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[发明专利]成像光谱仪-CN201610850290.8有效
发明人：唐玉国;周镇乔;贾宏博 -专利权人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
申请日： 2016-09-26 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明提供一种成像光谱仪，其包括沿光线传输方向依次设置的振镜组或柱面镜、第一透镜、反射镜、第二透镜、二向色镜、物镜、光栅、成像透镜及相机，飞秒激光射向振镜组或柱面镜，经第一透镜聚焦于反射镜，被反射至第二透镜准直并射向二向色镜，二向色镜透射激光而反射荧光，透射过二向色镜的飞秒激光经物镜后射向样品，样品中的荧光粉受激发产生荧光并射向二向色镜，反射至光栅进行光谱分离后经成像透镜成像于相机的感光面。所述成像光谱仪通过飞秒激光对样品进行线照明，利用双光子荧光激发效应的空间选择性，替代了一般光谱仪的狭缝结构，提高了成像光谱仪的荧光探测效率，再通过机械振镜扫描照明线或移动样品即能重构出一幅二维光谱图像。
成像光谱仪

[实用新型]成像光谱仪-CN201621103045.2有效
发明人：周镇乔;贾宏博 -专利权人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
申请日： 2016-10-08 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种成像光谱仪，包括沿光线传输方向依次设置的振镜组或柱面镜、第一透镜、反射镜、第二透镜、二向色镜、物镜、光栅、成像透镜及相机，第一透镜和第二透镜垂直设置，反射镜设于第一透镜的焦点处，样品设置于物镜出射激光的一端，飞秒激光射向振镜组或柱面镜，经第一透镜聚焦于反射镜，被反射至第二透镜准直并射向二向色镜，透射过二向色镜的飞秒激光经物镜后射向样品，样品受激发产生荧光并射向二向色镜，反射至光栅进行光谱分离后经成像透镜成像于相机的感光面成像光谱仪利用双光子荧光激发效应的空间选择性，替代了一般光谱仪的狭缝结构，提高了成像光谱仪的荧光探测效率，再通过机械振镜扫描照明线或移动样品即能重构出一幅二维光谱图像。
成像光谱仪

[发明专利]成像光谱仪-CN91103167.7无效
发明人：李文冲;马春华 -专利权人：中山大学
申请日： 1991-05-12 - 公布日： 1991-11-27 - 主分类号： G01J3/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种能获得光谱空间分布图像的光谱仪器。本成像光谱仪利用Littrow自准式分光光路色散选通和光学复合，一次获得样品的光谱空间分布精确图像，波长和带宽均连续可调，在等离子体诊断，活细胞组织的光谱测定，地貌光谱遥感技术有广泛的应用前景。本仪器具有较高的光谱准确度和空间分辨率，且讯号利用率高，可作各种动态过程的研究。
成像光谱仪

[外观设计]成像光谱仪-CN202130106158.8有效
发明人：李朝阳;安宁;王超 -专利权人：安徽创谱仪器科技有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：成像光谱仪。2.本外观设计产品的用途：用于获得目标对象光谱和空间分布信息的设备。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
成像光谱仪

[外观设计]成像光谱仪-CN202130840996.8有效
发明人：王坚 -专利权人：彩谱科技(浙江)有限公司
申请日： 2021-12-20 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：成像光谱仪。2.本外观设计产品的用途：用于分析测量元素。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：设计1立体图1。5.指定设计1为基本设计。
成像光谱仪

[实用新型]一种高光谱遥感成像光谱仪安装装置-CN201921455258.5有效
发明人：黄文钰;尚海兴 -专利权人：中国电建集团西北勘测设计研究院有限公司
申请日： 2019-09-03 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本实用新型一种高光谱遥感成像光谱仪安装装置，属于光谱仪辅助装置领域，本实用新型的高光谱遥感成像光谱仪安装装置，其包括：无人机连接架；高光谱遥感成像光谱仪连接架；角度调节装置，无人机连接架通过角度调节装置与所述高光谱遥感成像光谱仪连接架连接通过调节调节板，使调节板沿弧形杆导向板与弧形杆的导向方向转动，带动高光谱遥感成像光谱仪本体使用角度发生改变，使高光谱遥感成像光谱仪通过高光谱遥感成像光谱仪安装装置安装于无人机上时可灵活调整角度，并且由于采用了弧形杆作为调节部件，高光谱遥感成像光谱仪可以无极调整，弧形杆还能起到防止高光谱遥感成像光谱仪跌落的效果，有效保证了高光谱遥感成像光谱仪的安全。
一种光谱遥感成像光谱仪安装装置

[发明专利]光栅式成像光谱仪相对光谱响应度测试方法-CN201210384170.5有效
发明人：李燕;占春连;李正琪;卢飞;范纪红 -专利权人：中国兵器工业第二〇五研究所
申请日： 2012-10-11 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种成像光谱仪光谱响应度测试方法，属于光学计量与测试领域。由于光栅式成像光谱仪集成了光学成像系统和光谱分光系统的特征，因此光栅式成像光谱仪光学系统的成像质量及畸变等对成像光谱仪光谱响应度的影响也至关重要，因此只测试CCD光电探测器的光谱响应度远远不能满足成像光谱仪的测试要求本发明实现了光栅式成像光谱仪光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前光栅式成像光谱仪的光谱响应度无法准确测试的难题，填补了光栅式成像光谱仪光谱响应度测量领域的空白，其主要优点是操作简单、易于实现。
光栅成像光谱仪相对光谱响应测试方法

[发明专利]一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法-CN201510438786.X有效
发明人：雷浩;王广平;戴映红;张亚洲;武敬力 -专利权人：北京环境特性研究所
申请日： 2015-07-23 - 公布日： 2017-06-16 - 主分类号： G01J3/447 文献下载
摘要：公开了一种AOTF成像光谱仪光谱定标方法，包括获取不同入射光角度下发生偏振时的波矢量失配依据与不同入射光角度对应的波矢量失配按照公式1对AOTF成像光谱仪的参数进行拟合，获取AOTF成像光谱仪的光谱衍射效率曲线H，作为AOTF成像光谱仪的光谱响应函数。本发明的AOTF成像光谱仪光谱定标方法，通过从矢量失配的角度分析AOTF成像光谱仪空间方向的角度特性，获取AOTF成像光谱仪的精确光谱响应函数H，能够提高光谱定标精度，有利于更精确分析成像光谱仪遥感探测所获取数据立方体信息的可靠性，为地物光谱曲线的准确获取与光谱特征的精确分析提供支撑。
一种 aotf 成像光谱仪光谱定标方法

[发明专利]成像光谱仪的自动光谱定标系统及方法-CN200710040556.3无效
发明人：杨宜;肖功海;舒嵘 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2007-05-11 - 公布日： 2007-10-17 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：一种成像光谱仪自动光谱定标系统，属于应用光学领域的成像光谱仪光谱定标技术，特别是把光谱定标和自动控制相结合的集成系统，其中成像光谱仪自动光谱定标系统由光源、斩波器、单色仪、平行光管、成像光谱仪头部及前放、多路开关与单色仪控制器、锁相放大器、计算机及系统控制、数据采集与分析软件构成。提供成像光谱仪所有通道的光谱响应曲线、中心波长以及半高宽，可以十分方便地对成像光谱仪进行光谱定标，为成像光谱仪的辐射定标、数据定量化提供依据。
成像光谱仪自动光谱定标系统方法

[发明专利]一种成像光谱仪最佳像面检校方法及装置-CN201611037478.7有效
发明人：李雅灿;周锦松;景娟娟;冯蕾;魏立冬;王欣;何晓英;卜美侠 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2016-11-23 - 公布日： 2018-04-13 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种成像光谱仪最佳像面检校方法及装置，其采用步进扫描平行光管分划板位置，通过三维旋转台调整平行光管与成像光谱仪光轴的夹角，通过离焦测量以及软件分析处理来检测成像光谱仪的最佳像面位置，无需频繁移动成像光谱仪探测器的位置，使检测工作强度大大降低；并且，还采用计算成像光谱仪的不同视场不同波长MTF最大值的方法拟合成像光谱仪的最佳成像像面，检测精度有显著提高；同时，采用特制的分划板，可以用于成像光谱仪综合像差、谱线弯曲以及色畸变的综合评测；此外，采用光纤传像束耦合不同波长的单色光，可以用于成像光谱仪的光谱位置的快速标定，可用于成像光谱仪野外光谱标定。
一种成像光谱仪最佳像面检校方装置

[发明专利]多光轴地面恒星观测系统光轴一致性检校方法-CN201510725190.8在审
发明人：王淑荣;王阳;黄煜;李占峰;张子辉;杨小虎 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-10-29 - 公布日： 2016-03-09 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：多光轴地面恒星观测系统光轴一致性检校方法，属于多光轴成像仪检测技术领域，为克服现有技术对成像光谱仪这类仪器在光谱维不易光轴检测的不足，该方法为：确定目标恒星在成像光谱仪中光谱维视场位置：当目标恒星进入成像光谱仪视场时，成像光谱仪出现较强信号，此时光轴的平行性偏差小于光谱维视场一半；精确地计算出目标恒星在成像光谱仪中光谱维视场位置；确定目标恒星在成像光谱仪空间维视场的位置：利用成像光谱仪在中心视场附近最近一点的数据来确定目标恒星在成像光谱仪空间维视场的位置，对所有波长空间维进行高斯拟合定位，将求得的中心位置进行求和平均，望远镜和成像仪同步采集的数据求出星像中心位置，计算光轴在空间维的平行性偏差。
光轴地面恒星观测系统一致性校方

[发明专利]一种实现成像功能的光纤光谱仪深度学习算法-CN202211293753.7在审
发明人：苑立波;陆晟祺;张楷 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G06V10/774 文献下载
摘要：本发明公开一种拥有成像功能的光纤光谱仪深度学习算法，其步骤为：1、利用光纤光谱仪收集深度学习所需数据集；2、构建深度学习成像网络；3、以光纤光谱仪成像系统输出的时间波形作为深度学习的输入，以光纤光谱仪成像系统的输入图像作为深度学习成像网络的输出目标训练深度学习成像网络；4、进行成像，即以光纤光谱仪输出的新的时间波形作为成像网络的输入，输出网络预测的图像。本发明利用深度学习方法，能对光纤光谱仪的输出波形进行成像，当成像网络训练好时，就可以快速检测出高质量的内容感知图像，具有高效性，高精确度的特点，可用于光纤光谱仪的成像。
一种实现成像功能光纤光谱仪深度学习算法

[发明专利]一种基于超表面衍射元件的计算层析成像光谱仪-CN202210972225.8在审
发明人：周鹏威;周嘉旻 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于超表面衍射元件的计算层析成像光谱仪。计算层析成像光谱仪包括光学系统结构、焦平面探测器及数据采集处理系统；光学系统结构包括会聚透镜组、视场光阑、准直镜组、超表面全息光栅、成像镜组。本发明将超表面与计算层析成像光谱仪结合，能够避免计算层析成像光谱仪的制造困难，并将计算层析成像光谱仪微小化且能产生较好的衍射效果，使得焦平面阵列靶面与光谱仪整体尺寸均为毫米量级，能够实现手机端甚至更小结构的成像光谱仪
一种基于表面衍射元件计算层析成像光谱仪

[发明专利]已知目标相对光谱分布的成像光谱仪光谱杂散光修正算法-CN201710689596.4有效
发明人：李占峰;王淑荣;黄煜;薛庆生 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2017-08-14 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01J3/44 文献下载
摘要：已知目标相对光谱分布的成像光谱仪光谱杂散光修正算法，属于成像光谱仪探测领域，能从根本上消除杂散光对成像光谱仪测量结果的影响。本发明根据光谱杂散光对待测成像光谱仪的影响原理，利用单色仪输出一系列单色均匀光依次进入并充满待测成像光谱仪的视场，并利用绝对辐射计记录一系列单色光光谱的能量，经计算得到待测成像光谱仪各像元的归一化光谱响应函数；然后与目标相对光谱分布联合计算各像元响应信号中有效光谱信号与总信号的比例，最后在观测目标时的实测信号中乘以有效光谱信号所占比例即得到有效光谱信号，完成对待测成像光谱仪的光谱杂散光修正。
成像光谱仪杂散光光谱有效光谱信号光谱分布修正算法像元光谱响应函数测量精度高单色光光谱绝对辐射计观测目标实测信号实时计算响应信号影响原理单色仪归一化均匀光视场编程探测修正输出记录联合

[实用新型]成像光谱仪自校准的自动辐射定标装置-CN201820130654.X有效
发明人：王智宏;王豫喆;刘杰 -专利权人：吉林大学
申请日： 2018-01-25 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种成像光谱仪自校准的自动辐射定标装置，是由积分球单元、光源辐亮度调控单元、自动定标控制单元三个单元和被定标成像光谱仪或辐亮度计组成，PC机经无线通讯控制电路分别连接光源辐亮度调控单元和成像光谱仪或标准辐亮度计，光源辐亮度调控单元经积分球单元和成像光谱仪或标准辐亮度计连接构成。本实用新型通过无线通讯控制成像光谱仪与标准辐射源协同工作，利用标准辐亮度计对标准辐射源进行自动校准，不仅提高了成像光谱仪定标效率，也提高了成像光谱仪的定标精度。无需到质检机构定标成像光谱仪，解决了成像光谱仪定期到质检机构进行定标检测往返搬运难的问题，节省了人力、物力和财力，降低了使用成本，提高了使用效益。
成像光谱仪定标辐亮度计亮度调控光源辐无线通讯控制本实用新型标准辐射源积分球单元辐射定标自校准质检自动定标自动校准搬运电路往返协同检测

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