专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置-CN202210702531.X在审
  • 佟亚军;范家东;江怀东 - 上海科技大学
  • 2022-06-21 - 2022-09-30 - G01N23/2273
  • 本发明涉及一种自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置,其特征在于,包括超连续白光产生模块;时空色散模块;真空腔:X射线自由电子激光从与聚焦后的超连续白光脉冲的入射方向不同的方向射入真空腔内;成像光谱仪:将超连续白光脉冲聚焦在样品上的线成像在成像光谱仪的入射狭缝上;X射线自由电子激光与超连续白光脉冲重叠部分的光谱为发生透射率突变的信号光谱,X射线自由电子激光与超连续白光脉冲未重叠部分的光谱为参考光谱,将发生透射率突变的信号光谱与参考光谱相除获得所需信息。本发明将超连续白光脉冲聚焦成线,同时在该线进行光谱测量,从而对同一个脉冲同时获得了经过相同光路的发生透射率突变的光谱和参考光谱,极大地提高了光谱信噪比。
  • 参考射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置
  • [发明专利]用于校正光谱仪像散与彗差的自由曲面光学器件-CN201310054633.6无效
  • 夏果;陈艳婷;刘康;余飞鸿 - 浙江大学
  • 2013-02-20 - 2013-06-26 - G01J3/28
  • 本发明关于光谱仪器的改进,旨在提供一种用于校正光谱仪像散与彗差的自由曲面光学器件。光谱仪包括光源、入射狭缝、凹面准直镜、平面衍射光栅、凹面成像镜和光电探测器,该自由曲面光学器件位于凹面成像镜与光电探测器之间,自由曲面光学器件的上表面是自由曲面,下表面是平面,下表面与光电探测器叠放在一起本发明设置在光谱仪的光电探测器(线性CCD阵列)上,本发明上表面的自由曲面曲率沿着色散方向和垂直于色散方向分别变化,分别校正光谱仪的子午彗差和像散,提高了集光效率,增加了光谱仪的灵敏度。
  • 用于校正光谱仪自由曲面光学器件
  • [发明专利]一种大带宽高分辨率紧凑型的片上光谱仪及检测方法-CN202211069036.6有效
  • 刘楠;马蔚;骆瑞琦;刘冠东 - 之江实验室
  • 2022-09-02 - 2023-01-10 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种大带宽高分辨率紧凑型的片上光谱仪及检测方法,包括输入端口光栅、微环谐振器、刻蚀衍射光栅以及探测器阵列,各部分之间通过单模波导连接,其中微环谐振器上集成有加热电极,所述加热电极用于调节所述微环谐振器的输出波长,使输出波长覆盖整个自由光谱范围。本发明微环谐振器的输出光谱具有周期性,波长相隔一个自由光谱范围的光从微环谐振器的输出端口输出,记录微环谐振器输出波长调节一个完整的自由光谱范围所需电压,并选取调节电压间隔点数Ncounts;微环谐振器的自由光谱范围FSR等于刻蚀衍射光栅的通道间隔,按照步进点数扫描加热电极电压,即可通过探测器阵列测量完整的光谱,检测方便。
  • 一种带宽高分辨率紧凑型光谱仪检测方法

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