专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]晶圆封装结构-CN201410782466.1有效
  • 高国华 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2014-12-16 - 2015-03-25 - H01L23/482
  • 本发明提供一种晶圆封装结构,包括:衬底,所述衬底表面具有导电金属垫;位于衬底上的金属核,所述金属核凸出于所述衬底的表面;包覆于所述金属核的顶面和侧面的金属;形成于所述金属表面的凸点结构。本发明的有益效果在于,增加了凸点结构与金属之间的接触面,且包覆有金属金属核的一部分伸入凸点结构,这样增加了凸点结构与金属之间的结合强度,凸点结构与金属的结构更加稳定,不易发生脱落
  • 封装结构
  • [发明专利]芯片封装结构-CN201210443748.X有效
  • 林仲珉 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2013-02-13 - H01L23/488
  • 一种芯片封装结构,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底内的金属焊盘;位于所述半导体衬底上的绝缘,所述绝缘具有暴露所述金属焊盘的开口;位于所述金属焊盘上的金属电极,所述金属电极具有电极体部和电极尾部,所述电极体部位于所述金属电极底部且与所述金属焊盘相接,所述电极尾部位于所述金属电极顶部;位于所述金属电极表面的焊。本发明的芯片封装结构的金属电极和焊之间的附着力强,可靠性高。
  • 芯片封装结构
  • [实用新型]芯片封装结构-CN201220586931.0有效
  • 林仲珉;石磊;吴晓纯 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2013-05-01 - H01L23/488
  • 一种芯片封装结构,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底内的金属焊盘;位于所述半导体衬底上的绝缘,所述绝缘具有暴露所述金属焊盘的开口;位于所述金属焊盘上的金属电极,所述金属电极具有电极体部和电极尾部,所述电极体部位于所述金属电极底部且与所述金属焊盘相接,所述电极尾部位于所述金属电极顶部;位于所述金属电极表面的焊。本实用新型的芯片封装结构的金属电极和焊之间的附着力强,可靠性高。
  • 芯片封装结构
  • [发明专利]晶圆级封装方法-CN201410784542.2有效
  • 高国华 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2014-12-16 - 2015-04-01 - H01L21/60
  • 本发明提供一种晶圆级封装方法,包括:提供衬底,所述衬底表面具有导电金属垫;在所述导电金属垫上形成凸出于衬底表面的金属核;在所述金属核顶面和侧面包覆金属;在所述金属表面形成凸点结构。本发明的有益效果在于:增加了凸点结构与金属之间的结合强度,凸点结构与金属的结构更加稳定,不易发生脱落,进而提升了封装结构的机械稳定程度,并增强了封装结构的热传导性和电传导性。
  • 晶圆级封装方法
  • [发明专利]芯片封装方法-CN201210444096.1有效
  • 林仲珉;石磊;吴晓纯 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2013-02-13 - H01L21/48
  • 一种芯片封装方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有金属焊盘和绝缘,所述绝缘具有暴露所述金属焊盘的开口;在所述金属焊盘上形成金属电极,所述金属电极具有电极体部和电极尾部,所述电极体部位于所述金属电极底部且与所述金属焊盘相接,所述电极尾部位于所述金属电极顶部;在所述金属电极表面形成焊
  • 芯片封装方法
  • [发明专利]芯片封装方法-CN201210444530.6有效
  • 林仲珉;沈海军 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2013-02-13 - H01L21/48
  • 一种芯片封装方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有金属焊盘和绝缘,所述绝缘具有暴露所述金属焊盘的开口;在所述金属焊盘上形成金属电极;在所述金属电极表面形成焊,所述焊具有第一围裙结构,所述第一围裙结构覆盖所述金属电极底部周围的金属焊盘。本发明的芯片封装方法增大了焊金属焊盘之间的附着力,提升了芯片封装的可靠性。
  • 芯片封装方法
  • [发明专利]具有凸块的芯片及具有凸块的芯片的封装结构-CN200910131145.4有效
  • 杨国宾 - 日月光半导体制造股份有限公司
  • 2009-04-03 - 2010-10-06 - H01L23/482
  • 该芯片包括芯片本体、至少一穿导孔、保护金属及至少一凸块。该穿导孔贯穿该芯片本体,且显露于该芯片本体的表面。该保护层位于该芯片本体的表面上,该保护具有至少一开口,该开口显露该穿导孔。该金属层位于该保护的开口,且连接该穿导孔。该凸块位于该金属上,其包括第一金属、第二金属及第三金属。该第一金属层位于该金属上。该第二金属层位于该第一金属上。该第三金属层位于该第二金属上。由此,该凸块可连结二个芯片,使该芯片可堆叠,以提高产品密度,进而缩小产品尺寸。
  • 具有芯片封装结构
  • [实用新型]一种杀菌保健-CN201320322821.8有效
  • 林鹏 - 东莞市精伦金属制品有限公司
  • 2013-06-06 - 2014-01-15 - A61M35/00
  • 本实用新型公开了一种杀菌保健,其包括呈椭球体状且中空的金属球体,金属球体包括上金属壳和金属壳,上金属壳与金属壳扣接;金属球体的外表面均匀涂覆有偶联剂,偶联剂的外表面均匀涂覆有银浆金属球体采用分体式结构设计,且上金属壳与金属壳采用扣接方式装配于一起,加工装配方便且制备成本低;中空椭球体状结构设计的金属球体,一方面能够减轻重量较以方便握持,另一方面能够使得金属球体在握持的情况与皮肤保持较大的接触面积工作时,银浆的银离子与细菌接触并将细菌杀死,偶联剂主要是为了加强银浆的附着能力,进而增强整体结构的稳定可靠性。故而,本实用新型具有灵活性强且使用非常方便的优点。
  • 一种杀菌保健球
  • [发明专利]芯片封装结构-CN201210444502.4有效
  • 林仲珉 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2013-02-06 - H01L23/488
  • 一种芯片封装结构,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底内的金属焊盘;位于所述半导体衬底上的绝缘,所述绝缘具有暴露所述金属焊盘的开口;位于所述金属焊盘上的金属电极;位于所述金属电极表面的焊,所述焊具有第一围裙结构,所述第一围裙结构覆盖所述金属电极底部周围的部分金属焊盘。本发明的芯片封装结构增大了焊金属焊盘之间的附着力,提升了芯片封装的可靠性。
  • 芯片封装结构
  • [实用新型]芯片封装结构-CN201220586656.2有效
  • 林仲珉;沈海军 - 南通富士通微电子股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2013-05-01 - H01L23/488
  • 一种芯片封装结构,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底内的金属焊盘;位于所述半导体衬底上的绝缘,所述绝缘具有暴露所述金属焊盘的开口;位于所述金属焊盘上的金属电极;位于所述金属电极表面的焊,所述焊具有第一围裙结构,所述第一围裙结构覆盖所述金属电极底部周围的金属焊盘。本实用新型的芯片封装结构增大了焊金属焊盘之间的附着力,提升了芯片封装的可靠性。
  • 芯片封装结构

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