专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种新型耐高温电线电缆检测装置-CN202220210493.1有效
  • 卢演文 - 威海恒源信息技术有限公司
  • 2022-01-26 - 2022-09-02 - G01N3/08
  • 本实用新型提供一种新型耐高温电线电缆检测装置。所述新型耐高温电线电缆检测装置,包括基板、调节机构、喷焰机构和夹持机构,所述基板的顶部竖向固定连接有顶端为敞口的固定箱,所述固定箱的顶部横向固定连接有顶板。本实用新型提供的新型耐高温电线电缆检测装置,通过夹持对电缆固定,当需进行抗拉伸测试,两个电动滑轨驱动两个安装架相互远离进行测试,如对电缆进行高温后拉伸测试时,通过连接管向喷头中输送对位于固定箱内腔的电缆表面进行加热,然后重复拉伸测试步骤,当需进行高温测试时,通过喷头对电缆表面进行加热,进行测试避免同种电缆需多种测试装置进行检测,节省电缆测试所需的装置,可测试范围更广,满足不同的使用需求。
  • 一种新型耐高温电线电缆检测装置
  • [实用新型]冷热冲击试验箱-CN202220033879.X有效
  • 赵昌勤;汪国富 - 广东宏阔试验设备有限公司
  • 2022-01-07 - 2022-06-14 - G01N3/60
  • 本实用新型涉及一种冷热冲击试验箱,包括箱体,所述箱体内设置有测试箱、高温箱及低温箱,所述低温箱为两个,两个所述低温箱对应设于所述测试箱的两端,所述高温箱设于所述测试箱的一侧,所述高温箱内设置有加热器,所述低温箱内设置有制冷器及除霜器,所述高温箱与所述测试箱连通,两个所述低温箱均与所述测试箱连通。本实用新型通过测试箱、高温箱及两个低温箱的配合能实现长期无间断对测试物品进行冷热冲击试验,满足用户需求,实用性更强;另一方面由于能实现无间断对测试物品进行冷热冲击试验,这样用户使用起来更加便捷,且更能有效提高测试效率
  • 冷热冲击试验
  • [发明专利]一种耐高温新能源汽车电缆-CN202310859024.1在审
  • 闵润洲;常云德;周忠辉 - 安徽纵横高科电缆股份有限公司
  • 2023-07-13 - 2023-10-20 - G01N25/00
  • 本发明公开了一种耐高温新能源汽车电缆,包括汽车电缆以及位于汽车电缆外部的耐高温测试架,所述耐高温测试架的上方固定安装有顶部扭转测试组件;所述耐高温测试架包括由上至下依次设立的第一矩形外框以及第二矩形外框本发明提供一种耐高温新能源汽车电缆,通过该顶部扭转测试组件的设置,可用于对汽车电缆进行弯曲测试,普适性较好,且通过多个检测器的设置,用于对弯曲检测中的汽车电缆进行观测,适于汽车电缆的实际检测使用;本发明通过耐高温测试架的设置
  • 一种耐高温新能源汽车电缆
  • [发明专利]一种换挡用电磁阀高温可靠性测试装置及其方法-CN201410050224.3有效
  • 熊庆辉;顾宏弢;吕庆军;韩颜莹;罗小梅;梁润华 - 中国北方车辆研究所
  • 2014-02-13 - 2017-08-25 - G01M13/00
  • 本发明属于测试技术领域,为实现模拟多种换挡工况、高温工作环境下的换挡开关电磁阀的可靠性试验,本发明提供一种换挡用电磁阀高温可靠性测试装置及其方法,基于具有油液温度自动控制功能的液压性能试验台,设计电磁阀压力测试工装,根据所需模拟换挡工况,设计试验测控单元;根据测试需求,选取高精度电流传感器和耐高温压力传感器,设计试验测控单元和信号采集与处理单元,构建换挡用电磁阀高温可靠性测试装置,结合多种换挡工况模拟试验方法,较逼真地模拟换挡电磁阀实车恶劣工作环境,实现换挡电磁阀高温可靠性测试,完善换挡电磁阀优选与故障分析能力;本发明简单实用,保证测试装置满足换挡电磁阀高温可靠性能试验。
  • 一种换挡用电高温可靠性测试装置及其方法
  • [实用新型]一种可靠性测试板及系统-CN202222190972.4有效
  • 杨卫坤;周东 - 普冉半导体(上海)股份有限公司
  • 2022-08-19 - 2022-12-09 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种可靠性测试板及系统,包括:Socket模块、外围辅助测试模块;所述Socket模块和所述外围辅助测试模块通过内部布线连接;其中,当进行芯片的可靠性测试时,所述Socket模块位于所述高温测试烤箱内,所述外围辅助测试模块位于所述高温测试烤箱外,所述Socket模块放置所述芯片,所述外围辅助测试模块连接上位机以接收上位机的控制信号进行老化测试、带电测试。本实用新型所设计的测试板,提高高温老化测试连接可靠性和稳定性,同时大大提高测试板的使用寿命,节约测试成本。
  • 一种可靠性测试系统
  • [发明专利]高温环境下接近开关测试装置-CN201410381802.1有效
  • 冯强;王益山;党伟;周俊然;雷中清;王瑶 - 中国石油集团渤海钻探工程有限公司
  • 2014-08-05 - 2018-03-13 - G01R31/327
  • 本发明公开了一种高温环境下接近开关测试装置,其包括高温测试机构和常温操作机构,高温测试机构内部有接近开关、接近开关安装支架、感应片移动装置支架等,常温操作机构主要包括位移调节支架、千分尺等。在接近开关安装支架上安装有接近开关和可在拉力作用下移动、回弹的感应片;在位移调节支架上安装有可调节位移的千分尺;钢丝拉线一端连接高温烤箱内的感应片,另一端连接千分尺;本发明可以实现接近开关在高温环境下的安全测试高温环境下,接近开关的感应距离以及感应直径可以调节;适用于不同形式的接近开关进行高温环境下的测试;便于测试不同类型材料的感应片;高温区域与常温区域分离,便于安全操作。
  • 高温环境接近开关测试装置
  • [实用新型]一种高低温组合试验箱-CN201921790153.5有效
  • 陈昱燃;沈杰 - 重庆市安迪试验仪器有限公司
  • 2019-10-23 - 2020-06-19 - G01N3/60
  • 本实用新型公开了一种高低温组合试验箱,包括底部开有低温工作槽的低温箱和顶部开有高温工作槽的高温箱,低温箱底部沿其边缘周向设置有支持框,支持框一侧开有进出缺口,高温箱底部设置滑动式升降座,高温箱顶部设置有位于高温工作槽外围的固定夹板;工作时,高温箱从进出缺口移入支持框内,低温工作槽与高温工作槽对齐,固定夹板对检测试样夹设固定,滑动式升降座使高温箱向上移动使检测试样穿设在低温工作槽和高温工作槽之间;本实用新型与现有技术相比,能够方便、快捷的将检测试样同时置于高温和低温环境进行检测,以获得检测试样的抗高、低温性能。
  • 一种低温组合试验
  • [发明专利]高温运行测试的转接板、测试装置和测试方法-CN202211680412.5在审
  • 唐友运;顾红伟;胡晓辉;薛玉妮 - 深圳市时创意电子有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-06-06 - G01R31/28
  • 本申请公开了一种高温运行测试的转接板、测试装置和测试方法,转接板包括主电路板和切换模块;主电路板上设有EMMC测试区和UFS测试区,EMMC测试区和UFS测试区并排设置,EMMC测试区和UFS测试区分别放置EMMC芯片和UFS芯片;切换模块分别连接EMMC测试区和UFS测试区;其中,EMMC测试区内设有EMMC芯片转接电路模块,UFS测试区内设有UFS芯片转接电路模块;切换模块用于切换控制EMMC芯片转接电路模块和UFS芯片转接电路模块分别实现对工作,以实现EMMC芯片和UFS芯片的高温运行测试的信号转接。本申请一个转接板可以实现所述EMMC芯片和述UFS芯片两种芯片的高温运行测试,避免单一芯片对应单一转接板实现高温运行测试,避免制备转接板的材料浪费以及测试效率低下的问题。
  • 高温运行测试转接装置方法
  • [实用新型]一种用于测试CIS晶圆的高温测试设备-CN202121875855.0有效
  • 尹斌 - 苏州矽利康测试系统有限公司
  • 2021-08-11 - 2022-04-12 - H01L21/66
  • 本实用新型公开了一种用于测试CIS晶圆的高温测试设备,包括测试底座和多个测试探针,测试底座的中心位置设置有嵌入式测试槽且嵌入式测试槽上设置有多个测试孔,每个测试探针均能卡入到测试孔上,测试底座上还设置有多个卡接槽和连接孔组,多个卡接槽分别均匀的设置在嵌入式测试槽的四周,每个连接孔组均位于两个卡接槽之间,本实用新型的目的在于提供一种用于测试CIS晶圆的高温测试设备,结构简单,既能进行常温测试,又能进行高温测试
  • 一种用于测试cis高温设备
  • [发明专利]一种激光芯片测试分选机及其工作方法-CN202210449730.4在审
  • 邓艳汉;苏婷 - 泉州兰姆达仪器设备有限公司
  • 2022-04-27 - 2022-07-12 - B07C5/02
  • 本发明涉及一种激光芯片测试分选机及其工作方法,包括工作台,所述工作台上沿横向依次分布有取料工位、高温测试工位、低温测试工位以及分料工位,所述取料工位、高温测试工位、低温测试工位之间设有用于吸附住激光芯片并沿横向往复移动的上料机构;所述低温测试工位与分料工位之间设有用于吸附住激光芯片并沿横向往复移动的下料机构;所述取料工位设有位于上料蓝膜盘下方的顶针机构;所述高温测试工位设有高温测试机构,所述低温测试工位设有低温测试机构;所述分料工位设有分料机构本发明设计合理,可方便对单颗激光芯片进行多个参数测试,且对测试后的激光芯片进行分别放置,有效提高测试分选效率。
  • 一种激光芯片测试分选及其工作方法

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