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[实用新型]一种便携组合式单电源电学试验箱-CN201820511483.5有效
发明人：程梦斌 -专利权人：程梦斌
申请日： 2018-04-11 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G09B23/18 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便携组合式单电源电学试验箱，包括电学试验箱外壳，所述电学试验箱外壳的上表面设置有散热孔，所述散热孔的一侧设置有卡扣按钮，所述电学试验箱外壳的前侧设置有仪表，所述仪表与电学试验箱外壳通过嵌合进行固定连接，所述仪表的一侧设置有卡槽，所述卡槽的一端设置有支撑柱插孔；通过设计的支撑板，在不使用电学试验箱的时候，可以把支撑板固定通过支撑柱插孔和卡槽固定在电学试验箱上仪表的一侧，把仪表和插接口按钮等盖住，防止仪表和插接口按钮等被外物撞击到发生损坏，在使用的时候把支撑板拆下放在电学试验箱下通过支撑槽固定，可以把电学试验箱撑起来使空气从底部流通加快电学试验箱的散热。
电学试验箱外壳仪表支撑板便携组合式插接口单电源散热孔支撑柱按钮插孔卡槽本实用新型卡槽固定卡扣按钮外物撞击一端设置上表面上仪表支撑槽散热嵌合箱撑下放流通

[发明专利]电学器件-CN201210559480.6有效
发明人：薛其坤;何珂;马旭村;陈曦;王立莉;王亚愚;吕力;常翠祖;冯硝 -专利权人：清华大学;中国科学院物理研究所
申请日： 2012-12-21 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： H01L43/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种电学器件，包括绝缘基底及磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜，该绝缘基底具有相对的第一表面及第二表面，该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜生长在该第一表面，该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜的材料由化学式Cr
电学器件

[实用新型]电学壳体-CN202022792490.7有效
发明人：沈永权 -专利权人：常州市彝宝机械制造科技有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： H05K5/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及通信技术领域，尤其是一种电学壳体，包含成薄板状的壳体结构，所述壳体结构上设置有光纤槽，所述壳体结构内部设置有水流道，所述光纤槽呈矩形，所述矩形的边角处设置有圆角，所述光纤槽内光滑无毛刺，本实用新型的有益效果是
电学壳体

[外观设计]电学模块-CN202130595958.0有效
发明人：林玲玲 -专利权人：北京威成亚实验室设备有限公司
申请日： 2021-09-09 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： 19-07 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：电学模块。2.本外观设计产品的用途：用于快速搭建物理学中不同电路演示探究实验。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：设计1立体图1。
电学模块

[发明专利]仿真MOSFET温度电学特性的子电路模型的建立方法-CN201810523411.7有效
发明人：刘芳;陈燕宁;李建强;付振;刘春颖;赵东艳;张海峰;唐晓柯 -专利权人：北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
申请日： 2018-05-28 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本发明公开了一种仿真MOSFET温度电学特性的子电路模型的建立方法，包括以下步骤：分别在常温、第一温度、第二温度下对MOSFET进行电学特性测试并记录实际的电学特性曲线，其中第一温度是‑40度以下，第二温度是125度以上；根据常温下的电学特性测试结果提取BSIM模型；在所述BSIM模型基础上定义等效温变电阻以及温度补偿因子得到一个初步的子电路模型；根据在常温、所述第一温度、所述第二温度下的电学特性测试结果，调整等效温变电阻以及温度补偿因子的值使得最终的子电路模型仿真的电学特性曲线能够精确地拟合所述实际的电学特性曲线。所述仿真MOSFET温度电学特性的子电路模型的建立方法可以实现在更宽的温度区间子电路模型仿真的电学特性曲线更加拟合实际情况。
仿真 mosfet 温度电学特性电路模型建立方法

[发明专利]集成电路的电学相关的设计规则检查方法及装置-CN201910081729.9在审
发明人：汤雅权 -专利权人：展讯通信（上海）有限公司
申请日： 2019-01-28 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本公开涉及一种集成电路的电学相关的设计规则检查方法及装置，所述方法包括：获取所述集成电路的寄生参数网表；接收所述集成电路的电路仿真结果和电学相关的设计规则检查DRC规则；根据所述寄生参数网表、所述电路仿真结果和所述电学相关的DRC规则，对所述集成电路进行电学相关的DRC检查，由此能够自动进行动态的电学相关的DRC检查，并且能够精确定位出集成电路中电学相关的DRC检查出现错误的物理位置，从而能够大幅提升电学相关的DRC检查的速度和准确度、降低电学相关的DRC检查的假错、避免集成电路的过设计。
集成电路电学相关设计规则检查方法装置

[实用新型]显示屏测试装置-CN201620566569.9有效
发明人：张志华 -专利权人：昆山国显光电有限公司
申请日： 2016-06-14 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种显示屏测试装置，包括：光学检测组件，用以检测显示屏光学性能，设有光学信息输出端口；电学检测组件，用以检测显示屏电学性能，设有电学信息输出端口；供电模块，与所述光学检测组件电性连接用以为光学检测组件供电，与所述电学检测组件电性连接用以为电学检测组件供电。该显示屏测试装置集成有光学检测组件和电学检测组件，因而，可以一并解决显示屏的电学性能的检测和显示屏光学性能的检测，从而，提高显示屏检测的效率。
显示屏测试装置

[发明专利]倒装结构发光二极管-CN201510284575.5在审
发明人：谈宁 -专利权人：谈宁
申请日： 2015-05-26 - 公布日： 2015-09-02 - 主分类号： H01L33/62 文献下载
摘要：该发光二极管包括：半导体发光层；设置于所述半导体发光层一侧的P型电学连接部、N型电学连接部、以及用于电隔离所述P型电学连接部和N型电学连接部的第一绝缘层；与所述P型电学连接部电接触的第一电极；以及与所述N型电学连接部电接触的第二电极。本申请中的第一电极和第二电极相当于现有的倒装结构发光二极管中电学连接部以及设置在陶瓷基板中用于连通电学连接部的通孔，从而避免使用陶瓷基板，可有效提高热导率，并且简化了工艺，降低了制作成本。
倒装结构发光二极管

[发明专利]一种智能检测设备和方法-CN202310356873.5在审
发明人：请求不公布姓名 -专利权人：苏州奥特兰恩自动化设备有限公司
申请日： 2023-04-06 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本说明书实施例提供一种智能检测设备和方法，该设备包括交互模块、电学参数检测模块、光学参数检测模块、检测工位和处理器；其中，电学参数检测模块、光学参数检测模块分别被放置于不同的检测工位；电学参数检测模块用于对待检测目标进行电学参数检测；光学参数检测模块用于对待检测目标进行光学参数检测；交互模块用于获取输入数据；处理器与交互模块、电学参数检测模块和光学参数检测模块通信连接；处理器用于：根据输入数据，确定至少一组控制指令；通过至少一组控制指令，控制电学参数检测和光学参数检测，并获取电学参数检测结果和光学参数检测结果；基于电学参数检测结果和光学参数检测结果，确定待检测目标的评估数据。
一种智能检测设备方法

[发明专利]一种不良芯片筛选方法-CN202110090092.7有效
发明人：肖南海;杨斌;洪海霞;贾美景;刘洪;葛志阳 -专利权人：上海音特电子有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种不良芯片筛选方法，所述方法是根据预设的热力学筛选方法对待筛选的芯片进行热力学性能筛选，得到符合热力学要求的芯片，再根据预设的电学筛选方法对所述符合热力学要求的芯片进行电学性能筛选，得到符合电学性能要求的芯片，通过同时对待筛选芯片进行热力学测试和电学参数测试，能够有效保证芯片出厂的合格率；最后获取所述符合电学性能要求的芯片的电学参数测试数据，并基于正态分布原理筛选出电学参数测试数据符合3σ原则的芯片，能够筛选出具有高度一致的电学参数的良品，剔除存在失效风险的良品，从而进一步提高芯片出厂的合格率。
一种不良芯片筛选方法

[实用新型]倒装结构发光二极管-CN201420613834.5有效
发明人：郭德博;徐正毅 -专利权人：北京中科天顺信息技术有限公司
申请日： 2014-10-23 - 公布日： 2015-02-04 - 主分类号： H01L33/62 文献下载
摘要：该发光二极管包括：半导体发光层；设置于所述半导体发光层一侧的P型电学连接部、N型电学连接部、以及用于电隔离所述P型电学连接部和N型电学连接部的第一绝缘层；与所述P型电学连接部电接触的第一电极；以及与所述N型电学连接部电接触的第二电极。本实用新型中的第一电极和第二电极相当于现有的倒装结构发光二极管中电学连接部以及设置在陶瓷基板中用于连通电学连接部的通孔，从而避免使用陶瓷基板，可有效提高热导率，并且简化了工艺，降低了制作成本。
倒装结构发光二极管

[实用新型]一种高稳定性电学测试架-CN202222483851.9有效
发明人：汪金文;汪明炉 -专利权人：锦文测控科技（苏州）有限公司
申请日： 2022-09-20 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高稳定性电学测试架，包括固定底座，所述固定底座上面连接设有电学测试架组件，所述电学测试架组件包括电机支座、旋转电机、旋转传动轴、旋转轴支撑盘、电器元件固定台、液压杆支座、伸缩液压杆和电器元件夹持板，所述电学测试器调高组件包括固定立架、驱动电机、旋转传动螺杆、限位导向杆、螺杆支撑盘、固定套移动连接板和电学测试器固定套。本实用新型属于电学测试技术领域，通过电学测试架组件可实现方便自动化夹紧电器元件的目的，同时可自动化调整电器元件的测试角度，根据电学测试器调高组件可实现方便自动化调整测试器的高度的目的，可满足用户的不同测试需求
一种稳定性电学测试

[发明专利]封装方法及封装结构-CN201811572256.4在审
发明人：杨天伦 -专利权人：中芯集成电路（宁波）有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： B81B7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种封装方法及封装结构，所述封装方法，首先采用晶圆级封装方式将具有第一电学连接端点、第一器件组件的第一晶圆和具有第二电学连接端点、第二器件组件的第二晶圆键合，并进行切割而形成呈阶梯型的晶片，且该晶片中的第二电学连接端点和第一电学连接端点呈阶梯状分布，再将所述晶片键合到具有第三电学连接端点和第三器件组件的第三晶圆上，且该晶片暴露出所述第三电学连接端点，由此使得第一电学连接端点、第二电学连接端点和第三电学连接端点依次呈阶梯状分布，由此，可以降低重布线结构的制作工艺难度和封装成本
封装方法结构

[发明专利]一种电池片的电学性能测试方法-CN202111100979.6在审
发明人：杨飞;陈健生;朱琛;吕俊;申盼;申品文;张世查 -专利权人：泰州隆基乐叶光伏科技有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开一种电池片的电学性能测试方法，涉及电池性能测试技术领域。以提供一种能够在电池端快速准确判断出电池的电学性能，从而为电池工艺的优化提供支持的技术方案。包括：对电池片进行电学性能测试，获取第一电学测试结果。在环境箱体内，对叠层结构中的电池片进行第二电学测试，得到第二电学测试结果。基于第一电学测试结果和第二电学测试结果，得到所述电池片的电学性能。
一种电池电学性能测试方法

[实用新型]一种物理实验桌-CN201520529046.2有效
发明人：徐敏;古文全;张建平 -专利权人：四川英才教学设备有限公司
申请日： 2015-07-20 - 公布日： 2016-01-13 - 主分类号： B01L9/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种物理实验桌，包括：桌体，其由桌面和支撑柱组成；电学控制台，其两端通过金属销与桌面可转动连接，桌体上开设有可容纳电学控制台的空腔；电学控制台上设置有电学仪表及对应的第一接线柱；固定销，其包括销板、套设在销板上的销闩和销鼻，销板固定连接在桌面的底部，销鼻固定连接在电学控制台的底部并与销板相配合；以及抽屉，其设置在所述桌面的下方，抽屉内设置有电源及对应的第二接线柱；其中桌体背部设置有用以限制电学控制台转动的限位板本实用新型可将电学控制台隐藏在桌面内，能够有效的保护电学控制台内的仪表，避免电学仪器因长期裸露在外而受到尘、潮、阳光等的损坏。
一种物理实验