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[实用新型]用于轴承盖刻号的刻号工装-CN202122822804.8有效
发明人：陈昕;张海涛;龚正国 -专利权人：庆铃汽车（集团）有限公司;五十铃（中国）发动机有限公司
申请日： 2021-11-16 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： B41K3/40 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于轴承盖刻号的刻号工装，包括底座、连接组件和至少两组字码组件，所述连接组件可活动的设置于底板上，各所述字码组件沿第一方向依次设置于连接组件上，并跟随连接组件活动，各所述字码组件上均设置有相应的字体；其中，所述连接组件的活动行程包括初始位和工作位，当所述连接组件处于工作位时，各所述字码组件上相应的字体分别可与各轴承盖的上端面接触配合，当所述连接组件处于初始位时，各所述字码组件上相应的字体与各轴承盖相分离；采用该结构的刻号工装，不仅能避免刻号歪斜、不清的情况，还能降低工作强度，提高工作效率和安全性。
用于轴承盖刻号工装

[实用新型]一种适用于多材质校核的便携里氏硬度计校准试块-CN202121277511.X有效
发明人：李戈;郭延军;高国宏;朱海宝;郦晓慧;冯可云;李海洋;王承华;孟伟;翁金钰 -专利权人：华电电力科学研究院有限公司
申请日： 2021-06-08 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本实用新型包括外形为圆柱体的试块、纹刻区域、底托和上盖，纹刻区域设置在试块的侧壁，试块的下端由底托紧箍，上盖设置在试块的上端。试块包括均呈扇形体结构设置的一号扇形体试块、二号扇形体试块、三号扇形体试块、四号扇形体试块、五号扇形体试块和六号扇形体试块，一号扇形体试块、二号扇形体试块、三号扇形体试块、四号扇形体试块、五号扇形体试块和六号扇形体试块相互嵌合一号扇形体试块、二号扇形体试块、三号扇形体试块、四号扇形体试块、五号扇形体试块和六号扇形体试块的侧壁均设置有纹刻区域。
一种适用于材质校核便携里氏硬度计校准

[实用新型]一种激光刻号机用斜面刻号辅助工装-CN202122064539.1有效
发明人：董涛;韩庆伟 -专利权人：洛阳壹扬机电技术有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： B23K26/70 文献下载
摘要：本申请公开了一种激光刻号机用斜面刻号辅助工装。一种激光刻号机用斜面刻号辅助工装，包括转接板、调节板、倾角保持装置和工件限位装置，转接板设在激光刻号机的升降台上，用于与升降台连接；调节板与所述转接板转动连接，用于负载待刻号工件并调整角度，使待刻号工件的刻号面与激光刻号机的激光光路垂直；倾角保持装置设在转接板与调节板之间，用于在调节板倾角调节到位后将调节板与转接板相对固定；工件限位装置设在调节板上，用于定位待刻号工件。本申请能够解决待刻号工件的刻号位置为斜面时，无法直接放在激光刻号机升降台上进行刻号的技术问题，结构简单可靠，操作简单便捷，具有通用性。
一种激光刻号机用斜面辅助工装

[实用新型]一种可移动式特性拦阻材料EMAS单元体手动刻号机-CN201921146049.2有效
发明人：杨阳;张晓晨;杨宁;李浩;王东田;李明;史亚杰;刘平 -专利权人：航科院（天津）航空设备有限公司
申请日： 2019-07-18 - 公布日： 2020-07-10 - 主分类号： B41K3/40 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可移动式特性拦阻材料EMAS单元体手动刻号机，包括转动装置、推进器、底座和刻号模板盒，所述底座的底部固定有转动装置，转动装置上水平安装有推进器，推进器的尾端安装有压把，所述底座的上方设置有凹槽，凹槽内焊接有刻号模板盒，刻号模板盒的内部安装有刻号模板，所述底座的一端焊接有L型的定位基准面，且定位基准面与底座一侧的表面平齐。本实用新型采用推进器推动刻号模板盒内的刻号模板运动，从而实现将刻号模板上的编号压刻在EMAS单元体的表面，一次性刻号成型，解决了传统式一个一个号进行刻录的作业模式，提高了刻录的速度和准确性，同时，该机构采用手动操作
一种移动式特性拦阻材料 emas 单元手动刻号机

[发明专利]一种晶圆刻号区域的光刻工艺方法-CN202111204293.1在审
发明人：邵璐;卫路兵 -专利权人：西安微电子技术研究所
申请日： 2021-10-15 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G03F7/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆刻号区域的光刻工艺方法，对每次沉积不透光介质后的晶圆进行预处理，预处理后的晶圆上涂覆光刻胶，涂胶完毕后对晶圆刻号区域进行曝光；对步骤S1中的晶圆进行显影处理，去除晶圆刻号区域的光刻胶；对步骤S2中的晶圆进行刻蚀，得到刻号清晰的晶圆。本发明对刻号处的晶圆片表面进行特殊曝光处理，使得在后续工艺过程中，刻号处始终保有一定的深宽比，利用光反射定律解决刻号不清的效果远优于现有方法，增强了人工识别晶圆刻号的可行性，最大程度降低了异常率，提高了生产效率
一种晶圆刻号区域光刻工艺方法

[实用新型]读刻号器-CN201020589785.8无效
发明人：陈秀龙 -专利权人：颀中科技(苏州)有限公司
申请日： 2010-11-03 - 公布日： 2011-08-10 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种读刻号器，包括转缺角装置、举片装置和基架，所述缺角装置和举片装置固定在基架上，转缺角装置上的分割片的沟槽位置与举片装置上晶片托上的沟槽位置相对应。由于该读刻号器装有转缺角装置，使用时只需要通过旋转轴带动滚轴旋转即可使晶圆的缺角方向保持一致，并根据需求手动转动至任意方向非常的方便，提高了工作效率；精确的沟槽对应结构，有效避免了对晶圆刮伤。
读刻号器

[发明专利]用于晶圆侧面上的晶圆刻号的识别装置及识别方法-CN202010406787.7在审
发明人：叶莹;毕迪 -专利权人：上海果纳半导体技术有限公司
申请日： 2020-05-14 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G06K7/10 文献下载
摘要：一种用于晶圆侧面上的晶圆刻号的识别装置及识别方法，所述识别装置包括拍摄单元，用于对晶圆的侧面上的晶圆刻号进行拍摄，获取晶圆刻号对应的条码图像或脉冲信号，其中所述晶圆包括相对的正面和背面以及位于正面和背面之间的侧面，所述晶圆刻号位于晶圆的侧面上，所述晶圆刻号包括若干按一定编码规则交替排布的凹槽和凸起；识别单元，用于识别所述条码图像或脉冲信号，获得二进制数据串；解码单元，用于对所述二进制数据串进行解码，获得晶圆刻号对应的信息通过前述识别装置可以对晶圆侧面的晶圆刻号进行快速识别。
用于侧面晶圆刻号识别装置方法

[发明专利]掩膜上的对位标尺及应用对位标尺的屏蔽件位置确认方法-CN200810213569.0有效
发明人：林丰志;蒋富升;邱鼎玮;黄顺宏 -专利权人：友达光电股份有限公司
申请日： 2008-09-11 - 公布日： 2009-01-28 - 主分类号： G03F1/14 文献下载
摘要：本发明提供一种掩膜上的对位标尺及应用对位标尺的屏蔽件位置确认方法，其中，掩膜上的对位标尺，其具有一基准线且包含一测量部与一刻号部。刻号部则位于基准线的第二侧，且由一第一刻号单元与多个第二刻号单元所构成；其中，第一刻号单元设置于第二刻号单元之间，且第一刻号单元的长度大于第二刻号单元的长度。
掩膜上对位标尺应用屏蔽位置确认方法

[实用新型]一种防爆型易拉盖-CN201620557017.1有效
发明人：刘日清;文大明;吴秋辉 -专利权人：福建鼎盛五金制品有限公司
申请日： 2016-06-12 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： B65D17/347 文献下载
摘要：一种防爆型易拉盖，包括盖本体、开启舌片、拉环，盖本体上设有手指槽、线号、以及凸字；开启舌片是通过在盖本体上加工舌片刻痕线而形成，拉环与盖本体通过位于盖本体平面中心的铆钉相连接；在开启舌片表面靠近铆钉区域的两侧通过防爆刻线刀对盖面的直接挤压，使材料产生塑性变形，而形成两条防爆刻线，所述两条防爆刻线关于盖本体横向中轴线对称，并且与舌片刻痕线平行；所述开启舌片两侧还设有加强筋条。本实用新型通过设置防爆刻线和加强筋条，增强了开启舌片部位的强度，可以有效地解决因舌片刻痕线处应力集中而产生的开启舌片瞬间爆开的问题，同时通过深浅不一的舌片刻痕线的设计来防止开启舌片爆开与撕裂。
一种防爆型易拉盖

[实用新型]一种便于手持的穿刺用抽吸活检针-CN202021272466.4有效
发明人：吴文河;赵文龙 -专利权人：常州德天医疗器械有限公司
申请日： 2020-07-03 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： A61B10/02 文献下载
摘要：一种便于手持的穿刺用抽吸活检针，本实用新型涉及活检针技术领域，所述的针芯前侧刻设有二号刻度标识层；所述的针芯上端设有螺纹，针芯上端旋接有一号内螺纹盖；所述的针鞘外环壁上固定有二号内螺纹盖；所述的把手底部一体成型有螺纹管，螺纹管旋接在二号内螺纹盖内；所述的螺纹管左侧开设有一号螺纹孔，二号内螺纹盖左侧开设有二号螺纹孔；所述的螺杆旋接穿过二号螺纹孔后，与一号螺纹孔旋接；使得把手与针鞘、针芯分开处理，便于钢制的针鞘、针芯回收利用
一种便于手持穿刺抽吸活检

[实用新型]一种内压(刻)痕量开玻璃瓶罐头盖-CN89207472.8无效
发明人：张纯铸;邱红梅;张宇涛 -专利权人：黑龙江省畜牧机械化研究所
申请日： 1989-05-18 - 公布日： 1990-01-03 - 主分类号： B65D41/40 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种内压(刻)痕易开玻璃瓶罐头瓶盖。该瓶盖的特点是在盖体封合线与圆边折角区域的内表面有1或2道具有一定深度、绕盖体半周以上的压(刻)痕形成的开启环带和拉柄连接。这种设计与其它易开盖相比具有可避免压(刻)痕镀锡层脱落而引起的锈蚀、开启力小等优点，为生产打号、产品保管及消费者食用提供了方便。
一种痕量玻璃瓶罐头

[实用新型]一种可防误伤的小学教学用尺-CN201720971021.7有效
发明人：孙玉梅 -专利权人：孙玉梅
申请日： 2017-08-05 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： B43L13/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可防误伤的小学教学用尺，包括尺子主体和激光发射器，所述尺子主体的外表面设有接杆，且接杆的外表面设有握把，所述握把的下方设有磁石，所述磁石的下方设有二号刻表，所述二号刻表的一侧设有二号护套，且二号刻表的另一侧设有三号护套，所述尺子主体的上端设有一号护套，所述尺子主体的外表面设有一号刻表和三号刻表，所述尺子主体的上端设有荧光层，所述激光发射器的外表面设有按钮，所述激光发射器的下方设有电池。本实用新型所述的一种可防误伤的小学教学用尺，设有一号护套、激光发射器和磁石，能够防止尺子误伤师生，并能用激光画线，方便放置，适用不同工作状况，带来更好的使用前景。
尺子主体激光发射器护套小学教学防误伤磁石本实用新型上端接杆握把误伤工作状况激光画线荧光层按钮尺子电池

[发明专利]晶圆刻号及其形成方法-CN202010407261.0有效
发明人：叶莹;毕迪 -专利权人：上海果纳半导体技术有限公司
申请日： 2020-05-14 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：一种晶圆刻号及其形成方法，将晶圆刻号形成在晶圆的侧面而不是晶圆的正面表面，后续在晶圆正面表面上进行相关半导体工艺形成半导体器件以及多层金属连线时，或者后续将形成有集成电路的晶圆用于3D IC堆叠工艺时，所述晶圆侧面形成的晶圆刻号不会被覆盖，有利于晶圆在各个不同制程或者3D IC堆叠制程的管理和信息的追踪，特别是当晶圆存在异常需要工艺人员进行处理时，通过读取或识别经验侧面上的刻号可以直接获得晶圆的信息，并且由于所述晶圆刻号包括若干交替排布的凹槽和凸起，这样的晶圆刻号易于形成在晶圆的侧面，并且读取或识别过程比较简便。
晶圆刻号及其形成方法

[发明专利]异网络模式数据的接收处理方法与装置、多模终端-CN201110388947.0有效
发明人：张马;徐远;刘继武 -专利权人：展讯通信(上海)有限公司
申请日： 2011-11-30 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： H04W56/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种异网络模式数据的接收处理方法与装置、多模终端，其中，方法包括：根据第一网络模式下第一帧号中的第一时刻对应的第二网络模式下第二帧号中的第二时刻信息，获取第一网络模式下第三帧号中的第三时刻对应的第二网络模式下第四帧号中的第四时刻信息或者第二网络模式下第四帧号中的第四时刻对应的第一网络模式下第三帧号中的第三时刻信息，以便在第三帧号中的第三时刻开始对第二网络模式下的异网络模式数据进行接收处理。
网络模式数据接收处理方法装置终端

[发明专利]用于刻号机的识别号补值方法及系统-CN201710598152.X在审
发明人：龚成波 -专利权人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司
申请日： 2017-07-20 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： G09F9/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于刻号机的ID号补值方法，包括如下步骤依次获取每个识别区中位于识别号首位的字符到识别区边缘的第一距离a、第二距离g；将第一距离a和第二距离g与第一预设值a’和第二预设值g’分别相减，从而得到每个识别区中识别号的本发明还提供了一种用于刻号机的ID号补值系统，包括量测设备、统计过程控制系统以及刻号机。与现有技术相比，实现了刻号机自动补值，通过上述方法使得提高了工作效率。
用于刻号机识别号补值方法系统

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