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- [发明专利]使用胶乳粒子的免疫测定方法-CN201010281100.8无效
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笠置典之;桑原知子;渡边裕也
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富士胶片株式会社
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2010-09-09
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2011-04-20
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G01N33/545
- 本发明的一个目的是提供具有高生产再现性的胶乳粒子,通过其可以在免疫诊断中实现足够高的信号ΔS值(=信号值-噪声值)。本发明提供了一种测定方法,其包括以下步骤:(1)使待测物质与结合物质标记的荧光胶乳粒子接触或竞争,所述结合物质标记的荧光胶乳粒子通过使结合物质与荧光胶乳粒子结合而获得,以及(2)测量来自结合物质标记的荧光胶乳粒子的荧光,其中:(a)所述荧光胶乳粒子是通过将荧光物质加入至胶乳粒子而获得,所述胶乳粒子的特征在于所述胶乳粒子的表面上存在的COOH基团的量为40μeq/g至300μeq/g,或(b)所述荧光胶乳粒子包含胶乳粒子和荧光物质,其特征在于所述荧光胶乳粒子的表面上存在的COOH基团的量为40μeq/g至300μeq/g。
- 使用胶乳粒子免疫测定方法
- [发明专利]荧光粒子的检测方法-CN201280038085.1有效
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中田秀孝;田边哲也
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奥林巴斯株式会社
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2012-07-02
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2017-03-15
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G01N21/64
- 一种荧光粒子的检测方法,其包括调制包含荧光粒子和促进前述荧光粒子从三重激发态向单重基态跃迁的物质的试样溶液;以及计数调制的试样溶液中存在的荧光粒子的分子数。计数前述荧光粒子的分子数包括如下工序使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统,在前述试样溶液内移动前述光学系统的光检测区域的位置;一边在前述试样溶液内移动前述光学系统的光检测区域的位置,一边检测由前述光检测区域中的前述荧光粒子发出的光信号,逐个检测前述荧光粒子;和将前述逐个检测到的荧光粒子的个数进行计数而计数前述光检测区域的位置的移动中检测到的前述荧光粒子的个数的工序。
- 荧光粒子检测方法
- [发明专利]发光装置-CN200780011144.5无效
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相原正巳;内藤牧男;阿部浩也
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阿尔卑斯电气株式会社
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2007-03-13
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2009-04-15
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H01L33/00
- 本发明提供一种电流变化和温度变化所带来的光色变动较小的发光装置,该发光装置通过合成半导体发光元件的发光色和荧光体的发光色而得到颜色。其中,在GaN占主体而发出蓝光的半导体发光元件上设置荧光层,并在荧光层上设置属于YAG荧光体的荧光粒子(21)。合成上述蓝光和荧光粒子(21)所发出的黄光而得到白光。二氧化硅等微粒子(22)附着于构成荧光层的荧光粒子(5)的外周上,并且粒子之间形成空气层(23)。该空气层(23)起到隔热层的作用,能够抑制当周围温度变高时荧光粒子(21)的温度上升。因此,荧光粒子(21)的发光效率就很难变动,从而可抑制发光色引起变化。
- 发光装置
- [发明专利]新型荧光微粒-CN200480025786.7无效
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松本和子;西冈琢哉
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学校法人早稻田大学
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2004-09-08
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2006-12-06
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C09K11/06
- 本发明提供了一种包含稀土类荧光配合物的新型氧化硅粒子,其特征在于:在粒子表面具有可结合的官能团,且不受缓冲液、被标记物等外部环境的影响。本发明涉及包含稀土类荧光配合物的氧化硅粒子,更具体地说,涉及在氧化硅粒子的内部层中选择性地包含稀土类荧光配合物、且表面基本上是由氧化硅形成的含稀土类荧光配合物的氧化硅粒子,包含该氧化硅粒子的荧光标记试剂,和使用该氧化硅粒子作为标记试剂的荧光标记方法,以及,使用该荧光标记试剂的荧光测定法和荧光测定法用试剂。
- 新型荧光微粒
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