-01 - H01L25/18
  • 所述装置大体包含衬底,所述衬底具有前侧、具有衬底触点的背侧和处于所述衬底的边缘处的向内凹口。所述装置包含,所述具有附接到所述衬底的所述前侧的作用侧并且定位成使得能够从所述衬底的所述背侧穿过所述向内凹口接入所述的接合衬垫。所述装置包含线接合件,所述线接合件布设穿过所述向内凹口并且将所述的所述接合衬垫电耦合到所述衬底触点。所述装置可另外包含第二,所述第二具有附接到所述第一的所述背侧的作用侧并且定位成从所述第一横向偏移以使得能够在所述第一的所述边缘周围穿过所述向内凹口接入所述第二接合衬垫。
  • 边缘凹口衬底封装以及相关系统方法
  • [发明专利]离子注入机台水汽的检测方法-CN201410427604.4有效
  • 国子明;郭国超;王毅;姚雷 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2014-08-27 - 2014-11-19 - H01L21/66
  • 本发明采用对进行离子注入,比较离子注入前后表面的颗粒物的数量差值,从而判断离子注入机台的水汽含量是否超标。上述检测方法利用了注入的离子流快速定向移动,在上表面空间以及附近区域的空间形成压强差,离子注入机台内的水汽在上述压强差下定向运动聚集在上表面空间,聚集在上表面空间的水汽在不断持续的离子注入流带动下进一步聚集在表面,即将离子注入机台的水汽反映在的颗粒物,如此,通过对离子注入前后的进行扫描,采用同一预定颗粒检验程式统计颗粒物的数量,若上述数量超过预定差值,则认为离子注入机台的水汽含量超标。
  • 离子注入机台水汽检测方法
  • [发明专利]半导体封装方法及半导体封装结构-CN202011218428.5在审
  • 周辉星 - 矽磐微电子(重庆)有限公司
  • 2020-11-04 - 2022-05-06 - H01L21/48
  • 所述半导体封装方法包括:形成包封结构,包封结构包括包封层及第一,包封层设有内凹的腔体,第一位于腔体内,第一的正面设有焊垫;在第一的正面形成第一导电结构,第一导电结构包括与第一的焊垫电连接的第一再布线层以及第一导电凸柱;将第二贴装在第一再布线层背离第一的一侧,所述第二的正面背离所述第一再布线层;形成第二导电结构,第二导电结构将第一导电凸柱与第二的焊垫电连接;在包封层形成通孔;形成第三导电结构,第三导电结构通过位于通孔中的第一导电部与第一导电结构电连接
  • 半导体封装方法结构
  • [发明专利]接近度和测距传感器-CN201610180174.X有效
  • E·索吉尔;黄永盛;D·加尼 - 意法半导体(格勒诺布尔2)公司;意法半导体有限公司
  • 2016-03-25 - 2020-10-09 - H01L25/16
  • 其中,一种具有相对小的占用面积的接近度传感器包括衬底、半导体、发光器件和帽盖。该发光器件覆盖该半导体。该半导体固定到该衬底并且包括能够检测来自该发光器件的光的传感器区域。该帽盖也固定到该衬底并且包括阻止该发光器件发出的一部分光到达该传感器区域的挡光板。在一个实施例中,该发光器件和该半导体定位在该衬底的同一侧,其中,该发光器件定位在该半导体。在另一个实施例中,该发光器件定位在该衬底的一侧而该半导体定位在该衬底的相反侧
  • 接近测距传感器
  • [实用新型]接近度传感器-CN201620241230.1有效
  • E·索吉尔;黄永盛;D·加尼 - 意法半导体(格勒诺布尔2)公司;意法半导体有限公司
  • 2016-03-25 - 2016-10-12 - H01L25/16
  • 其中,一种具有相对小的占用面积的接近度传感器包括衬底、半导体、发光器件和帽盖。该发光器件覆盖该半导体。该半导体固定到该衬底并且包括能够检测来自该发光器件的光的传感器区域。该帽盖也固定到该衬底并且包括阻止该发光器件发出的一部分光到达该传感器区域的挡光板。在一个实施例中,该发光器件和该半导体定位在该衬底的同一侧,其中,该发光器件定位在该半导体。在另一个实施例中,该发光器件定位在该衬底的一侧而该半导体定位在该衬底的相反侧
  • 接近传感器

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