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[发明专利]用于管理转化线上的卷带材料中的缺陷的装置和方法-CN201980015464.0有效
发明人：悉达尔斯·罗希亚 -专利权人：洛希亚有限公司
申请日： 2019-07-05 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： B31B70/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于管理转化线上的卷带材料中的缺陷的装置。具体而言，该装置涉及识别卷带/卷带材料的有缺陷的区段，并在有缺陷的片材进入转化线的下游工艺(例如制袋)之前将其剔除。在本发明的一个关键方面中，缺陷管理装置包括缺陷检测单元(3)和缺陷管理控制单元(5)，缺陷管理控制单元(5)监控行进的卷带材料(1)上的缺陷的进程，并随后识别包含待切割缺陷的卷带材料区段，缺陷管理控制单元还与转化线控制单元通信，以选择性地操作将卷带材料切割成片材的切割单元。还公开了一种用于管理卷带材料中的缺陷的方法，包括以下步骤：检测卷带材料中的缺陷，识别包含缺陷的卷带材料片材/区段，并将其从生产线剔除。
用于管理转化线上材料中的缺陷装置方法

[发明专利]表征二维材料缺陷的方法及其应用-CN201910101478.6有效
发明人：刘大猛;刘欢;王婷;雒建斌 -专利权人：清华大学
申请日： 2019-01-31 - 公布日： 2020-11-24 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种表征二维材料缺陷的方法及其应用，涉及纳米材料缺陷表征技术领域。表征缺陷的方法包括：分别独立地对无缺陷的二维材料衬底样品和待测二维材料衬底样品进行荧光寿命成像，根据荧光寿命的变化判断有无缺陷：如果待测二维材料衬底样品的荧光寿命高于无缺陷的二维材料衬底样品的荧光寿命，则待测二维材料衬底样品为有缺陷样品；如果待测二维材料衬底样品的荧光寿命与无缺陷的二维材料衬底样品的荧光寿命相比无明显变化，则待测二维材料衬底样品为无缺陷样品。本发明采用荧光寿命成像方法表征二维材料缺陷，该方法能够快速、直观地观察荧光寿命变化，从而判断材料有无缺陷，在室温下即可表征，不会引入新的缺陷，是一种无损检测方法。
表征二维材料缺陷方法及其应用

[发明专利]一种复合材料缺陷评估方法-CN202010777231.9在审
发明人：刘雨生;王进;郑达;钟小丹 -专利权人：中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本申请属于复合材料缺陷评估技术领域，具体涉及一种复合材料缺陷评估方法，包括：使用超声无损检测设备对复合材料进行检测，得到复合材料的图谱；制作存在不同类型、等级缺陷的复合材料试样；使用超声无损检测设备对存在不同缺陷等级的复合材料试样进行检测，得到相应的图谱；比较复合材料的图谱、存在不同缺陷等级的复合材料试样的图谱，得到复合材料上存在缺陷的等级。
一种复合材料缺陷评估方法

[发明专利]材料缺陷检测装置，材料缺陷检测系统，材料缺陷检测方法和非暂时性计算机可读存储介质-CN201780066322.8有效
发明人：石川徹也;吉田英樹 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2017-10-23 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01N27/82 文献下载
摘要：提供了一种可以容易地估计材料缺陷的形状信息的材料缺陷检测装置、材料缺陷检测系统、材料缺陷检测方法和程序。一种材料缺陷检测装置，用于利用由磁传感器阵列测量的预定区域中的磁场分布来检测金属设备的预定区域中的材料缺陷，该材料缺陷检测装置设置有用于基于由磁传感器阵列测量的磁场分布计算预定区域中的磁偶极子的密度分布的磁偶极密度分布计算器，以及用于基于磁偶极子的密度分布计算预定区域中的材料缺陷的深度分布的深度分布计算器。
材料缺陷检测装置系统方法暂时性计算机可读存储介质

[发明专利]一种智能穿戴用硅胶材料的自动化检测方法、系统及介质-CN202210257407.7有效
发明人：黄新;湛建平;张玉辉;程立 -专利权人：深圳市杰美特科技股份有限公司
申请日： 2022-03-16 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种智能穿戴用硅胶材料的自动化检测方法、系统及介质，包括：获取硅胶材料的高光谱图像信息，对高光谱图像信息进行预处理，获取硅胶材料的光谱特征；构建硅胶材料缺陷检测模型，根据所述光谱特征通过硅胶材料缺陷检测模型获取目标硅胶材料的表面缺陷及内部缺陷；根据缺陷类型对含有缺陷的硅胶材料进行分类，判断含有缺陷的硅胶材料能否进行二次加工；同时根据智能穿戴设备的散热需求确定硅胶材料的厚度信息，并根据硅胶材料的实际温度变化对硅胶材料的厚度信息进行修正。本发明通过智能穿戴用的硅胶材料进行缺陷检测及散热可靠性检测，提高了检测效率，减少了硅胶材料的废品率。
一种智能穿戴硅胶材料自动化检测方法系统介质

[发明专利]一种磁性材料产品表面缺陷模拟方法及装置-CN202010299408.9有效
发明人：艾国;张帅 -专利权人：创新奇智（重庆）科技有限公司
申请日： 2020-04-16 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种磁性材料产品表面缺陷模拟方法及装置，所述方法包括：获取多组磁性材料产品的带缺陷表面图像及对应的缺陷掩码图；根据多组带缺陷表面图像及缺陷掩码图，裁剪得到多组带缺陷局部图像及对应的局部缺陷掩码图；根据多组带缺陷局部图像及局部缺陷掩码图，构建得到缺陷库；获取磁性材料产品的无缺陷表面图像；从缺陷库中选取目标缺陷图像及对应的目标缺陷掩码图；根据目标缺陷图像、目标缺陷掩码图及图像的结构相似性，在无缺陷表面图像模拟缺陷，得到模拟缺陷图像。本申请可在无缺陷表面图像模拟缺陷，得到模拟缺陷图像，为基于深度学习实现磁性材料产品表面缺陷检测的方式提供更多的训练数据。
一种磁性材料产品表面缺陷模拟方法装置

[发明专利]一种缺陷智能标记方法、装置、系统及存储介质-CN202310423567.9有效
发明人：葛铭;沈井学;魏江;李明 -专利权人：杭州百子尖科技股份有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： B41J3/407 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷智能标记方法、装置、系统及存储介质。该方法应用于缺陷智能标记系统，该系统包括缺陷检测设备、缺陷标记设备及控制器，包括：在目标卷状材料传输的过程中，当缺陷检测设备检测出目标卷状材料存在缺陷时，向控制器发送缺陷信号；当控制器接收到缺陷信号时，确定目标卷状材料的当前传输速度及当前缺陷位置；控制器根据当前传输速度、当前缺陷位置及预先存储的基准传输速度、初始补偿值及补偿系数，确定目标卷状材料的打标位置；当控制器检测到目标卷状材料传输至打标位置时，向缺陷标记设备发送打标信号；当缺陷标记设备接收到打标信号时，对目标卷状材料进行缺陷标记。本方案可提高对卷状材料的缺陷位置标记的准确性。
一种缺陷智能标记方法装置系统存储介质

[发明专利]一种陶瓷基复合材料基于网格空间映射的缺陷植入方法-CN202310335824.3在审
发明人：艾士刚;蒋仲禾;田玄鑫;张衡;赵桂成 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明公开的一种陶瓷基复合材料基于网格空间映射的缺陷植入方法，属于仿真模型缺陷植入领域。本发明实现方法为：材料缺陷通过CT图像数据真实映射至模拟仿真有限元模型中，增加材料真实模型的准确性，能够精确获取材料内部的缺陷位置信息并定位，提高对含缺陷陶瓷基复合材料的预测精度。通过有限元计算软件对搭建的材料模型进行网格划分，依次获取理想模型中的节点及单元信息，并统计出位于图像切片间的复合材料基体模型网格节点信息，创立节点数据集，将二值缺陷图像作为背景。结合bwboundaries函数识别缺陷边界，采用inpolygon算法判定缺陷区域内的缺陷节点信息，精准判定缺陷所在位置。通过定义k值判定，将缺陷单元原始数据置空，提高缺陷植入效率。
一种陶瓷复合材料基于网格空间映射缺陷植入方法

[发明专利]半导体结构与其制作方法-CN201910177053.3有效
发明人：李永亮;马雪丽;王晓磊;杨红;李超雷;王文武 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2019-03-08 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： H01L21/336 文献下载
摘要：该制作方法包括；在衬底的表面上设置缺陷层，缺陷层的材料与衬底的材料不同且缺陷层中包括晶体缺陷；在缺陷层的裸露表面上设置缺陷消除层，缺陷消除层包括多个叠置的量子阱，各量子阱包括至少两个结构层，量子阱中与衬底距离最大的结构层的材料与衬底的材料不同；在缺陷消除层的裸露表面上设置包括导电沟道层的沟道结构，缺陷层的材料包括导电沟道层的材料的至少部分元素，与衬底的材料不同的结构层的材料包括导电沟道层的材料的至少部分元素。该方法使得导电沟道层在较大的厚度范围内均不会产生缺陷，从而降低了导电沟道中的缺陷的数量，进一步保证了器件具有良好的性能。
半导体结构与其制作方法

[发明专利]一种二维材料缺陷调控与快速表征的方法-CN202210646481.8在审
发明人：陈令修;王德和;王宇彤;沈宝龙 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2022-06-09 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： G01Q60/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种二维材料缺陷调控与快速表征的方法，包括以下步骤：S1.制备二维材料：在非导体衬底表面进行二维材料的制备；S2.二维材料缺陷引入：将制备好的二维材料置于等离子体装置中，通入实验气体后利用等离子体对二维材料表面进行类型、密度与深度可控的缺陷引入；S3.二维材料缺陷的表征：在对二维材料进行缺陷引入后，使用原子力显微镜对其进行缺陷的快速分布表征与深度表征。上述技术方案中提供的二维材料缺陷调控与快速表征的方法，能够利用低功率等离子体辅助技术在二维材料表面进行缺陷深度可控引入，并能够对缺陷进行快速表征。
一种二维材料缺陷调控快速表征方法

[发明专利]一种碳纤维复合材料制造缺陷分类、定量评估方法及系统-CN202010921616.8在审
发明人：姜明顺;马蒙源;曹弘毅;张雷;张法业;隋青美;孙琳;王栋;田爱琴 -专利权人：山东大学;中车青岛四方机车车辆股份有限公司
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01N29/07 文献下载
摘要：本发明公开了一种碳纤维复合材料制造缺陷分类、定量评估方法及系统，包括：以获取的人工缺陷碳纤维复合材料样板的超声检测信号为训练集，对缺陷分类模型进行训练；对待测碳纤维复合材料进行超声预扫描，确定缺陷位置；对缺陷位置进行二次超声扫描得到的待测超声检测信号采用训练后的缺陷分类模型进行分类，确定缺陷类型。对碳纤维复合材料进行综合性的缺陷类型识别和定量检测，以具有缺陷的样板的超声检测信号训练缺陷分类模型，以缺陷分类模型确定缺陷类别，基于缺陷类型识别的结果，有针对性地进行缺陷程度定量分析，将缺陷类型识别和缺陷定量分析结合起来，为碳纤维复合材料的缺陷程度评估提供更加准确可靠的依据。
一种碳纤维复合材料制造缺陷分类定量评估方法系统

[发明专利]一种复合材料缺陷检测方法、装置、终端及可读介质-CN202111386145.6在审
发明人：杜怡君;邓禹;方泳皓;周军;谷琛;周松松;樊钰;黄瑞平;张学军;周勇;徐跃能 -专利权人：中国电力科学研究院有限公司
申请日： 2021-11-22 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种复合材料缺陷检测方法，并公开了具有该复合材料缺陷检测方法的装置、终端及存储介质。其中复合材料缺陷检测方法利用力锤法，预先测试目标复合材料所有常见缺陷类型对应的模态数据，然后通过检测待测目标的模态数据，反推待测目标的缺陷类型，替代了现有的复合材料缺陷检测方法。
一种复合材料缺陷检测方法装置终端可读介质

[发明专利]一种半导体材料点缺陷空位尺寸的检测方法-CN202211670410.8在审
发明人：樊文浩;朱华日;李辉 -专利权人：太原理工大学
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体材料点缺陷空位尺寸的检测方法，涉及半导体材料技术领域，具体为S1、半导体材料模型的构建S2、半导体材料缺陷模型的构建S3、孤立点缺陷正电子寿命的计算S4、半导体材料点缺陷空位尺寸的检测该半导体材料点缺陷空位尺寸检测方法是基于第一性原理计算正电子的淹没寿命，可以及其精确的检测出半导体材料点缺陷的空位尺寸。
一种半导体材料点缺陷空位尺寸检测方法

[发明专利]在电极材料中标记缺陷的缺陷标记装置及方法-CN201210030550.9有效
发明人：全笔句;李濬燮;崔在铭 -专利权人：三星SDI株式会社
申请日： 2012-02-10 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：一种在用于二次电池的电极材料上标记缺陷的装置和方法，该装置包括：传送单元，以受控制的传送速度提供电极材料；缺陷检测单元，检测连续传送的电极材料上的缺陷；缺陷标记单元，在包括缺陷的缺陷区域上贴附标记标签；和集成控制单元，共同地控制供给单元和缺陷标记单元，由此存在于电极材料上的各种类型的缺陷被检测，且用于提供可视标签的标记标签贴附操作自动执行。
电极材料标记缺陷装置方法

[发明专利]碳/碳化硅复合材料内部缺陷厚度测量方法-CN200910022596.4有效
发明人：梅辉;成来飞;邓晓东;张立同;王东;赵东林;陈曦 -专利权人：西北工业大学
申请日： 2009-05-19 - 公布日： 2009-10-14 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种碳/碳化硅复合材料内部缺陷厚度测量方法，设计并制备厚度梯度变化的缺陷材料标样，利用X射线照相检测标样，将照相底片扫描成电子图片得到其灰度图像；编程计算得到图像各缺陷区域与无缺陷区域灰度的比值，建立缺陷厚度与对应灰度比值标定函数关系式；再利用标定函数去计算同种材料在相同检测条件下缺陷的厚度，实现缺陷厚度的定量测量。本方法克服了传统X射线照相无损检测方法检测缺陷厚度过程中使用黑度计一次检测面积小、误差大、测量效率低等缺点，建立材料缺陷厚度与缺陷灰度和无缺陷灰度比值的标定函数关系，实现该种材料缺陷厚度的定量测量，检测效率高
碳化硅复合材料内部缺陷厚度测量方法

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