专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种同轴封装半导体激光器高温测试设备及方法-CN202210945839.7在审
  • 黄河 - 武汉固捷联讯科技有限公司
  • 2022-08-08 - 2022-11-22 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种同轴封装半导体激光器高温测试设备及方法,属于光通信器件高温测试技术领域,其中,高温系统控制单元向高温系统驱动单元下达待测器件的位置信息、器件类型信息和工作模式命令;高温系统驱动单元提供测试探头的运动目标位置指令、对待测器件的器件控制模块选择、确定测试的工作模式以及调控测试单元的加热功率;测试单元驱动测试探头运动,并为待测器件加热采集温度数据;并获取测试PD信号、激光焦距信号经信号传输线反馈至高温系统驱动单元处理,将激光传输到光谱仪,并由光谱仪将激光特征参数反馈至高温系统控制单元。
  • 一种同轴封装半导体激光器高温测试设备方法
  • [实用新型]一种高温测试-CN201420016265.6有效
  • 吴志国;林乃镇;衷玉平;孙滋才;彭盛侠;薛孝江 - 浙江汉博汽配制造有限公司
  • 2014-01-09 - 2014-06-11 - G01D18/00
  • 本实用新型涉及一种高温测试台,包括高温箱、与高温箱为一体的外测试台、测试组件及驱动组件,所述外测试台上设有电源开关和电源指示灯,所述测试组件包括内、外夹具,所述驱动组件包括电机、传动杆及内、外齿轮,所述电机设置于外测试台上,所述传动杆一端连接于电机,另一端穿入高温箱腔体内,所述内夹具与内齿轮联动安装于传动杆位于高温箱腔体内的一侧,所述外夹具与外齿轮联动安装于传动杆位于高温箱外的一侧,所述的内夹具具有多个夹持部。本实用新型能够同时测出多款传感器在高温环境下的工作状态,且具有将传感器同时放置高温箱内外做对比测试的功能,从而使其更多功能化,大大提高了测试效率。
  • 一种高温测试
  • [实用新型]一种导电胶耐高温测试装置-CN202320787084.2有效
  • 蔡雄辉;任永昌 - 武汉一封材料科技有限公司
  • 2023-04-11 - 2023-07-18 - G01N25/00
  • 本实用新型提供一种导电胶耐高温测试装置。所述导电胶耐高温测试装置包括:高温测试箱,高温测试箱的顶部和底部分别开设有上通口和下通口,所述高温测试箱的底部内壁上固定安装有两个支撑杆,两个所述支撑杆的底端固定安装有放置板,所述放置板上滑动安装有滑动杆,所述滑动杆的顶端固定安装上密封板,且所述上密封板与所述高温测试箱的顶部内壁固定连接,所述滑动杆的底端固定安装有下密封板,且所述下密封板与所述高温测试箱的底部固定连接。本实用新型提供的导电胶耐高温测试装置具有使用方便、操作简单、对检测过后的导电胶进行快速降温、进而导电胶可以快速的进行下一步检测的优点。
  • 一种导电耐高温测试装置
  • [发明专利]高温合金流动性测试装置的蜡模、测试装置及其测试方法-CN202310448818.9在审
  • 陈晶阳;陈金宾;骞磊;肖程波;任晓冬;吴文津 - 中国航发北京航空材料研究院
  • 2023-04-24 - 2023-07-21 - G01N11/00
  • 本发明公开了一种高温合金流动性测试装置的蜡模、测试装置及其测试方法,该蜡模包括依次连接的陶瓷浇口杯、转接结构、半球形缓冲结构和三条螺旋线,所述三条螺旋线具有不同的直径;该测试方法包括以下步骤:将高温合金母合金锭和高温合金流动性测试装置放置于真空感应熔炼炉内;通电将高温合金母合金锭熔化后进行精炼处理,同时将高温合金流动性测试装置进行预热处理;将高温合金液体浇注到测试装置内;待浇注结束后断电,破真空出炉;通过测距计数半球统计三条螺旋线的填充长度,评价高温合金的流动性本发明通过对比相同铸造条件下三条不同直径的螺旋线的充填长度来比较不同高温合金的流动性及不同壁厚对高温合金流动性的影响,测试结果准确。
  • 高温合金流动性测试装置及其方法
  • [实用新型]一种LED泛光灯生产用高温测试-CN201922480452.5有效
  • 秦毅 - 唐山海王星照明设备有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-09-18 - G01R31/44
  • 本实用新型公开了一种LED泛光灯生产用高温测试机,包括机壳,机壳的一侧开设有高温测试腔、杂物放置腔和安装内腔,其中杂物放置腔位于高温测试腔的一侧,且安装内腔位于高温测试腔的下端,机壳的一侧且位于高温测试腔、杂物放置腔和安装内腔的一侧焊接连接有六个连接柱,机壳的一侧转动连接有第一柜门、第二柜门和两个第三柜门,且第一柜门、第二柜门和两个第三柜门的位置与高温测试腔、杂物放置腔和安装内腔的位置相对应,高温测试腔的内部焊接连接有保温层,保温层的内部焊接连接有恒温层,高温测试腔的内部焊接连接有两个放置层板。本实用新型通过一系列的设计使得装置能够有效的对LED泛光灯进行高温检测。
  • 一种led泛光灯生产高温测试
  • [发明专利]一种高温条件下测试行波抑制材料衰减性能的方法-CN202110338806.1有效
  • 王岩;汪勇峰;王焕青;肖志河;巢增明 - 北京环境特性研究所
  • 2021-03-30 - 2023-01-20 - G01N23/00
  • 本发明涉及一种高温条件下测试行波抑制材料衰减性能的方法,所述方法为:制备行波标准板与耐高温行波材料样板;验证测试系统的精度;通过时域测量方式先后测试行波标准板在常温下的点频RCS数据和耐高温行波材料样板在高温下的点频RCS数据;通过近远场变换的方法分别将行波标准板和耐高温行波材料样板在RCS测试场中获取的近场点频RCS数据变换成远场点频RCS数据;最后通过数据处理获得行波衰减率。本发明可以在高温条件下测试行波抑制材料的衰减性能,与以往的常温测试方法相比,本发明高温状态下的行波衰减性能测试可以更好地反映出耐高温行波抑制材料实际应用条件下的性能指标,进一步指导耐高温行波抑制材料的设计研制
  • 一种高温条件下测试行波抑制材料衰减性能方法
  • [实用新型]一种电源适配器检测用高温高湿测试装置-CN202020099783.4有效
  • 郭培华;苏颜伟 - 江苏凯源电子科技股份有限公司
  • 2020-01-17 - 2020-08-18 - G01M13/00
  • 本实用新型公开了一种电源适配器检测用高温高湿测试装置,包括高温高湿测试装置主体,所述高温高湿测试装置主体的下端外表面设置有固定底座,所述高温高湿测试装置主体的前端外表面设置有按钮、高温高湿显示表、散热吸潮机构与伸缩防滑夹机构,所述高温高湿显示表位于按钮的上端,所述伸缩防滑夹机构位于固定底座的下端,所述散热吸潮机构位于伸缩防滑夹机构的一侧,所述高温高湿测试装置主体的内部设置有高温高湿测试柜。本实用新型所述的一种电源适配器检测用高温高湿测试装置,设有散热吸潮机构与伸缩防滑夹机构,可以提高了人们的工作效率,还可以方便人们操作使用,使用方便,实用性强,带来更好的使用前景。
  • 一种电源适配器检测高温测试装置
  • [发明专利]一种高温引伸测量装置-CN202110914794.2在审
  • 马双伟;王慧;陈云超;贾淏然;冯硕 - 中机试验装备股份有限公司
  • 2021-08-10 - 2021-11-12 - G01N3/18
  • 本发明公开了一种高温引伸测量装置,包括设置于测试工位两侧的两组耐高温引伸杆和两套推动机构,两套推动机构可分别推动两组耐高温引伸杆以固定拉伸试样,每组耐高温引伸杆包括两根耐高温引伸杆,耐高温引伸杆与推动机构之间设有引伸计,耐高温引伸杆外周还设有位于引伸计和测试工位之间的挡热机构。推动机构和耐高温引伸杆对称地设置在测试工位的两侧,推动机构推动耐高温引伸杆伸出可完成拉伸试样的装卡。试验过程中,耐高温引伸杆受热产生的变形量较小,可减少测试的误差。同时,挡热机构设置在引伸计和测试工位之间,可有效隔绝热量,降低高温对引伸计的影响,从而进一步提高测试的准确性。
  • 一种高温测量装置
  • [实用新型]一种恒温测试装置-CN202222066837.9有效
  • 尹康;梁浩;刘义刚 - 深圳市华晶温控技术有限公司
  • 2022-08-05 - 2023-03-17 - H05B3/22
  • 本实用新型提供了一种恒温测试装置,包括本体,所述本体上设有高温测试台和低温测试台;所述高温测试台设有陶瓷加热组件,所述低温测试台设有半导体制冷组件。本实施例通过本体上设置高温测试台和低温测试台,通过陶瓷加热组件的作用,能够使得高温测试台保持恒定的温度,而通过半导体制冷组件能够使得低温测试台保持恒定的温度,从而便于用户对产品在不同温度下的性能进行测试,简单便捷;本恒温测试装置体积小,便于移动携带,更便于使用。
  • 一种恒温测试装置
  • [发明专利]高温老化测试系统-CN201610137595.4有效
  • 欧永明;吴大畏;李晓强 - 深圳市硅格半导体有限公司
  • 2016-03-10 - 2020-09-04 - G01R31/00
  • 本发明公开一种高温老化测试系统,所述高温老化测试系统包括存储设备、高温箱,还包括供电板、控制电路;所述存储设备,用于存储写入的老化测试程序,以及在上电后自动执行所述老化测试程序;所述供电板,用于对连接其上的所述存储设备进行供电;所述高温箱,用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热,以提供高温环境;所述控制电路,用于控制对所述供电板的供电。本发明实现了在高温老化测试中降低对资源的占用。
  • 高温老化测试系统

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