专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种浊度结构及方法-CN202211679855.2在审
  • 施美霞;沃燕波;胡明霞;马佳杰;彭振博 - 宁波职业技术学院;恒河材料科技股份有限公司
  • 2022-12-26 - 2023-07-04 - G01N21/15
  • 本发明属于浊度技术领域,具体涉及一种浊度结构及方法。该结构设有浊度内,结构包括多边形的外壳一,外壳一内设有内壳一,内壳一与外壳一之间设有夹层,结构还包括用于光线进入的入口,入口周围设有在结构内的层,内壳一上还设有半透镜。该方法包括如下步骤:在浊度内设置光源发射器、光电接收器,光源发射器和光电接收器安装在一个或两个密封元件内;在光源发射器的对面设有结构;在光源发射器和结构的中间设有光电接收器,光电接收器垂直于光源发射器和结构,结构用于吸收多余的散射。本发明能够非常有效的减弱散射对浊度测量结果的影响。
  • 一种浊度仪消光结构方法
  • [实用新型]可用于测量镭射纸的色差-CN201520741455.9有效
  • 孙代东 - 青岛嘉颐泽印刷包装有限公司
  • 2015-09-23 - 2016-02-10 - G01J3/46
  • 本实用新型公开了一种可用于测量镭射纸的色差,包括测量头、操作按钮、操作界面、测量孔板安装座、滤片装置,滤片装置安装在色差底座的测量孔板安装座上,所述滤片装置包括卡槽环和滤片,滤片安装在卡槽环内,所述滤片四周印有十字形指示线,中间对准测量头的圆形区域是经过处理的单面高密度超细毛玻璃,毛面朝上。本新型通过使用可置换的色差滤片装置,可以有效的消除镭射纸干涉对数据测量的影响,使仪器测量变为可行,而且这一过程非常便捷,只需要更换一个测量孔即可。
  • 用于测量镭射色差
  • [发明专利]CCD生物芯片荧光扫描杂散光装置及其工作方法-CN201710531726.1有效
  • 陈建国;姜海燕;高跃明;甘振华;杜民;王帆 - 福州大学
  • 2017-07-03 - 2023-03-21 - G01N21/15
  • 本发明涉及CCD生物芯片荧光扫描杂散光装置及其工作方法,包括从下往上依次设置的暗室、限装置、光阑以及器,暗室上端设有可向外抽出并用于放置生物芯片的托盘,托盘的下侧有向外延伸的挡光阶梯,挡光阶梯的下侧有铺设在暗室下端侧壁及底面的吸光材料;限装置包括罩设在暗室上端开口的密封罩,密封罩的侧面斜置有限块,限块中部设有以利光线直射到托盘上生物芯片的通孔;光阑设置在密封罩的上端且位于托盘的正上方;器包括轴线与光阑的轴线重合的圆筒,圆筒的内侧壁设置螺纹。本发明设计合理,可明显消除路系统中的杂散光,解决在荧光扫描检测中杂散光极易将荧光淹没的问题。
  • ccd生物芯片荧光扫描仪散光装置及其工作方法
  • [实用新型]CCD生物芯片荧光扫描杂散光装置-CN201720790805.X有效
  • 陈建国;姜海燕;高跃明;甘振华;杜民;王帆 - 福州大学
  • 2017-07-03 - 2018-02-06 - G01N21/15
  • 本实用新型涉及CCD生物芯片荧光扫描杂散光装置,包括从下往上依次设置的暗室、限装置、光阑以及器,暗室上端设有可向外抽出并用于放置生物芯片的托盘,托盘的下侧有向外延伸的挡光阶梯,挡光阶梯的下侧有铺设在暗室下端侧壁及底面的吸光材料;限装置包括罩设在暗室上端开口的密封罩,密封罩的侧面斜置有限块,限块中部设有以利光线直射到托盘上生物芯片的通孔;光阑设置在密封罩的上端且位于托盘的正上方;器包括轴线与光阑的轴线重合的圆筒,圆筒的内侧壁设置螺纹。本实用新型设计合理,可明显消除路系统中的杂散光,解决在荧光扫描检测中杂散光极易将荧光淹没的问题。
  • ccd生物芯片荧光扫描仪散光装置
  • [发明专利]光纤偏振比标准器-CN201210440944.1无效
  • 徐楠;李建威;李健;张志新 - 中国计量科学研究院
  • 2012-11-07 - 2013-02-13 - G01M11/02
  • 本发明涉及光纤偏振技术领域,具体涉及一种光纤偏振比标准器。该标准器包括光纤光源,以及沿所述光纤光源输出光光路依次同轴设置的准直器、起偏器、四分之一波片以及中空金属管,所述中空金属管与被测偏振比测试输入口匹配对接。本发明通过利用准直器、起偏器以及四分之一波片得到具有标准的偏振比的空间偏振,再通过中空金属管将具有标准的偏振比的空间偏振接入到被测偏振比测试。本发明不但摆脱了必须利用保偏光纤对偏振比测试进行校准的限制,同时具有稳定准确且能够重复校准的特点。
  • 光纤偏振标准
  • [发明专利]基于光纤结构的线偏振光纤激光器比测试方法-CN201910526333.0有效
  • 陈胜平;陶悦;徐荷 - 中国人民解放军国防科技大学
  • 2019-06-18 - 2020-11-20 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种基于光纤结构的线偏振光纤激光器比测试方法,技术方案是:构建由保偏被动光纤、单偏振光纤、单模跳线、光谱组成的比测试系统;保偏被动光纤的一端采用45度错位熔接的方式与线偏振光纤激光器输出尾纤连接,另一端与单偏振光纤采用45度错位熔接的方式连接;单偏振光纤保持沿着慢轴方向传输光的偏振态;单模跳线采取空间对准的方式将单偏振光纤的输出光强收集到光谱中。从光谱上读取通过率为1、波长为λ对应的功率值P(max),改变保偏被动光纤的长度后从光谱上读取通过率为0、波长为λ对应的功率值P(min),根据比公式获得比。采用本发明可解决比退化、测试结果不能反应单一波长比的问题。
  • 基于光纤结构偏振激光器测试方法
  • [发明专利]一种多通道的比检测装置-CN201610171037.X在审
  • 张伟;高军;张斌;荣伟彬;李东兴;许同乐 - 山东理工大学
  • 2016-03-24 - 2016-08-17 - G01M11/00
  • 本发明提供的是一种多通道的比检测装置,涉及到多通道比的检测问题,以解决现有比检测效率和自动化水平低等问题。本发明中的裸纤适配器插芯处无突出的定位块,能够从任意角度插入到比测试中,裸纤适配器夹具的一侧有螺纹孔,采用弹簧和螺栓将小球固定在螺纹孔中,小球在弹簧的作用下将裸纤适配器压紧,12个裸纤适配器通过裸纤适配器夹具均匀的固定在旋转圆盘上,行程开关固定在旋转圆盘上,位于适配器夹具的后端,按钮开关固定在裸纤适配器夹具的底端,对准传感器的发射端固定在裸纤适配器夹具上,对准传感器的接收端固定在工作平面上,四个固定架将比测试固定在测试转接板上,计算机控制电动旋转平台、电动直线位移平台和比测试完成多通道比的检测。
  • 一种通道检测装置
  • [发明专利]共焦激光眼底成像-CN201710010692.1在审
  • 李磊;侯晓萍;赵恩毅;李超宏 - 苏州微清医疗器械有限公司
  • 2017-01-06 - 2017-03-29 - A61B3/14
  • 本发明揭示了一种共焦激光眼底成像,包括物镜、扫描透镜、扫描振镜、像镜、模块、针孔、成像探测组件以及激光源;所述激光源发出的经所述扫描振镜、扫描透镜、物镜后进入眼底;从所述眼底出射的经所述物镜、扫描透镜、扫描振镜、像镜、模块、针孔后进入所述成像探测组件;所述模块为偏振片。相较于现有技术,本发明共焦激光眼底成像在进行反射成像时能够降低由杂散光形成的“鬼像”的干扰,提高成像质量。
  • 激光眼底成像
  • [实用新型]共焦激光眼底成像-CN201720015608.0有效
  • 李磊;侯晓萍;赵恩毅;李超宏 - 苏州微清医疗器械有限公司
  • 2017-01-06 - 2017-12-12 - A61B3/14
  • 本实用新型揭示了一种共焦激光眼底成像,包括物镜、扫描透镜、扫描振镜、像镜、模块、针孔、成像探测组件以及激光源;所述激光源发出的经所述扫描振镜、扫描透镜、物镜后进入眼底;从所述眼底出射的经所述物镜、扫描透镜、扫描振镜、像镜、模块、针孔后进入所述成像探测组件;所述模块为偏振片。相较于现有技术,本实用新型共焦激光眼底成像在进行反射成像时能够降低由杂散光形成的“鬼像”的干扰,提高成像质量。
  • 激光眼底成像
  • [发明专利]保偏无源器件的偏振比测试系统-CN201910210315.1有效
  • 戴武涛;张健 - 北京大盟创业科技有限公司
  • 2019-03-20 - 2020-11-03 - G01M11/02
  • 本发明提供一种保偏无源器件的偏振比测试系统,属于精密设备制造领域;本发明包括:低偏光源、起偏器、被测器件、比测试、控制器和驱动电机组;所述低偏光源依次通过所述起偏器、所述被测器件与所述比测试相连;所述比测试通过所述控制器与所述驱动电机组相连;所述驱动电机组包括第一电机和第二电机;所述起偏器包括:基座和可在所述基座上旋转的插座;所述插座与所述第一电机相连;所述插座上设置有多个可相对所述插座转动的偏振片本发明采用多个偏振片同时连接转动环,又采用驱动电机组切换和旋转不同偏振片接入比测试系统,从而提高整个系统的柔性和测量准确性。
  • 无源器件偏振测试系统

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