专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光电压产生器-CN99119375.X有效
  • 邱清彰;赖文聪 - 光磊科技股份有限公司
  • 1999-09-13 - 2001-03-21 - H01L31/068
  • 一种光电压产生器,包含一衬底;一绝缘,设置在衬底上;第一杂质扩散,设置在该缘上;第二杂质扩散,和第一杂质扩散在平行于衬底上表面的方向上交互配置,形成多个纵向pn接面;第三杂质扩散,其一端连接到第二杂质扩散,而另一端横跨一纵向Pn接面,延伸入第一杂质扩散;第四杂质扩散,连接到第一杂质扩散,且不连接第三杂质扩散,而第四杂质扩散至多横跨一纵向pn接面;以及薄膜电极和隔离层。
  • 电压产生器
  • [发明专利]半导体器件-CN200410001207.7无效
  • 本田浩嗣 - 松下电器产业株式会社
  • 2004-01-02 - 2004-08-04 - H01L29/866
  • 本发明的半导体器件,包括:形成在N型阱21表面的P型高浓度杂质扩散25、接着高浓度杂质扩散25而形成并将高浓度杂质扩散25包围起来的P型中浓度杂质扩散26、以及形成为将高浓度P型杂质扩散25及中浓度P型杂质扩散26包围起来的元件隔离区域22。高浓度P型杂质扩散25的杂质浓度比阱21的杂质浓度大,中浓度P型杂质扩散26的杂质浓度比阱21的杂质浓度大且比高浓度P型杂质扩散25的杂质浓度小。
  • 半导体器件
  • [发明专利]太阳能电池单元及太阳能电池单元的制造方法-CN201580081082.X在审
  • 森川浩昭;滨笃郎;幸畑隼人;过能慎太郎 - 三菱电机株式会社
  • 2015-07-02 - 2018-03-02 - H01L31/0687
  • 太阳能电池单元(1)具备p型杂质扩散(3),其形成于n型单晶硅基板(2)的一面侧;n型杂质扩散(10),其具有n型的杂质元素以第1浓度扩散的第1n型杂质扩散(11)和n型的杂质元素以比第1浓度低的第2浓度扩散的第2n型杂质扩散(12)、形成于n型单晶硅基板(2)的另一面侧、含有比n型单晶硅基板(2)高的浓度的n型的杂质元素;p型杂质扩散上电极,其形成于p型杂质扩散(3)上;和n型杂质扩散上电极,其形成于第1n型杂质扩散(11)上。第1n型杂质扩散(11)的表面的n型的杂质元素的浓度为5×1020atoms/cm3以上且2×1021atoms/cm3以下,第2n型杂质扩散(12)的表面的n型的杂质元素的浓度为5×1019atoms
  • 太阳能电池单元制造方法
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN03122525.X无效
  • 土井博之 - 松下电器产业株式会社
  • 2003-04-18 - 2003-10-29 - H01L29/788
  • 稳压元件是由通过由P型硅酮制成的半导体基片11中的元件隔离绝缘膜12区划成的活性区域10的上部形成的、N型杂质高浓度扩散制成的N型杂质扩散13,和在该N型杂质扩散13的下面由P型杂质扩散成的P型杂质扩散N型杂质扩散13及P型杂质扩散14是面对半导体基片11平行设置的两。通过该N型杂质扩散13和P型杂质扩散14之间的PN结形成二极管结构。P型杂质扩散14和元件隔离绝缘膜12相邻接部分的杂质浓度设定成低于在其余的部分的该杂质的浓度。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]太阳能电池单元及其制造方法-CN200980161091.4有效
  • 唐木田昇市 - 三菱电机株式会社
  • 2009-08-26 - 2012-05-30 - H01L31/04
  • 一种在半导体基板的一面侧设置了具有栅电极的受光面侧电极的太阳能电池单元的制造方法,包括:第1工序,在第1导电类型的所述半导体基板的一面侧,形成扩散了第2导电类型的杂质元素的杂质扩散;第2工序,在所述杂质扩散的面内的多个测定点,测定所述杂质扩散的薄膜电阻值;以及第3工序,与所述测定出的所述杂质扩散的表面的薄膜电阻值对应地,将所述杂质扩散的面内划分为多个区域,针对每个所述区域设定相邻的所述栅电极彼此之间的距离,在所述杂质扩散上形成与所述杂质扩散电连接的所述受光面侧电极
  • 太阳能电池单元及其制造方法
  • [发明专利]太阳能电池及太阳能电池的制造方法、太阳能电池组件-CN201280072636.6有效
  • 西本阳一郎 - 三菱电机株式会社
  • 2012-04-25 - 2016-11-30 - H01L31/0224
  • 所述太阳能电池具备:在一面侧具有第2导电型的杂质元素扩散了的杂质扩散的第1导电型的半导体衬底;在杂质扩散上形成了的由上述半导体衬底的材料的氧化膜构成的钝化膜;由具有与上述氧化膜不同的折射率的透光性材料构成、在钝化膜上形成了的防反射膜;与杂质扩散电连接而在半导体衬底的一面侧形成了的受光面侧电极;和在上述半导体衬底的另一面侧形成了的背面侧电极,杂质扩散包括:为受光区域且以第1浓度含有杂质元素的第1杂质扩散和为受光面侧电极的下部区域且以比第1浓度高的第2浓度含有杂质元素的第2杂质扩散,第1杂质扩散和第2杂质扩散的表面形成为均匀的表面状态,第2杂质扩散上的钝化膜的膜厚比第1杂质扩散上的钝化膜的膜厚还薄。
  • 太阳能电池制造方法组件
  • [发明专利]光伏装置及其制造方法、光伏模块-CN201280007788.8有效
  • 滨本哲 - 三菱电机株式会社
  • 2012-03-02 - 2013-10-23 - H01L31/04
  • 具备:第1导电类型的硅基板101,在一面侧具有扩散有第2导电类型的杂质元素的杂质扩散102;受光面侧电极105,具有与杂质扩散102电连接并且在硅基板101的一面侧隔开一定的间隔并列配置的多根栅格电极;以及背面侧电极104,形成于硅基板101的另一面侧,杂质扩散102具有以第1浓度包含杂质元素的第1杂质扩散102a、和以比第1浓度低的第2浓度包含杂质元素的第2杂质扩散102b,对于所述第1杂质扩散102a,将在所述硅基板的一面侧与受光面侧电极105的栅格电极的长度方向垂直的方向设为长度方向,并且第1杂质扩散102a相对带状区域的面积比率是50%以下,其中将第1杂质扩散102a中的与栅格电极的长度方向平行的方向的最大宽度设为所述带状区域的均等宽度,并且所述带状区域的长度方向的长度与第1杂质扩散102a的长度方向的长度相同。
  • 装置及其制造方法模块
  • [发明专利]半导体器件及制造方法-CN201210265575.7有效
  • 石黑哲郎;山田敦史 - 富士通株式会社
  • 2012-07-27 - 2013-04-10 - H01L29/778
  • 所述半导体器件包括:形成在衬底上的第一半导体,第一半导体包含杂质元素;形成在第一半导体上的第二半导体;形成在第二半导体上的第三半导体;以及形成在第三半导体上的栅电极、源电极和漏电极。在半导体器件中,第二半导体包括杂质扩散区,包含在第一半导体中的杂质元素扩散杂质扩散区中,杂质扩散区位于栅电极正下方并且与第一半导体接触,并且杂质元素使杂质扩散区成为p型杂质扩散区。
  • 半导体器件制造方法
  • [发明专利]半导体元件的制造方法和太阳能电池的制造方法-CN201980078538.5在审
  • 弓场智之;门田祥次;守屋豪 - 东丽株式会社
  • 2019-11-29 - 2021-07-23 - H01L31/18
  • 本发明的目的在于提供无需复杂的装置、能够利用简便的方法制造具有选择性发射极结构的太阳能电池、杂质浓度的面内均匀性优异的半导体元件的制造方法和太阳能电池的制造方法。用于达到上述目的的本发明为一种半导体元件的制造方法,该制造方法在半导体基板上以2个水平以上的不同杂质浓度形成相同类型的杂质扩散区域,其中,至少1个水平以上的杂质扩散区域通过包括:将杂质扩散组合物(a)涂布至半导体基板而部分地形成杂质扩散组合物膜(b)的工序;和将其加热以使杂质扩散至半导体基板中而形成杂质扩散区域(c)的工序的方法形成,杂质扩散组合物(a)包含(a‑1)具有特定结构的硅烷化合物的聚合物和(a‑2)杂质扩散成分。
  • 半导体元件制造方法太阳能电池
  • [发明专利]半导体器件-CN201510795235.9有效
  • 俞在炫;卢镇铉;金寿台;李炳烈;张成熏;全钟声 - 三星电子株式会社
  • 2015-11-18 - 2021-11-02 - H01L27/108
  • 半导体器件包括:基板,该基板包括具有第一掺杂浓度的第一杂质扩散区域和具有不同于第一掺杂浓度的第二掺杂浓度的至少一个第二杂质扩散区域,至少一个第二杂质扩散区被所述第一杂质扩散区域围绕;至少一个电极,面对第一杂质扩散区域和至少一个第二杂质扩散区域;和至少一个绝缘,在第一杂质扩散区域与至少一个电极之间以及在至少一个第二杂质扩散区域与至少一个电极之间。
  • 半导体器件

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