专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学元件和光接收装置-CN200510009455.0无效
  • 太田达男;野崎隆;江黑弥生;小岛健 - 柯尼卡美能达精密光学株式会社
  • 2005-02-08 - 2005-08-24 - G02B1/11
  • 用于光接收装置的光学元件,其包括树脂制的基材、涂布在基材上并且具有低折射层和高折射层的防反射层,其中,上述树脂包括具有脂环式结构的聚合物,上述低折射层由从氧化硅、氟化铝、氟化钇、氟化镁、氧化硅和氧化铝的混合物、或这些的混合物中选取的材料形成,上述高折射层由从氧化钪、氧化铌、氧化镧、钛酸镨、钛酸镧、铝酸镧、氧化钇、氧化铪、氧化锆、氧化钽、氧化钽和钛的混合物、氮化硅、或这些的混合物中选取的材料形成。
  • 光学元件接收装置
  • [发明专利]一种用于光学镜头的光学镀膜材料及其制备方法-CN202111429889.1在审
  • 吴宪君 - 苏州晶生新材料有限公司
  • 2021-11-29 - 2022-03-08 - C04B35/14
  • 本发明提供了一种用于光学镜头的光学镀膜材料,由以下重量百分数的原料制备而成:纳米二氧化硅50~90%,氟化镁3~25%,氧化铝1~10%,五氧化二钽1~10%,氧化钇1~10%,二氧化锆1~5%。本发明的制备方法简单,制备得到的的光学镀膜材料用于光学镜头的光学镀膜材料采用纳米二氧化硅和氟化镁这两种低折射的材料,与五氧化二钽、氧化钇、二氧化锆三种高折射的材料相配合,添加了氧化铝这种中等折射的材料,制备得到一种光学镀膜材料,具有中等的折射,透过高,耐磨损、耐高温,化学稳定性好,使用在光学镜头上,可以满足不同的中等折射和较高的透过,同时还具有耐磨损的特性,可以延长光学镜头的使用时间。
  • 一种用于光学镜头镀膜材料及其制备方法
  • [发明专利]氨法脱硫吸收产物+4价硫氧化系统及其优化调控方法-CN201510464978.8有效
  • 贾勇;陈光;戴波;吴胜华;盛广宏 - 安徽工业大学
  • 2015-07-29 - 2017-03-22 - B01D53/78
  • 本发明公开了一种氨法脱硫吸收产物+4价硫氧化系统及其优化调控方法,属于大气污染治理技术领域。本发明中首先确定了氨法脱硫系统中的模型参数;输入上述模型参数,并设定一初始pH值、氧化空气量Q以及S4+和S6+的初始浓度,利用+4价硫的氧化模型计算浆液池内+4价硫的氧化;将计算得到的+4价硫氧化带入进行检验,若不成立,则调整和的值重新计算,直至成立,并将得到的氧化与工程中的设定值进行比较,并通过调整模型中的pH值、氧化空气量Q、和的值,使+4价硫的氧化能够满足工程要求。本发明中的氧化模型能够对氨法脱硫吸收产物+4价硫氧化系统的设计和运行提供理论指导,进而提高氨法脱硫技术的稳定性和经济性。
  • 脱硫吸收产物氧化系统及其优化调控方法
  • [发明专利]金属氧化层高温光学常数测量方法-CN201310095143.0有效
  • 符泰然;宗安州;刘江帆;谈鹏;汤龙生;周金帅;邓兴凯 - 清华大学
  • 2013-03-22 - 2013-06-19 - G01N21/71
  • 本发明涉及一种金属氧化层高温光学常数测量方法,其包括以下步骤:S1、提供多份具有不同厚度金属氧化层的氧化金属样品,分别测量多份氧化金属样品的金属氧化层的厚度;S2、利用高温光谱发射测量实验台,在真空环境下分别测量多份氧化金属样品的法向光谱发射;S3、根据各氧化金属样品的法向发射,建立光学常数数学模型,并以此计算出氧化金属样品的金属氧化层的光学常数。本发明通过采用高温光谱发射测量实验台测量具有不同金属氧化层厚度的氧化金属样品的高温法向光谱发射,可实现真空环境下的500℃以上高温氧化层光学常数测量,克服了传统测量技术易产生非真空环境下的样品氧化现象以及高温难于实现的技术局限性
  • 金属氧化高温光学常数测量方法

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